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数理化 | 128篇 |
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2022年 | 1篇 |
2021年 | 4篇 |
2020年 | 2篇 |
2019年 | 1篇 |
2018年 | 11篇 |
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1999年 | 5篇 |
1998年 | 1篇 |
1995年 | 1篇 |
1994年 | 1篇 |
1991年 | 2篇 |
1990年 | 1篇 |
1989年 | 1篇 |
1987年 | 2篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
1983年 | 2篇 |
1982年 | 1篇 |
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We report the observation of coincidence of three K-shell x-rays generated from the long-lived rhodium isomer excited by bremsstrahlung irradiation. Our previous report revealed that the E3 Moessbauer transition has anisotropic emission due to anisotropic gravitational acceleration [Chin. Phys. Lett. 22 (2005) 2530]. Now, from broader energy-resolved spectra, we further discover abnormal coincidences and abnormal sum energies of the three K-shell x-rays. The coincidence cannot be explained by currently understood photon statistics, since the measured trl-photon count and the pile-up estimate differ by three orders of magnitude. 相似文献
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引入人工压力变量,将弹性本构方程以应力、应变和压力表达,建立求解不可压缩平面弹性问题的位移-压力方程和不可压缩条件方程的耦合偏微分方程组。利用张量积型重心Lagrange插值近似二元函数,得到计算插值节点处偏导数的偏微分矩阵。采用配点法离散不可压缩弹性控制方程,利用偏微分矩阵直接离散弹性力学控制方程为矩阵形式方程组。利用插值公式离散位移和应力边界条件,将离散边界条件与离散控制方程组合为新的方程组,得到求解弹性问题的过约束线性代数方程组;利用最小二乘法求解线性方程组,得到弹性力学问题位移数值解。数值算例验证了所提方法的数值计算精度为10-14~10-10。 相似文献
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将不规则区域嵌入到规则的矩形区域,在矩形区域上将弹性平面问题的控制方程采用重心Lagrange插值离散,得到控制方程矩阵形式的离散表达式。在边界节点上利用重心插值离散边界条件,规则区域采用置换法施加边界条件,不规则区域采用附加法施加边界条件,得到求解平面弹性问题的过约束线性代数方程组,采用最小二乘法进行求解,得到整个规则区域上的位移数值解。利用重心插值计算得到不规则区域内任意节点的位移值,计算精度可到10-14以上。数值算例验证了所建立方法的有效性和计算精度。 相似文献
79.
Heavy ion induced upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory 总被引:1,自引:0,他引:1 下载免费PDF全文
Upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory induced by accelerated ~(129)Xe and ~(209)Bi ions are investigated in detail. The linear energy transfer covers the range from 50 to 99.8 Me V/(mg/cm~2). When the memory chips are powered off during heavy ions irradiation, single-event-latch-up and single-event-function-interruption are excluded,and only 0-1 upset errors in the memory array are observed. These error bit rates seem very difficult to achieve and cannot be simply recovered based on the power cycle. The number of error bits shows a strong dependence on the linear energy transfer(LET). Under room-temperature annealing conditions, the upset errors can be reduced by about two orders of magnitude using rewrite/reprogram operations, but they subsequently increase once again in a few minutes after the power cycle. High-temperature annealing can diminish almost all error bits, which are affected by the lower LET ~(129)Xe ions. The percolation path between the floating-gate(FG) and the substrate contributes to the radiation-induced leakage current, and has been identified as the root cause of the upset errors of the Flash memory array in this work. 相似文献
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RADFET~多通道探测器将要用来测量北京谱仪BESⅢ中量能器附近的累计剂量. 探测器的技术关键是对400nmIMPL RADFET剂量计具体性能的了解和掌握. 本工作以60Co γ源为辐射源, 实验研究了400nm IMPL RADFET剂量计的各项性能, 包括RADFET通道间的一致性、测量累积剂量时的辐照强度相关性以及退火特性等, 同时也讨论了测量数据的拟合方法, 为该类型RADFET剂量计在RADFET多通道探测器的设计、建造和其他方面的应用提供了实验基础. 相似文献