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991.
矿井电网对地绝缘参数测量方法 总被引:3,自引:1,他引:2
对于煤矿井下中性点不接地的供电系统,其对地绝缘电阻和电容是决定供电安全条件的两个重要参数。过去所使用的直接测量方法,对人身和电器的绝缘都是非常危险的。在理论研究、实验室试验和对矿井电网的实测数据分析的基础上,提出了一种间接测量方法,只要能测量出电网的电源相电压、单相经电阻接地时的零序电压和该相的对地电压,以及电阻中的电流,便可应用这一方法计算出单机接地电流和对地绝缘参数。该测量方法简单、安全、可靠 相似文献
992.
基于半波傅氏算法的补偿电网接地选线保护 总被引:5,自引:1,他引:4
牟龙华 《华北电力大学学报(自然科学版)》2000,27(3):17-20
介绍了一种适用于中性点经消弧线圈接地电网的接地保护新原理,给出了基于半波傅氏算法的动作判据算法模型。该判据对接地故障具有很高的选择性能。 相似文献
993.
粉煤灰在建筑砂浆中的应用研究 总被引:3,自引:0,他引:3
目前,不少施工单位在建筑砂浆中掺入部分价廉的粉煤灰作为胶凝材料,取得了相当的经济效益和环境效益。1粉煤灰在建筑砂浆中的效应和作用1.1建筑砂浆的粉煤灰效应粉煤灰掺入砂浆后,会对砂浆的一些性能和特点发生影响,这就是粉煤灰效应。一般粉煤灰效应包括形态效应、活性效应和微集料效应三个基本方面。1.1.1形态效应所谓形态效应,泛指各种应用于混凝土和砂浆中的矿物质粉料,由其颗粒的外观形貌、内部结构、表面性质、颗粒级配等物理性状所产生的效应[1]。由于粉煤灰中大量微粒的作用,不仅可以降低砂浆的需水量,改善砂浆的初始结… 相似文献
994.
995.
996.
一种新颖的白光LED荧光粉测量系统和分析方法(英文) 总被引:2,自引:1,他引:1
为获得高效率的白光LED,得到荧光粉和芯片的最佳匹配,本文提出了一种新颖的白光LED荧光粉测量系统和分析方法.该方法根据荧光粉测量原理,采用单色光激发荧光粉,获得荧光粉的激发光谱特性.由单波长激发的光谱组合可以得到荧光粉的三维光谱特性,荧光粉光谱与LED芯片光谱匹配可以模拟白光LED光谱.分析了荧光粉在单波长及光谱激发条件下的效率.实验结果表明,该测量系统和分析方法可以确定荧光粉和兰光LED芯片的最佳匹配,从而为获得高效率白光LED奠定了良好的基础. 相似文献
997.
水利工程项目涉及面广、工程类别多,施工时间具有特定性,项目成本的变化较大。加强其成本管理可以促进企业经营管理,降低成本,提高效益,取得长期竞争优势,使企业在市场竞争中立于不败之地。 相似文献
998.
999.
氮化铝薄膜在力学、光学、声学等领域有着广泛的应用前景.研究沉积条件对氮化铝薄膜的结构、性能的影响具有重要意义. 采用纯铝溅射靶、在不同的N2流量比率条件下,采用中频脉冲磁控溅射在Si(001)衬底上制备出氮化铝薄膜.利用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、椭偏仪研究了N2流量比率对氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率的影响.研究结果表明,氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率与N2流量比率有明显的关系,当固定其它沉积条件时,改变N2流量比率会改变薄膜的沉积速率,当沉积速率发生突变时,薄膜的折射率、微观结构、表面形貌也发生相应的变化. 在实验结果的基础上结合反应沉积的表面动力学因素分析了反应气体中N2流量比率对氮化铝薄膜的表面形貌、微观结构、厚度和折射率的影响原因. 相似文献
1000.
氮化铝薄膜在力学、光学、声学等领域有着广泛的应用前景.研究沉积条件对氮化铝薄膜的结构、性能的影响具有重要意义.采用纯铝溅射靶、在不同的N2流量比率条件下,采用中频脉冲磁控溅射在Si(001)衬底上制备出氮化铝薄膜.利用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、椭偏仪研究了N2流量比率对氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率的影响.研究结果表明,氮化铝薄膜的微观结构、表面形貌、厚度和折射率与N2流量比率有明显的关系,当固定其它沉积条件时,改变N2流量比率会改变薄膜的沉积速率,当沉积速率发生突变时,薄膜的折射率、微观结构、表面形貌也发生相应的变化.在实验结果的基础上结合反应沉积的表面动力学因素分析了反应气体中N2流量比率对氮化铝薄膜的表面形貌、微观结构、厚度和折射率的影响原因. 相似文献