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小麦条锈病是导致小麦大规模减产的气传性病害,其传播扩散过程受多种因素影响,常用的作物病害气象预测模型难以准确模拟。为实现小麦条锈病发病率的精准预测,提出一种基于气象和遥感数据建立的SEIR-StripeRust动态预测模型。以甘肃省陇南地区为研究区,首先基于气象数据和MODIS遥感数据分别构建气象因子和植被指数,然后与发病率进行相关性分析筛选敏感因子并耦合基本感染率,进而建立SEIR-StripeRust模型,最后采用后向传播神经网络(BPNN)、支持向量回归(SVR)和多元线性回归(MLR)模型对比验证SEIR-StripeRust模型的有效性。结果表明:平均气温、相对湿度和归一化植被指数与小麦条锈病发病率显著相关,其建立的SEIRStripeRust模型预测精度最高,决定系数R2达到0.79,均方根误差RMSE为0.10,平均绝对误差MAE为0.09,均优于相同特征变量下的BPNN、SVR和MLR模型。研究结果表明SEIRStripeRust模型能够有效预测小麦条锈病发病率,并为县域尺度的小麦条锈病预测和精确防控提供技术支持。  相似文献   
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分辨率是度量地震资料品质的一个重要技术指标。提高纵向分辨率已从传统的采集处理方法逐渐过渡到以较小的空间波场采样率为主导的采集处理方法。近年来,人们对于小面元采集技术可提高纵向分辨率有两种认识:其一是认为在三维地震勘探中用来表示最高混叠频率与面元大小的关系式,可以表示面元大小与纵向分辨率的关系;其二是认为偏移处理可提高纵向分辨率。为此笔者用实际资料和物理模型正演系统地分析了面元大小与纵向分辨率的关系,指出了小面元本身并没有提高纵向分辨率,而它提高纵向分辨率的实质是通过面元叠加提高高频端信噪比,进而提高纵向分辨率。  相似文献   
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本文简要介绍PCM1739的特点、技术规范、引脚排列、基本连接方式和应用.  相似文献   
47.
TI的Burr-Brown开发的24比特/192kHz音频数/模变换器PCM1737是一种单片CMOS集成电路,它采用独特的增强型多比特△∑结构,该结构应用4阶噪声整型和8级幅度量化处理实现了极佳的动态特性并提高了时钟抖动容限。PCM1737接受采用16~24比  相似文献   
48.
本首先对美国国家半导体公司开发的无线电收发信机电路LMX3162做了简要的说明,然后着重介绍了其主要特点、电气性能、引脚功能和应用电路。  相似文献   
49.
C~3D(CMOS Color Captive Device)是新一代半导体成像技术,它不仅提高了像素设计技术,也改进了生产工艺。采用这种技术生产的0.25μm CMOS图像传感器能够在不牺牲性能的前提下增加晶体管的数量和占空因数(Fill Factor)。除了增加像素设计的选择方案之外,还可实现更为复杂的功能和更低的功耗,并且在速度方面也很有优势。  相似文献   
50.
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