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101.
冯登国  陈伟东 《计算机学报》2004,27(9):1170-1176
论文对两类“强壮”的门限密钥托管方案进行了系统分析,给出多种切实可行的攻击方法,指出它们都是不安全的.首先,主要利用“可信度”函数等方法首次奠定了对密钥托管协议的形式化分析基础.然后提出了对以上方案的两种阈下信道攻击,前者本质上属于“阴影会话密钥”攻击方法,后者则利用签名算法构造阈下信道.通过成功实施各种欺骗攻击,指出两类方案并未在真正意义上解决诸如“一次监听,永远监听”、用户密钥碎片有效认证及鉴别恶意托管方等问题.最后分析指出两类方案的“强壮性”值得商榷,并证明一些协议组件是不必要的.  相似文献   
102.
103.
为了提高42CrMo钢表面Ni基涂层的耐磨性能,利用感应熔覆工艺处理42CrMo钢的表面制得了具有不同TiB2含量的Ni基涂层,之后对该涂层实施了能谱、扫描电镜表征,同时对涂层硬度与耐磨性能进行了测试,比较了不同TiB2含量的镍基涂层在组织形态和性能方面存在的差异性。研究结果表明:微观形貌截面区域的组成结构包括扩散转移带、基体层、涂层共三层。当涂层内含有的TiB2比例到达15%时,熔覆涂层的组织尺寸达到最小状态。从外往内变化时涂层硬度逐渐降低,而且离扩散转移带的距离越小时对应的涂层硬度也越低。涂层磨损量也表现出了和摩擦系数相近的变化规律,都表现为随TiB2添加量的增加出现单调降低的变化,在TiB2添加量到达15%时,涂层磨损形貌中存在明显的麻坑和划痕。  相似文献   
104.
在偏铝酸钠-氢氧化钠-EDTA混合溶液中, 采用恒压模式对氢化锆表面进行微弧氧化处理。借助场发射扫描电镜(FE-SEM)、X射线衍射仪(XRD)及真空脱氢实验, 研究了不同正向电压(350~425 V)对微弧氧化膜层表面、截面、相结构及阻氢渗透性能的影响。分析结果表明: 微弧氧化过程大致由阳极氧化、火花放电、微弧氧化和熄弧四个阶段组成。制备的膜层分为致密层和疏松层, 致密层所占比例约为80%。随着正向电压的增大, 晶粒尺寸增大, 晶面间距减小, 氢化锆表面微弧氧化膜层厚度由122 μm增加至150 μm, 膜层的增长速度也随正向电压的增大而加快。但正向电压的改变对膜层的相结构并无显著影响, 膜层由单斜相氧化锆和四方相氧化锆组成, 当正向氧化电压为400 V时, 氧化膜的PRF值达到最大值20。  相似文献   
105.
以选取的环烷酸乙二醇酯模型化合物为基础,利用热力学方法分析其加氢脱氧反应发生的可能性。由于环烷酸乙二醇酯及双环环烷烃的结构复杂,无法直接获得其热力学数据,故采用基团贡献法估算了环烷酸乙二醇酯及双环环烷烃在298.15 K标准状态下的生成焓、标准熵及热容随温度的变化关系,进而得到不同温度条件下环烷酸乙二醇酯HDO的焓变、吉布斯自由能变及平衡常数。计算结果表明,环烷酸乙二醇酯的HDO反应在指定条件下为放热反应并可自发进行,且其平衡常数很大,可视为不可逆反应。该方法也可用于其它酯类物质HDO的热力学分析。  相似文献   
106.
带DKOM技术的软件加壳方案   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍一个在一般软件加壳方案上补充了随机及防跟踪的方法,并且针对现加壳技术的不足(忽略了解壳后的保护)而提出采用DKOM技术,它可以对正在执行的软件进程的信息进行隐藏,以防破解者趁软件在内存中运行时,把对应的内存进行转存成软件文件.  相似文献   
107.
农业在一个国家的经济中起着至关重要的作用,对人类文明有着广泛的贡献。随着传感器设备、RFID和Internet协议的不断扩展,物联网的体系结构已经支持农业发展向智能农业方向演进。本文介绍了各种物联网技术和智能决策支持系统在农业中的应用,对ANFIS和PLSR模型预测等方法和技术进行了广泛的综述,讨论了面对各种挑战的经验以及进一步优化的工作方向。  相似文献   
108.
通过分析东莞职业技术学院数字空间项目,探讨基于SNS技术网络社区构建的方式、管理制度与应用体系。  相似文献   
109.
根据国内已建成的钢管混凝土拱桥,构造了跨径为400m的六管拱肋钢管混凝土拱桥,运用通用有限元分析软件ANSYS建立空间有限元计算模型,分8种工况计算了该桥的动力特性和稳定安全系数,对比分析了横撑的位置、形式及数量等因素对这类型桥梁结构的动力性能和稳定性能的影响.计算结果表明,大跨度钢管混凝土拱桥的拱脚和拱顶必须设置横向联系,拱脚横撑对面内基频的影响不大,对面外基频和结构稳定性影响大,而拱顶横撑对面外基频、面内竖弯基频以及稳定性影响不大,但对扭转基频影响显著,另外,“K”撑对动力和稳定性能的影响比“米”撑显著,建议在不改变横撑数量的情况下优先采用“K”撑。  相似文献   
110.
目的利用微弧氧化表面处理技术,通过改变电解液成分,在ZrH_(1.8)表面原位制得一层致密的复合陶瓷层。方法通过在电解液中添加CeO_2颗粒,采用恒压模式对氢化锆(ZrH_(1.8))表面进行微弧氧化处理,利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、涂层测厚仪、涂层附着力自动划痕仪,分析陶瓷层表面和截面形貌、相结构、厚度及其与基体的结合力,通过Archimedes排水法对所制备陶瓷层的致密性进行定量分析。结果 CeO_2颗粒的添加有利于陶瓷层的生长,与不添加CeO_2颗粒所制得的陶瓷层相比,加入CeO_2后,陶瓷层的厚度有所增加,陶瓷层与基体的结合力由81 N增大至104 N。XRD分析表明,陶瓷层中出现CeO_2特征峰,可知CeO_2在微弧氧化过程中成功地吸附在陶瓷层表面。不添加CeO_2时,陶瓷层的孔隙率为14.22%;添加CeO_2后,陶瓷层的孔隙率降低至5.79%。结论 CeO_2颗粒的加入可有效提高基体ZrH_(1.8)与陶瓷层的结合力,降低了陶瓷层的孔隙率,使氢化锆表面微弧氧化陶瓷层的致密性得到改善。  相似文献   
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