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G.657A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤,和传统的G657.A1弯曲改善型单模光纤相比,它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-TG657A2标准,同时完全符合ITU-TG.652.D标准.与已经广泛铺设的G652标准单模光纤能无缝兼容.目前在国内阿-TH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G657.A2光纤1310nm处模场直径时,特别是测宏弯性能优异的G657,A2光纤时,如果仍然采用针对传统标准G652光纤测试条件:即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模的滤模器.并不总能有效滤除高阶模,当高阶模未完全滤除时,会出现测试光纤的模场直径比其真实的模场直径偏小的现象。本文通过试验的方法研究分析了高阶模对模场直径的影响和可能的消除办法。多个试验结果表明:图1b和图1cirri-示两种测试方法^[1]’完全能够满足国家标准、国际标准的测试要求,且两种方法测试模场直径的均值无显著差异(p〈005)。由于G.657.A2光纤标准要求λco≤1260nm,可以保证22m光纤或光缆试样的“对应截止波长”≤1260nm,故用图1c条件可测得正确的1310nm处MFD值。 相似文献
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