Structure and Properties of Electroless Ni Deposits

The changes in structure and the hardness of two electroless deposited Ni-P alloy coatings (with P content of 1.5 and 9.5 wt pct) with heat treatment have been studied by XRD and TEM. The deposits containing 1.5 wt pct P can be represented as an fcc NiP supersaturated solid solution of 5~10 nm microcrystallites. whereas the deposits containing 9.5 wt pct P are amorphous. The heat treatment process induces crystallization of amorphous Ni to Ni phosphides and fcc Ni.Both of the deposits reach maximum hardness after annealing at 400℃ for 1 h. All coated steel specimens are inferior in fatigue strength to uncoated steel specimens mainly due to the poor fatigue resistance of the coating itself     

电子聚合物基体碳纳米管复合材料研究进展

电子聚合物是一种新型的功能材料，碳纳米管具有优异的力学性能和独特的电学性能等，是聚合物基体复合材料的理想增强体，按不同电子聚合物基体类型进行了归纳，评述了电子聚合物基体碳纳米管复合材料的制备，性能和应用等情况。     

Viterbi译码器的硬件实现

介绍了一种Vkerbi译码器的硬件实现方法。设计的基于硬判决的Viterbi译码器具有约束长度长（9)、译码深度深（64)的特点。为了兼顾硬件资源与电路性能两个方面，在设计中使用了4个ACS单元，并根据Xilinx Virtex系列FPGA的结构特点．利用FPGA内部的BlockRAM保存汉明距离和幸存路径，提高了译码速度。     

粘土矿物对低渗透储层性质的影响——以鄂尔多斯盆地三叠系低渗透储层为例

粘土矿物是低渗砂岩储层的主要胶结物，对储层物性及开发过程中储层物性变化趋势有着重要的影响和控制作用。另外，粘土矿物也蕴含着大量沉积环境介质的物理化学信息，认识其自然规律，可以有效地指导预测有利储层，认识和改造油层。以鄂尔多斯盆地砂岩储层中的粘土矿物为研究对象，探讨分析粘土矿物对低渗储层性质的影响，该研究对含油气盆地低渗储层有效开发具有一定的参考价值。     

维修手记(一)——NC800柔性制造单元

俄罗斯产NC800柔性制造单元,采用日本FANUC-0MC数控系统,X、Y、Z三轴联动,交流伺服主轴。链式刀库可安装100把刀具,一个装卸台,一个旋转台站上有6个交换台板,一个B回转工作台(分度转台,每3度等分)。刀库、旋转台站、B台伺服电机的旋转采用PLC控制,融合了计算机技术、电气、机械、液压、气动系统,机械结构复杂,维修难度比较大。为了便于维修,对该机床的电机、电器元件数量作了统计,具体数目如下:a.交流进给伺服电机:6台;b.交流主轴伺服电机:1台;c.普通交流电机:11台;d.机械式限位开关:16只;e.感应式接近开关:46只;f.直流继电器(DC 24…     

适用于高速长途DWDM系统的色散管理线路

对于高速长途密集波分复用（DWDM）传输，必需采用各种各样的色散补偿、色散管理技术，其中，交替使用正负色散光纤构成色散管理线路（DML）是可行的解决方案之一，在国际上已经取得显著进展，正成为人们关注的焦点，国内在这方面的研究报道还少见.文章以高速长途DWDM系统对传输线路的性能要求为基础，综述了有代表性的3种不同类型的DML的特点和最新进展。     

Modular and rapid testing of SOCs with unwrapped logic blocks

Extensive research has been carried out for test planning of core-based system-on-a-chip devices. Most of the prior work assumes that all of the embedded cores are wrapped for test purpose. However, some designs may contain user-defined logic or cores that cannot be wrapped due to area constraints or timing violations. This paper discusses how these unwrapped logic blocks can be tested rapidly by adapting the TestRail architecture, which uses only the test control mechanism and the test instructions available through the IEEE 1500 standard for embedded core test. A new test scheduling algorithm, which facilitates a concurrent test of both unwrapped logic blocks and IEEE 1500-wrapped cores, is proposed, and experiments show that it outperforms a previous approach when the available number of tester channels and/or the number of unwrapped logic blocks are small.     

CMOS电路中抗Latch-up的保护环结构研究

闩锁是CMOS集成电路中的一种寄生效应,这种PNPN结构一旦被触发,从电源到地会产生大电流,导致整个芯片的失效。针对芯片在实际测试中发现的闩锁问题,介绍了闩锁的测试方法,并且利用软件Tsuprem4和Medici模拟整个失效过程,在对2类保护环(多子环/少子环)作用的分析,以及各种保护结构的模拟基础之上,通过对比触发电压和电流,得到一种最优的抗Latch up版图设计方法,通过进一步的流片、测试,解决了芯片中的闩锁失效问题,验证了这种结构的有效性。