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CAD/CAPP集成中的精度信息建模研究 总被引:2,自引:0,他引:2
精度信息是CAD/CAPP集成系统产品信息模型中不可缺少的重要组成部分,而精度信息的描述与建模是实现CAD/CAPP/CAM集成的瓶颈问题之一。本文在深入研究产品特征模型中精度信息及其表达的基础上,进一步提出将精度信息作为形状特征的附加属性,并通过引用几何链表将二者集成起来,形成一个能满足集成CAD/CAPP/CAM需要的产品信息模型。进而,详细探讨和实践了特征信息模型的处理方法,采用共享特征数值库存贮特征信息,并利用基于ObjectARX的数据库接口ASI(AutoCAD SQL Interface)技术的数据库的双向操作功能实现了CAD/CAPP各系统间的数据交换与共享,使CAD/CAPP在真正意义上的信息集成成为可能。 相似文献
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新一代GPS语言基于参数化几何学及向量代数等应用数学的方法,通过表面模型、要素、恒定类、恒定度、本质特征和方位特征等概念的引入和互补应用,实现了几何要素从定义、描述、规范到实际检验/认证过程中数字化控制功能的飞跃,比较有效地解决了产品在“功能描述、规范设计、检验/认证”过程中数学表达统一规范的难题。本文介绍了新一代GPS语言中所提出的要素、恒定类、特征等概念和定义,并讨论了它们的应用。 相似文献
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为了检测控制激光扫平仪垂直扫平面铅垂精度,对激光扫平仪垂直扫平误差进行了分析。利用球面三角形的正弦和余弦定理,推导了激光扫平仪垂直扫平面倾斜误差计算公式,建立了锥角误差和倾斜误差几何叠加的激光扫平仪垂直扫平误差数学模型,搭建了基于水平轴线对称布局的双光管专用检测装置,设计了先分项测量、后按数学模型叠加的激光扫平仪垂直扫平误差测量方案,并进行了测量试验验证。结果表明:采用所提方案获得的仪器不同姿态下垂直扫平误差测量结果的最大差值不超过6.3″,优于传统方案的16.5″,证明所设计的测量方案可行,构建的数学模型准确可靠。 相似文献
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为了对线边缘粗糙度(LER)和线宽粗糙度(LWR)进行分析和表征,采用电子束光刻工艺和感应耦合等离子体刻蚀工艺制备了两种纳米尺度栅线结构,用扫描电子显微镜(SEM)对所制备结构进行了检测和定性分析.基于离线SEM图像分析法提取了纳米栅线结构的线边缘轮廓.将所提取的线边缘轮廓视为随机信号,分别采用均方根偏差σ、偏斜度Sk、峭度Ku、高高相关函数和功率谱密度函数表征了LER/LWR的幅度特征、形状特征和空间特征,研究了LER/LWR各参数从光刻图形到刻蚀图形的变化,实现了LER/LWR的定量分析和表征. 相似文献
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现代产品几何技术规范(GPS)体系及应用分析 总被引:3,自引:5,他引:3
现代产品几何技术规范GPS(dimensional geometrical product specification and verification)是ISO/TC213针对产品的设计与制造而规定的一系列宏观和微观的几何技术规范,是所有机电产品的技术标准与计量规范的基础。随着全球经济的发展和科学技术的进步,尤其是随着CAD/CAM/CAQ(computer aided design/computer aided manufacture/computer aided quality)的应用和发展,新工艺、新技术、新材料的应用以及加工精度从微米到纳米的提高,ISO/TC213 GPS也随之发生了巨大的变化,已经由以几何学为基础的第一代GPS,发展到以计量学为基础的第二代GPS。文中在阐述ISO/TC213 GPS标准体系的形成、特点及发展趋势的基础上,对其构成思路及矩阵模型进行深入分析和研究,进一步揭示出其新一代GPS标准体系的构造模式规律及本质特征。 相似文献