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金属-n型GaAs界面物理特性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
利用I-V法和C-V法对由电镀形成的,和经不同温度热处理的(Ni/n-GaAs,Ni-Pd/n-GaAs,Pd/n-GaAs)肖特基结的主要物理参数进行了测量;并应用最小二乘回归法,编排了计算机程序,通过计算获得了比较精确的有关参数;同时还用俄歇电子能谱观察了这些样品中的金属与GaAs各组分的深度分布,及其不同深度下俄歇电子谱.研究结果表明,我们所采用的工艺能获得近理想的肖特基势垒,适当温度的热处理可进一步改善肖特基二极管性能.如果热处理高于这个适当的温度范围,则导致镓和砷的外扩散,二极管的性能也就明显劣化. 相似文献
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Ti-AlN界面组分分布的二次离子质谱研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用电子束蒸发方法在200℃的抛光AlN陶瓷衬底上淀积厚度为22nm的Ti膜,并在高真空中退火。利用二次离子质谱(SIMS)对样品进行了深度剖析,给出了Ti/AlN界面组分分布随退火温度和时间的变化关系。在界面区发现了铝化物及其他反应产物。结合卢瑟福背散射谱(RBS),X射线衍射分析(XRD)和Ti-Al-N三元相图推断,铝化物是Ti-Al二元和Ti-Al-N三元化合物。经850℃退火4h后其主要由Ti2AlN组成。 相似文献
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采用电子束蒸发方法,在200℃的抛光(1102)取向的蓝宝石(α-Al2O3)单晶衬底上淀积厚度为300nm的Mo膜。经870℃下不同真空退火时间处理后,运用MCs+-SIMS技术进行了深度剖析,并结合XRD物相分析,对Mo/A2O3界面问题进行了探讨。结果表明,在Mo/Al2O3界面处存在原子相互扩散形成的过渡层。退火处理后,过渡层展宽,有MoO2生成。延长退火时间,过渡层变化不大。 相似文献
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湖北仙桃市通海口粮管所附属粮油加工厂青年工人张厚荣,对原来糠油土榨机进行彻底改造,研制出一套新的米糠榨油装置。自88年8月份投产至11月底,已生产米糠油 相似文献
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用俄歇电子能谱详细研究了Ti/Al2O3的界面反应。通过观察Ti的L23M23M45,L23M23M23及Al的LVV俄歇发射强度、峰形及位置随深度变化,研究Ti-O,Al-O,Ti-Al等价键结合状态,同时考虑Al不同化合态俄歇峰的化学位移。选取特征峰,进行Auger深度分析。实验表明室温下Ti/Al2O3的界面已发生反应,Al—O键被还原,元素Al在界面析出。仅在600℃以上退火样品中存在Ti—A1价键结合状态。原子浓度分布曲线显示界面反应区域随退火温度增加而变宽变高。850℃时曲线上已形成平台。平台区的成分(原子百分浓度)为53%Ti,32%Al,约12%O。界面反应产物由Ti3Al,Al与固溶O组成,同时XRD分析在850℃样品上观察到了Ti3Al相的衍射线。 相似文献
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在大剂量氧注入硅形成SIMOX(SeparationbyIMplantedOXygen)的物理过程分析基础上,根据单原子衬底注入过程中溅射产额与核阻止本领的本质联系,首次得到O+对硅表面溅射产额与注入能量的简洁关系式,同时提出埋SiO2中的氧将主要向上界面扩散,排除了以前的作者在研究SIMOX材料各层厚度时采用拟合参数引起的计算不确定性.在考虑了主要的大剂量注入效应,如体积膨胀、表面溅射、氧在SiO2内的快速扩散等,得到氧在硅中的深度分布,经过超高温退火,认为氧硅发生完全的化学分凝,据此设计出快速计算大剂 相似文献