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261.
当集成电路技术节点进入10 nm及以下,传统的铜(Cu)互连材料面临着阻容(RC)延迟高、电子散射强等问题,钴(Co)作为制程工艺中的新材料,以其更低的电阻率、更高的硬度和更低的平均电子自由程,成为了替代Cu作为互连材料的优选金属。化学机械抛光(CMP)是去除Co布线层多余材料,实现全局平坦化的唯一技术。而抛光液作为CMP工艺中最重要的耗材之一,其性能的好坏直接决定了晶圆的抛光效果和良品率。回顾了近年来钴互连金属材料的各种新型抛光液的国内外研究进展,讨论了不同化学添加剂对Co材料的去除速率、腐蚀抑制和表面质量的影响。同时总结了钴互连CMP抛光液面临的挑战及发展方向。  相似文献   
262.
本试验研究了不同掺量纳米SiO2对混凝土力学性能的影响,并采用XRD手段对其改善机理进行了分析.试验结果表明,适量的纳米Si02可以提高混凝土的抗压强度,并根据试验分析得出当混凝土中纳米Si02掺量为2.5%时混凝土抗压强度达到最大.试验采用单因素设计,根据需要采用正交多项式回归,并得出拟合方程为二次时最好.  相似文献   
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