首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   2563篇
  免费   191篇
  国内免费   14篇
工业技术   2768篇
  2024年   6篇
  2023年   60篇
  2022年   123篇
  2021年   159篇
  2020年   107篇
  2019年   105篇
  2018年   109篇
  2017年   121篇
  2016年   131篇
  2015年   100篇
  2014年   159篇
  2013年   188篇
  2012年   209篇
  2011年   220篇
  2010年   134篇
  2009年   140篇
  2008年   121篇
  2007年   97篇
  2006年   81篇
  2005年   41篇
  2004年   46篇
  2003年   41篇
  2002年   32篇
  2001年   28篇
  2000年   23篇
  1999年   23篇
  1998年   29篇
  1997年   17篇
  1996年   7篇
  1995年   14篇
  1994年   6篇
  1993年   7篇
  1992年   10篇
  1991年   9篇
  1990年   14篇
  1989年   4篇
  1987年   3篇
  1985年   3篇
  1984年   2篇
  1983年   4篇
  1981年   4篇
  1979年   2篇
  1978年   2篇
  1977年   2篇
  1976年   3篇
  1975年   4篇
  1974年   3篇
  1973年   3篇
  1972年   4篇
  1971年   2篇
排序方式: 共有2768条查询结果,搜索用时 15 毫秒
71.
72.
73.
The degree of charge transfer in thin films of organic charge transfer (CT)-complexes, which are deposited via thermal evaporation, is examined via infrared-spectroscopy. We demonstrate a linear relationship between the shift in the excitation energy of the CN-stretching mode of CT-complexes with the acceptor 7,7,8,8-tetracyanoquinodimethane (TCNQ) and the charge transfer. The measured correlation corresponds very well with DFT calculations. For Na-TCNQ we observe a splitting in the peak of the CN-stretching mode, which can be explained by the coupling of two modes and was confirmed by the calculations. In CT-complexes with partial charge transfer the appearance of an electronic excitation is demonstrated.  相似文献   
74.
75.
76.
Software Product Lines (SPL) are difficult to validate due to combinatorics induced by variability, which in turn leads to combinatorial explosion of the number of derivable products. Exhaustive testing in such a large products space is hardly feasible. Hence, one possible option is to test SPLs by generating test configurations that cover all possible t feature interactions (t-wise). It dramatically reduces the number of test products while ensuring reasonable SPL coverage. In this paper, we report our experience on applying t-wise techniques for SPL with two independent toolsets developed by the authors. One focuses on generality and splits the generation problem according to strategies. The other emphasizes providing efficient generation. To evaluate the respective merits of the approaches, measures such as the number of generated test configurations and the similarity between them are provided. By applying these measures, we were able to derive useful insights for pairwise and t-wise testing of product lines.  相似文献   
77.
78.
79.
80.
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号