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951.
Control of the Metal–Insulator Transition at Complex Oxide Heterointerfaces through Visible Light
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952.
953.
954.
Fu‐Kwun Wang Yeneneh Tamirat 《Quality and Reliability Engineering International》2016,32(4):1281-1293
The new investigation of profile monitoring is focused mainly on a process with multiple quality characteristics. Process yield has been used widely in the manufacturing industry, as an index for measuring process capability. In this study, we present two indices and to measure the process capability for multivariate linear profiles with one‐sided specification limits under mutually independent normality. Additionally, two indices and are proposed to measure the process capability for multivariate linear profiles with one‐sided specification limits under multivariate normality. These indices can provide an exact measure of the process yield. The approximate normal distributions for and are constructed. A simulation study is conducted to assess the performance of the proposed approach. The simulation results show that the estimated value of performs better as the number of profiles increases. Two illustrative examples are used to demonstrate the applicability of the proposed approach. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
955.
Enhancing Interfacial Bonding between Anisotropically Oriented Grains Using a Glue‐Nanofiller for Advanced Li‐Ion Battery Cathode
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956.
High‐Performance Polymer Tandem Solar Cells Employing a New n‐Type Conjugated Polymer as an Interconnecting Layer
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957.
958.
Oriented Nano–Microstructure‐Assisted Controllable Fabrication of Metal–Organic Framework Membranes on Nickel Foam
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959.
960.
A High‐Performance WSe2/h‐BN Photodetector using a Triphenylphosphine (PPh3)‐Based n‐Doping Technique
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