首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   432篇
  免费   21篇
  国内免费   21篇
工业技术   474篇
  2024年   2篇
  2023年   14篇
  2022年   8篇
  2021年   17篇
  2020年   5篇
  2019年   10篇
  2018年   18篇
  2017年   4篇
  2016年   9篇
  2015年   10篇
  2014年   35篇
  2013年   14篇
  2012年   39篇
  2011年   30篇
  2010年   14篇
  2009年   29篇
  2008年   21篇
  2007年   33篇
  2006年   23篇
  2005年   18篇
  2004年   16篇
  2003年   13篇
  2002年   11篇
  2001年   12篇
  2000年   9篇
  1999年   6篇
  1998年   6篇
  1996年   9篇
  1995年   5篇
  1994年   1篇
  1993年   5篇
  1992年   3篇
  1991年   5篇
  1990年   2篇
  1989年   2篇
  1988年   1篇
  1987年   5篇
  1986年   2篇
  1985年   2篇
  1983年   1篇
  1982年   2篇
  1981年   1篇
  1966年   1篇
  1964年   1篇
排序方式: 共有474条查询结果,搜索用时 375 毫秒
41.
掺气分流墩发展综述   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
42.
用模型试验和回归分析的方法研究了中、低Fr下,越过矩形分流墩、墩后通大气的急流。应用动量方程得到墩上游水跃旋流流态与急流飞越流态之间的界限Fr判别式。通过试验得到急流飞越而过流态下,墩下游无因次水深及墩体阻力系数分别与设墩处水流收缩比、同比和控制断面Fr之间的变化关系;墩上游和墩体壁压分布,论证了墩体在墩后充分通气时产生空化的可能性。  相似文献   
43.
研究了采用甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF-PECVD)技术沉积从微晶相向非晶相相变的过渡区p层,并将其作为电池的窗口层应用到高速沉积的非晶硅薄膜电池中。通过调整p层的沉积参数,获得不同p层的暗电导率从1.0E-8S/cm变化到1.0E-1S/cm,并获得了从微晶相向非晶相转变的过渡区p层。实验发现,电池的开路电压Voc随p层SiH4浓度的增加先增加后降低,当p层处在过渡区时达到最大;p层处在过渡区时电池的短路电流Isc和填充因子FF都得到了不同程度的提高。在p/i界面引入buffer层后,能进一步显著提高电池的FF和Voc。在过渡区p层作为电池窗口层,没有背反射电极,本征层沉积速率为1.5nm/s情况下获得效率达8.65%(Voc=0.89V,Jsc=12.90mA/cm2,FF=0.753)的高速非晶硅薄膜电池。比较了过渡区P层与P-a-SiC:H分别作为电池窗口层对于电池性能特别是FF的影响,由于存在结构演变的原因,FF对于过渡区P层厚度的依赖大于后者。  相似文献   
44.
采用射频等离子体增强化学气相沉积(RF-PECVD)技术,在125℃的低温条件下,沉积了一系列不同厚度的本征微晶硅(μc-Si)薄膜。对材料的光电特性和结构特性的测试结果表明,低温条件下制备的μc-Si薄膜具有较厚的非晶孵化层,并且纵向结构演变较为明显。采用梯度H稀释技术,在沉积过程中不断降低H稀释度,改善了μc-Si薄膜的纵向均匀性。将此技术应用于非晶硅(a-Si)/μc-Si叠层电池的μc-Si底电池,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)塑料衬底上制备出初始效率达到6.0%的a-Si/μc-Si叠层电池。  相似文献   
45.
采用反应热蒸发的方法,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)塑料衬底上制备In2O3:Sn(ITO)薄膜.鉴于塑料对温度的敏感性,详细研究了衬底温度对其上沉积的ITO薄膜的微观结构及光电性能的影响,在低温条件下(Ts=140℃)获得电阻率为7.52×10-4Ωcm,可见光范围内的透过率大于80%和结构特性良好的薄膜,并将其应用于PIN型太阳电池的前电极,获得了转换效率为4.41%的柔性非晶硅(a-Si)薄膜太阳电池.  相似文献   
46.
天津水泥工业设计研究院有限公司(以下简称天津院)在工程实践、试验及理论研究的基础上,通过对现有预分解系统的归纳总结和不断优化改进,开发了新型第三代预分解系统,该系统目前已应用于华润水泥(南宁)有限公司(以下简称华润南宁)1号生产线、山东丛林2号生产线、卫辉天瑞、大连天瑞、辽阳富山5 000t/d生产线、山东铝业2号及高安红狮2号3 200t/d生产线,系统投产之日即实现达标达产,有的生产线已经历了一年多的生产实践运行考核.  相似文献   
47.
低插损同轴型微波介质滤波器的设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
1/4波长同轴谐振器构成的微波介质带通滤波器,具有三个谐振孔、二个耦合孔,谐振器间通过耦合孔相互耦合,材料采用高介电常数微波陶瓷,器件表面涂覆金属电极。讨论了耦合孔半径对滤波器技术指标(中心频率f_0、3dB带宽B、插入损耗L_0、阻带抑制L_A等)的影响,然后根据给定的滤波器技术指标确定了滤波器的类型、结构、级数及尺寸,最后进行了仿真验证,得到了低损耗的带通滤波器。  相似文献   
48.
硅烷浓度对本征微晶硅材料的影响   总被引:6,自引:2,他引:4  
朱锋  张晓丹  赵颖  魏长春  孙建  耿新华 《半导体学报》2004,25(12):1624-1627
利用甚高频等离子体增强化学气相沉积技术沉积微晶硅材料.随硅烷浓度的降低,材料晶化率增加,材料的光学带隙在1.5~1.65eV之间,材料的电导率先增加后减小.采用光发射谱测量技术对辉光进行在线测量,研究沉积条件对VHF等离子体和微晶硅材料特性的影响.实验表明,等离子中的SiH*和H*α对微晶硅材料特性有重要的影响,硅烷浓度为2%~4%时,等离子体中H*α/SiH*的比值处于0.6~0.9,可以得到晶化率在40%~55%的微晶硅材料.  相似文献   
49.
在掺杂P室采用甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF—PECVD)技术,制备了不同硅烷浓度条件下的本征微晶硅薄膜.对薄膜电学特性和结构特性的测试结果分析表明:随硅烷浓度的增加,材料的光敏性先略微降低后提高,而晶化率的变化趋势与之相反;X射线衍射(xRD)测试表明材料具有(220)择优晶向.在P腔室中用VHF—PECVD方法制备单结微晶硅太阳能电池的i层和p层,其光电转换效率为4.7%,非晶硅/微晶硅叠层电池(底电池的p层和i层在P室沉积)的效率达8.5%.  相似文献   
50.
VHF-PECVD法制备P型微晶硅锗的研究   总被引:2,自引:2,他引:0  
以SiH4和GeF4为反应气体,采用甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF-PECVD)方法制备了P型微晶硅锗(P-μc-Sil-xGex)薄膜。研究GeF4浓度对P型微晶硅锗材料组分、结构及电学特性的影响。随GeF4浓度的增加,薄膜中的锗含量增加,暗电导和晶化率先增加,后减小;在薄膜厚度为72nm,GeF4浓度为4%时,得到了电导率达1.68s/cm,激活能为0.047eV,晶化率为60%,在长波区域的平均透过率超过0.9的P型微晶硅锗。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号