高精度扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙特性的研究

用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱。该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善。由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0．4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低。     

X射线透射ICT中射束能谱硬化修正

阐述了X射线透射CT中由于X射线束的硬化而对图像重建产生的影响 ,并说明了X射线在被测物质的衰减系数不仅与被测物质的密度有关 ,同时还是射线能量及位置坐标的函数 ,并给出数学表达式 ,为建立软件修正的数学模型奠定了基础     

扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙的研究

由于扫描隧道显微镜(STM)具有原子级分辨率,因而是迄今为止观察微米和更小尺度上表面三维形貌极其有效的工具.利用STM可以直接观察纳米碳酸钙的表面形貌、粒径大小、晶形、分散性以及纳米碳酸钙的隧道谱.分析了纳米碳酸钙的量子效应和宏观量子隧道效应.     

大范围扫描的高精度三维数显镜体的设计

介绍了一种新型扫描探针显微镜镜体的设计,该镜体的扫描工作平台可以在3个方向以每步10nm的精度移动,它突破了扫描探针显微镜中压电陶瓷对扫描范围的限制,采用非压电陶瓷机械传动装置实现了大范围扫描.该设计采用逐级定位扫描放大技术将纳米测量与纳米加工范围延伸到25mm×25mm,甚至更大,镜体设计已经获得国家实用新型专利(ZL02221502.6).将该镜体应用在STM和AFM上,实现了对样品的大范围扫描检测,并保证了测量的高精度.     

纳米绝缘材料的STM检测机理及其应用研究

分析了纳米绝缘材料薄层在适当的偏压电场下STM检测的机理,用自行研制的STM.IPC-205B型扫描隧道显微镜实现了对部分绝缘纳米材料微观形貌的检测,得到了理想的图像.拓展了STM检测加工技术的应用领域,进一步发挥了STM在材料结构和性能研究方面精度高、稳定性强等优势.     

我国首台层析γ射线机的性能及其应用

用于大尺寸、高密度物体的层析γ射线机XN-1300以60°以上的宽扇形束、高精度的机械扫描以及17路超高速采传系统为特征。系统的指标用几何卡与密度卡考核,结果证明其空间分辨率为2‰,灰阶数:8bits,并能分辨D=0.1mm的金属丝以及0.03mm×3mm×3mm的裂纹。用111×10~(10)Bq~(60)Co源测量一个断面历时30min。     

连续谱X射线在ICT中的散射修正

在X射线工业计算机断层扫描成像技术（ICT）中，连续谱X射线透射物质时，发生了光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。如未修正，必引起赝像。利用X射线透射物质时的X光子散射遵循的Compton散射强度方程，建立了连续谱X射线完整精确的散射修正模型及其修正方法。为有效去除连续谱X光子的散射造成的图像伪影提供比较完善精确的修正模型和修正方法。     

r射线工业CT中的若干校正

在ｒ射线工业ＣＴ的原始数据中包含了各种误差，须作校正。文献〔１〕给出了散射修正。本文研究了能谱硬化修正、采传系统的一致性校正、死时间校正以及扇形扫描中的镜象对称，并且给出了相应的数学模式。     

纳米磁流体磁性能与微结构特性关系研究

用水热法制备了Fe3O4纳米磁流体样品,测试了样品对磁场的响应度,利用原子力显微镜表征分析磁流体的微结构特征,观测了磁流体材料颗粒粒径大小及形貌,且重点分析了磁特性与微结构的关系。分析结果表明,制备的Fe3O4纳米磁流体粒径大小约为5.00nm;不同质量分数的配比影响着磁流体对磁场的响应度,质量分数为10%时的响应度最高;磁流体所表现的磁特性与链状微结构变化紧密相关,纳米颗粒在Fe3O4磁流体中的分布情况决定了其链状微结构的变化。