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GexSi1—x/Si异质结大截面脊形BOA型光开关的模型分析及设计 总被引:1,自引:0,他引:1
本文提出了一种简便可行的GexSi1-x/Si异质结无间距定向耦合光开关(BOA型)模型分析方法。该方法采用等离子体色散效应分析了这种光开关的电学调制机理;采用异质结超注入原理分析了开关的电学性质;并根据大截面单模脊形波导理论和上述分析,设计了利用双模干涉机制工作的Ge0.1Si0.9/Si异质结BOA开关的结构参数和电学参数。 相似文献
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在研制成功GeSi全内反射型电光开关的基础上,对这种电光开关与GeSi/Si SLS红外传感器的集成可行性进行了深入探索。 相似文献
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pA量级质子束流测量系统 总被引:2,自引:0,他引:2
研制的质子束流测量系统,本底电流仅为10^-14A量级,可测最大电流达mA量级。在质子单粒子效应实验中,测得了pA量级的质子束及其随时间变化的关系,为半导体体器件粒子翻转截面的计算提供了必需的数据。 相似文献
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Ge_xSi_(1-_x)等离子体色散效应及电光调制器 总被引:1,自引:0,他引:1
在研究了Si的等离子体色散效应之后,我们预计GexSi1-x也会有这一效应。理论分析和实践的结果都表明GexSi1-x具有比Si更强的等离子体色散效应。 相似文献
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本文系统叙述了用于分析短沟道GaAs MESFET器件特性的二维稳态数值模拟通用软件。模拟中首次考虑了GaAs器件内部杂质的非均匀分布及短沟道效应,以使求解符合实际;为了加快模拟收敛速度及精度,采用改进的有限差分算法对短沟道GaAs MESFET功率器件进行了模拟计算,取得了与实验相一致的结果。本通用软件具有自动网格划分,自由格式输入及模块化结构等特点,可方便、准确地描述GaAs MESFET内部的物理图象,预测器件在不同偏置下的特性。 相似文献
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本文描述一种用LPCVD方法淀积Si3N4形成太阳电池减反射膜(AR)同时又制得高效率硅太阳电池铝合金高低结背面场(BSF)的新工艺。该工艺不仅简化了太阳电池的制作过程,即电池的AR和BSY一次形成,而且由于系统处于高真空,电池处在N2和H2的气氛中,所以改善了太阳电池发射区的表面特性。实验结果表明:为获得较好的电池性能,在完成电池的AR和BSF时,厚的铝膜,较高的淀积Si3N4温度以及在电池发射区表面生长80100的SiO2层是必要的。 相似文献
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从PIN波导探测器性能参数的定义出发,阐述了各类参数之间的内在联系,说明量子效率与带宽、灵敏度等物理量之间的矛盾现象。 相似文献