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201.
提出了一种混合FPGA新结构--新颖的AND-LUT阵列结构.其创新之处在于由可编程逻辑簇(Cluster)和相关的连接盒(CB)组成的可编程逻辑单元片(Tile)可以根据应用需要灵活地配置成PLA或LUT,前者较适合于高扇入逻辑,后者较适合于低扇入逻辑.因此,结合两者优点的新颖AND-LUT阵列结构在实现各种输入的用户逻辑时都能保持很好的逻辑利用率.MCNC电路测试结果进一步表明,同一逻辑电路在文中提出的混合FPGA新结构中实现与在基于LUT的对称FPGA结构中实现相比,面积平均可节省46%,因而大大提高了FPGA器件的逻辑利用率. 相似文献
202.
一种新型的FPGA芯片FDP2008 总被引:1,自引:0,他引:1
A novel FPGA chip FDP2008 (Fudan Programmable Logic) has been designed and implemented with the SMIC 0.18μm CMOS logic 1P6M process. The new design method means that the configurable logic block can be configured as distributed RAM and a shift register. A universal programmable routing circuit is also presented; by adopting offset lines, complementary hanged end-lines and MUX + Buffer routing switches, the whole FPGA chip is highly repeatable, and the signal delay is uniform and predictable over the total chip. A standard configuration interface SPI is added in the configuration circuit, and a group of highly sensitive amplifiers is used to magnify the read back data. FDP2008 contains 20 ×30 logic TILEs, 200 programmable IOBs and 10 × 4 kbit dual port block RAMs. The hardware software cooperation test shows that FDP2008 works correctly and efficiently. 相似文献
203.
高速芯片设计中所有时序的容差都非常小,而互连延迟在整个时序预算中所占的比例随着速度的升高而变大。因此为了满足其高速性能,一方面要精确地定位电路各部分的延迟模,另一方面必须把实际布图后互连延迟信息返标到逻辑综合环境。文章结合BAP1024芯片的设计,对这方面进行了研究。 相似文献
204.
基于随机非线性微分方程的振荡器相位噪声研究 总被引:1,自引:0,他引:1
根据振荡器电路的时变非线性特性 ,运用一种通用的相位噪声理论 ,通过对噪声源随机过程建模 ,求解具有严格数学意义的随机非线性微分方程 ,得到一个常数 c来描述时间抖动和频谱扩散。分别用基于随机非线性微分方程和线性时变的方法求解 ,结果表明线性时变得到的相位噪声频谱在基频附近分布的能量之和超过载波能量 ,在物理意义上有一定不足 ;而文中的相位噪声分析结果表明相位噪声只改变能量的分布并不能使能量显著增加 ,得到的结果为设计电路时减少相位噪声影响提供了思路。 相似文献
205.
206.
207.
208.
针对传统电路板缺陷检测多为人工检测、速度较慢且成本较高的问题,本文研究设计了一款以图像处理为基础、利用现场可编程门阵列(FPGA)实现对电路板缺陷准确、高速的检测系统。在传统图像增强算法的基础上提出一种针对不同图像信息采用不同感兴趣区间的方法,增强效果显著;为减少电路板上标识字样对匹配算法计算速度的影响,提出一种去除丝印算法,将电路板上多余的标识字样取消,减少图像匹配的计算量,加快检测的速度;在传统绝对误差和算法(SAD)模板匹配算法的基础上采用去平均值法计算图像信息,减小光照变化带来的影响;将传统2算子Sobel边缘检测扩展到8算子边缘检测,边缘信息更加明显清晰。采用FPGA作为硬件平台,在Vivado开发环境下实现Verilog HDL硬件逻辑语言,下载到FPGA中实现。实验结果表明,系统的平均检测精度为98.53%,检测单张电路板的时间为8.204 s。本系统设计在检测精度和速度上都有明显提升,且造价成本低。 相似文献
209.
P+RE变质对过共晶Al-Si合金组织的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
采用P+RE对过共晶Al-Si合金进行复合变质。结果表明,P+RE复合变质对初晶硅和共晶硅均有很好的变质效果。五心瓣状初晶Si尺寸明显减小且棱角钝化,共晶Si由原来的长针状变为短杆状,微观组织得到明显的细化。同时也对P+RE的变质机理进行了论述。 相似文献
210.