TbCo非晶垂直磁化膜的磁各向异性来源研究

采用不加偏压的磁控溅射法制备了带有和不带有金属Cr底层的TbCo非晶垂直磁化膜 ,并对TbCo非晶垂直磁化膜的磁各向异性来源进行了研究。理论分析结果表明 ,TbCo非晶垂直磁化膜的垂直磁各向异性主要来自于Tb离子的非球对称分布电荷与膜内晶场之间的库仑相互作用以及膜内的应力。扫描电镜的观测结果表明 ,带有Cr底层的TbCo薄膜具有柱状结构。柱状结构的存在导致了其磁各向异性的增强。     

磁超分辨(MSR)在磁光数据存贮技术中的应用

采用交换、静态耦合多层膜超磁分辨方法可以超越光学极限实现高密度磁光记录。本文系统地讨论了前孔探测磁超分辨、后孔探测磁超分辨、中孔探测磁超分辨和双罩探测磁超分辨的应用原理和发展前景     

（Dy,Gd）FcCo磁光记录薄膜温度特性的计算与分析

依据实验结果，运用平均场理论，计算了（Ｄｙ，Ｇｄ）ＦｅＣｏ磁光记录薄膜随温度连续变化时的饱和磁化强度Ｍｓ，得到了居里温度、补偿温度及Ｍｓ（Ｔ）随材料成分变化趋势图。这些结果对于研究磁光材料的温度特性及热稳定性具有一定的参考价值。     

磁光记录材料温度特性研究

分析了磁光记录的温度特点，提出了实现磁光记录介质的宽温化技术的措施.并用射频磁控溅射技术制备出使用温度在－30℃～＋80℃的宽温非晶磁性记录介质。     

钢丝绳磁检测中漏磁场的有限元分析

为了考察钢丝绳断丝产生的漏磁感应强度大小,为磁检测系统中传感器的设计提供依据,采用有限元法计算了钢丝绳断丝产生的漏磁感应强度。结果表明:钢丝绳断丝产生的漏磁感应强度是沿着远离钢丝绳表面的方向减小的,利用有限元分析可为传感器的设计提供理论依据和参考。     

磁光记录薄膜温度特性测量方法研究

光调制直接重写磁光盘为多层耦合膜,要求各功能层厚度很小,同时饱和磁化强度从很低,用一般的VSM测量系统的测定各功能层的Ms及其与温度的关系比较困难。我们采用了多种技术,包括隔震技术、仪器参数综合优化和误差分析等方法,提高了VSM测量灵敏度,成功测出了磁光记录薄膜各功能层的温度特性及其居里温度,取得了很好的效果。     

磁光特性测试系统的软件设计

磁光特性测试仪是用来测量磁光盘记录介质的磁光参数的仪器.详细讨论了在Windows操作系统下磁光特性测试系统的软件设计,简要介绍了磁光特性测试系统的测试原理.     

溅射工艺条件对TbFeCo/Pt薄膜磁性能的影响

采用射频磁控溅射法在玻璃基片上成功制得了TbFeCo/Pt非晶垂直磁化膜,系统研究了溅射工艺参数对TbFeCo薄膜磁性能的影响.振动样品磁强计测量结果表明:Tb含量在补偿成分点附近,采用较低的溅射氩气压与Pt底层,有利于提高TbFeCo薄膜的磁性能;当Tb含量为0.24,溅射功率为300W,溅射气压为0.53Pa,薄膜厚度为140nm时,TbFeCo/Pt薄膜矫顽力达到476kA/m,饱和磁化强度为151kA/m,剩磁矩形比超过0.8,该薄膜有望用作高密度光磁混合记录介质.     

磁控射频溅射法制备光波导薄膜研究

采用磁控射频溅射法制备了用作光波导器件的玻璃薄膜。通过选取不同的溅射材料,在不同溅射条件下制备的玻璃薄膜的光学参数进行的测量、比较,并对其作为光波导的性能进行研究,通过理论上推导与计算,得出了在１,５５ｕｍ窗口下制备光波导器件的玻璃薄膜所应具备的溅射条件。