高层天台移动通信天线电磁辐射影响水平探讨

移动通信基站在高层建筑天台架设的定向天线，对周围环境的电磁辐射影响水平的监测进行分析，探讨高层建筑天台电磁辐射环境的污染防治对策。     

用RAFA方法定量解析芳烃混合物的EEM

本文介绍了降秩因子分析(RAFA)方法,它是从一个多组分混合物中直接定量计算其中某一组分,而不必知道其它组分的物种及含量的一种定量分析的数学方法。它适用于双线性的数据。本实验首先将荧光分光光度计与外接计算机相连,以获得样品的激发-发射矩阵(EEM),再用RAFA方法对蒽、萘、菲、芘、芴、(艹屈)六种标样的一至五组分的混合物进行定量分析,获得满意的结果。     

基于约束优化的联想记忆模型学习算法

本文提出了一种对称互连神经元网络的学习策略,利用全局约束优化方法确定连接权。优化过程采用了梯度下降技术。这种学习算法可以保证训练样本成为系统的稳定吸引子,并且具有优化意义上的最大吸引域。本文讨论了网络的存储容量,训练样本的渐近稳定性和吸引域大小。计算机实验结果说明了学习算法的优越性。     

用φ20mm离心萃取器两步法制取高纯钇

本文研究了中钇富镧稀土的氧化物溶液在环烷酸中的萃取行为，测定了镧钇组成、温度变化与分离系数的关系；在Ｐ＿（５０７）体系中研究了ｐＨ值与分配比的关系；提出用环烷酸、Ｐ＿（５０７）两种萃取剂制备高纯钇的工艺流程。用８４台φ２０ｍｍ离心萃取器进行了一个月的台架试验，结果证明两种萃取剂有很好的互补性，在满足钇的纯度要求下有较高收率。离心萃取器具有易分相、体系存留量少、液流密闭性好等优点，它更适宜于粘度大、级数多、产品纯度要求高的体系。     

X441对数放大器的原理及其应用

本文主要介绍X441单片对数放大器的基本原理和应用,并列举了一些具体应用电路。     

�Լӿ��Ĵ���Ȼ�����ܽ������ʶ

本文根据四川天然气产能建设多年的实践,分析了产能建设的特点和存在问题,着重强调了当前搞好产能建设应注意的几个问题,供决策和工作参考。     

地震复合波地质属性的研究方法

在地震资料解释中,地震复合波的地质属性问题一直没有得到很好地解决。本文针对松辽盆地砂泥岩薄互层的地质特点,提出了用波形合成追踪法研究地震复合波地质属性的方法。该方法在地震复合波正演合成过程中有五个可以识别的特征界面,其中 C 界面是地震复合波形成的主导界面;C 至 D 界面间的地层为形成地震复合波的主要地层。因此,找准 C 界面深度是建立地震复合波与钻孔地层间有机联系的关键,对地震地质层位准确标定和利用地震剖面复合波波形信息进行岩性预测极为重要。文中的应用实例表明,用该方法在松辽盆地较好地建立了地震信息与地质信息间的对应关系,解决了一些疑难地质问题,取得了较好的勘探效果。     

计算机网络远程通信系统软硬件设计与实现

本文介绍一种新型远程通信系统，它克服了一般远程通信系统速度慢的缺点，将通信速度提高了８０多倍，同时，其硬件比一般远程通信系统简单，成本只有一般远程通信系统的一半左右，进一步提高了新型远程通信系统的性能价格比。在新型系统中精简了远程通信协议，提高了信道有效利用率；采用了各种行之有效的数据压缩算法，并加以改造，使之性能最佳；提供了程序远程透明执行功能，大大提高了系统的响应速度。     

钇铁石榴石薄膜材料的光吸收谱及Bi,Al掺入对谱的影响研究

采用单离子晶场跃迁模型，拟合出钇铁石榴石（ＹＩＧ）薄膜材料的光吸收谱，与实验谱吻合得较好。从实验和理论上分析了（ＢＩＡＩ）ＹＩＧ 薄膜材料的光吸收谱，结果表明，Ａｌ３＋离子的作用如同稀释剂一样，减小了光吸收，Ｂｉ３＋离子由于其强的自旋轨道耦合作用，增大了跃迁振子强度和跃迁线宽，从而增大了光吸收损耗，在此基础上所作的（ＢｉＡｌ）ＹＩＧ的理论谱与实验谱符合得较好。     

Dynamic oxide voltage relaxation spectroscopy

A new method for trap characterization of oxidized silicon is described. The Dynamic Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (DOVRS) is an improved version of the formerly proposed Oxide Voltage Relaxation Spectroscopy (OVRS) technique which applies a periodic long duration constant current for tunneling injection. It has been demonstrated that the new technique can be used not only to separate and identify the oxide trap from interface trap, but also to separate and determine the centroid from the oxide trap density generated in the MOS system by the tunneling current stress. In the pulse constant current mode, the OVRS measurement can be completed instead of using the double current-voltage technique. Thus the new method results in more accurate and quicker measurements of the oxide trap centroid. Analytical expressions for computing the paramaters of the interface and oxide traps are derived. The effect of the channel carrier mobility on the spectroscopy is also considered. Two types of oxide and two types of interface traps were observed at a pulse constant Fowler-Nordheim current stress by the new method of DOVRS