基于AD9978A双通道的CCD相机设计

基于ADI公司的双通道、14 bit串行输出图像预处理芯片(AFE)AD9978A设计了一套CCD黑白数字摄像机电路系统。系统采用Dalsa公司的1 024×1 024帧转移面阵CCD FTT1010M作为图像传感器,采用专用集成芯片DPP2010A作为时序发生器,以FPGA为控制核心,并应用LVDS接口完成图像输出。针对CCD双通道输出时通道间存在的不均匀性问题,使用AD9978A在电路上给出了改进,并系统研究了该芯片复杂的寄存器配置问题。经验证,该系统能在不添加任何均匀性校正算法的情况下,输出均匀性良好的双通道图像。     

扫描振镜幅频特性测试及位置标定的研究

介绍了扫描振镜及其驱动电路的结构特点,分析了位置信号在扫描振镜系统中的作用。利用数据采集系统对扫描振镜的幅频特性进行了测试,借助图像采集系统和图像处理方法对扫描振镜的位置进行了标定,验证了振镜系统中位置信号与振镜的偏转角的线性关系。     

一种实时消除望远镜图像旋转的方法

利用光线追迹的方法分析了地平式天文望远镜的几面反射镜在望远镜的竖直轴、水平轴转动时所引起的图像旋转,给出了目标图像旋转与望远镜高低方位角之间的函数关系式。并利用别汉棱镜转像的特性在成像光路中加入了实时图像消旋系统。经试验验证,在不同方位角、天顶距情况下采集的目标图像其消旋残差仅为25arcsec,即使在图像边缘处目标图像的消旋残差也小于0．2像素。     

薄型折反系统布局及金属主镜安装影响分析

对于含口径80 mm 的高次非球面金属主镜、主镜顶点到像面距离仅为17.5 mm 的薄型折反式光学系统,设计了带3 安装耳的主镜,并利用组件合并及周向同环交错前向安装的方式,在保证所有光机件顺利布局的基础上,有效增加了主镜镜体厚度提高了结构刚度。为分析金属主镜在安装应力下的面形,利用ANSYS 预紧力单元模拟螺钉连接的预紧力,在模态校核的基础上分析了主镜柔性支撑环板在不同厚度以及安装面不平时的波面变形。提出的轴向受限的主镜组件结构方案、安装应力变形的集成分析方法及解决方案,为提高主镜的装配面形精度以保证光学系统的成像质量提供了光机设计参考。     

考虑积分时间变量的红外系统辐射响应定标

辐射定标是红外系统辐射特性测量的基础。文中采用间接扩展源法对红外系统进行定标,分析了红外焦平面阵列探测元的响应模型以及响应特性与目标黑体辐射、积分时间的关系。提出了采用最小二乘法拟合得到红外焦平面像元响应灰度值对辐射量和积分时间的响应函数的定标算法。通过分析不同环境温度下的响应函数,进一步验证了其有效性。该方法可简化定标过程,节省定标时间。定标方程不仅可用于定量分析辐射定标的影响因素,而且有利于动态范围较大时的辐射测量。     

一种采用扫描振镜的背景实时扣除方法

针对目标辐射测量中通常采用的事后背景扣除的方法会造成目标辐射测量的不准确的缺陷,采用一种基于振动反射镜的目标辐射测量背景实时扣除的方法。振动反射镜以一定周期调制目标信号,使之成为时间域上的周期信号,再采用双路探测器差分方法,实时扣除背景辐射的影响。实验结果表明,该方法可以实时扣除强于目标信号208倍的背景辐射,将湮没在强背景辐射中的微弱的目标信号提取出来,相对测量误差在±1%之内。Realtimebackgrounddeduction     

刍议轨道交通变电所综合自动化和电力监控

随着城市的不断发展,人们对于交通的需求变得越来越高。现阶段,我国城市交通变得越来越拥挤,传统公交线路已经无法满足人们的出行需求,这在一定程度上影响了城市的发展。在这种情况下,城市为了改善自身的交通情况开始建设越来越多的轨道,形成轨道交通运行形式。这一交通形式在我国已经拥有几十年的历史,而人们对于轨道具体的运行原理和系统并不了解,因此本文就针对轨道交通中的变电所进行探讨,主要是对其中的电力监控系统和自动化系统进行分析,从而提高人们在轨道交通方面上的认识。     

红外吸收涂层与双向反射分布系数测试

分析了材料表面双向反射分布系数（ＢＲＤＦ）特性，并在红外波段λ＝１０．６μｍ，入射角ｉ＝０°、６０°情况下，取得了几种涂层样品ＢＲＤＦ的分布值，选出了符合红外光学系统杂光抑制要求的红外吸收涂层。     

基于点目标特征参数提取的红外多光谱设计

为了提高等效温度、等效面积的稳定性和分辨率,提出一种基于点目标特征参数提取的红外多光谱设计方法。首先,通过多光谱设计准则模拟仿真了多波段的抗误差能力,确定了光谱设计的影响因素。然后,根据红外辐射测量系统噪声分析,确定了光电导中波和长波探测器都达到最佳工作性能的条件。最后,根据波段信噪比估计和红外大气窗口确定了光谱的具体分布。性能分析结果表明,设计的光谱能在目标各种变化的情况下,使中波和长波协同工作,大大提高了等效温度、等效面积的稳定性和分辨率。     

红外光学系统杂光PST的研究与测试

介绍了表征光学系统抑制水平的定量指标——点源透过率ＰＳＴ．提出了红外光学系统杂光指标ＰＳＴ的一种测试方法，并在１０．６μｍ波长处，测试了口径为１８０ｍｍ的全反射Ｒｉｔｃｈｅｙ－Ｃｈｒｅｔｉｅｎ红外系统在不同入射角时的点源透过率ＰＳＴ（θ）．