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21.
介绍了一种基于软件无线电思想而设计的新型高精度中频信号数据采集卡的硬件设计方法。并通过实验证明,利用新方法设计的数据采集卡能很好地解决传统数据采集卡在信号处理带宽和数据传输速率方面存在的问题。  相似文献   
22.
大量声波测井数据的传输和存储迫切需要有效的压缩编码技术,文中把声波测井数据看成声波图像,利用提升算法构造整数小波变换,同时针对井下数据处理的实时性,提出了一种改进的SPIHT算法,并设计了一种适合井下数据处理的并行实现结构,实际应用表明该方法能够满足高速实时处理的需要.  相似文献   
23.
在改进的马尔可夫模型的基础上引入Z变换,分析了802.11的DCF机制 MAC延时性能,研究了从非饱和到饱和信道状态的延时性能。通过MATLAB数值分析和OPENT 10.0网络仿真,基于马尔可夫模型的MAC延时分析能够与网络仿真的MAC延时很好地吻合,验证了分析模型在预测媒介接入延时方面的有效性,为无线分布式系统的进一步设计提供理论依据和数据参考。  相似文献   
24.
基于最小二乘的TIADC通道失配估计   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对时间交替(ADC)系统通道增益、直流偏移及时钟延迟失配的估计问题,提出一种基于最小二乘的通道失配估计方法.该方法不需要额外硬件电路,消除了对通道数量的限制.最后,通过蒙特卡罗仿真比较了所提出的方法获得的通道失配方差与Cramer-Rao下界(CRLB),并对实际400 Msps/12bit高速数字化仪通道失配进行了测量.仿真与实验表明,该方法精确度高,精确度受通道量化误差、杂散及谐波失真影响较小,并且能够有效获得实际系统的通道失配.  相似文献   
25.
针对阵列声波测井中声波全波列信号的特点,设计了一种满足实际生产作业要求的井下信号采集与处理系统。该系统以80C186为控制核心,主要实现与地面系统的通信和整个井下系统的控制;采用多片TMS320VC5416构成多通道实时信号处理电路,用于实现数字滤波、波形叠加、首波到时提取等处理。同时,阐述了基于短窗-长窗能量比算法的首波提取技术及其实现。  相似文献   
26.
模拟电路故障诊断的邻近支持向量机集成方法   总被引:4,自引:0,他引:4  
提出了基于非对称AdaBoost算法与邻近支持向量机的模拟电路集成故障诊断方法。该方法采用非对称AdaBoost解决邻近支持向量机处理多分类问题出现的数据不平衡问题,提高邻近支持向量机的分类准确率;利用高斯变异策略自适应选择核函数及正则化因子,提高集成邻近支持向量机的个体间差异性;最后获得分类精度高和泛化性能好的分类器。通过对模拟电路的故障诊断实验,验证了该方法的鲁棒性和可行性。诊断结果表明本文方法具有故障定位准确和泛化性好的特点。  相似文献   
27.
建立了混合信号集成电路中衬底噪声对模拟电路影响的一种通用模型,在此基础上,提出了衬底噪声测试的一种新的连续时间直接测试方法。该方法采用差分放大器作为衬底噪声探测器,能测试频率高达1GHz的衬底噪声。  相似文献   
28.
基于模糊线性规划的模拟电路软故障诊断   总被引:2,自引:0,他引:2  
研究阐述了一种新的容差条件下基于模糊线性规划理论的模拟电路软故障诊断方法.通过灵敏度分析建立电路测试节点电压增量方程,确立各个元件的模糊隶属函数,从而建立起模拟电路故障诊断的模糊线性规划方程组.通过求解方程组来确定电路中各元件在一定故障情况下的最小变化量.在容差条件下,将方程组的解与各元件容差范围相比较来定位故障元件.从而,兼顾故障元件定位和故障元件参数偏移量确定.实验结果表明,该方法可以有效地实现模拟电路元件参数在一定容差范围内随机变化条件下的软故障诊断.  相似文献   
29.
无线随钻泥浆信号小波包去噪处理   总被引:2,自引:0,他引:2  
提出一种基于高阶统计量的小波包去噪新方法。该方法充分结合了小波包多分辨率分析和高阶量的抗高斯干扰特性:首先利用小波包多分辨率分析的特点去除泵噪声;接着计算小波包分解的各尺度的四阶累积量,从信号和噪声的统计特性出发进行信噪分离,有效滤除只含噪声的小波树节点;最后通过计算小波系数与信号的三重相关系数来对信号进行阈值处理,从而达到对信号进行降噪的目的。实际结果表明,基于高阶统计量的小波包去噪处理是一种行之有效的泥浆脉冲信号检测方法,具有一定的实用价值。  相似文献   
30.
容差条件下模拟电路软故障的数学规划诊断方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
为了诊断容差条件下模拟电路软故障,提出一种利用数学规划进行软故障诊断的方法。从电路灵敏度分析入手,建立节点电压增量方程。随后,将节点电压增量方程作为约束条件,将要处理的故障诊断问题转化成为数学规划(mathematical programming,MP)模型并且建立相应的数学规划方程。通过求解这些MP方程,估计待测电路中各元件参数的偏移程度。并由此判断待测电路中是否存在故障元件。  相似文献   
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