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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
用分子束外延方法在GaAs(100)衬底上成功生长了高质量的Zn1-xMnxSe/ZnSe(x=0.16,x=0.14)超晶格结构,用X射线衍身 喇曼散射对其结构,应变分布以及光散射性能进行了研究,江超晶格的总厚度大于最度是格将完全弛豫至一个新的平衡晶格常数,此时在(100)平面,ZnSe阱层受到张应变,而Zn1-xMnxSe垒层受到压变应。从而,导致其喇曼光谱中,ZnSe Zn1-xMnxSe垒  相似文献   

2.
用分子束外延法在GaAs(100)衬底上生长了高质量的四元合金Zn(1-x)MgxSySe(1-y)薄膜.在对所生长的样品进行俄歇电子能谱、X射线衍射和喇曼散射研究后,提出了一种确定四元合金Zn(1-x)MgxSySe(1-y)组分的方法,即:利用ZnSySe(1-y)和化学配比的MgSe作为标准样品,通过X射线衍射和喇曼散射测得标准样品ZnSySe(1-y)中的S组分,再根据ZnSySe(1-y)和MgSe的俄歇谱图,对各元素的相对灵敏度因子进行修正,然后利用相对灵敏度因子法比较精确地走出四元合金Zn(  相似文献   

3.
采用紧束缚方法计算了生长在GexSi1-x(001)衬底上的应变GaAs层带间光跃迁的振子强度以及三次非线性光极化率,讨论了振子强度及三次非线性光极化率随衬底合金组分x的变化关系。计算结果表明:对所有x值,及随x的变小而变小;及随x的变小而变大。对n型GaAs/GexSi1-x(001),应变使和变小;对p型GaAs/GexSi1-x(001),应变使变大,但使变小。  相似文献   

4.
用分子束外延法在GaAs(100)衬底上生长了高质量的四元合金Zn1-xMgxSySe1-7薄膜,在对所生长的样品进行俄歇电子能谱、X射线衍射和喇曼散射后,提出了一种确定四元合金Zn1-xMgxSySe1-y组分的方法,即:利用ZnSySe1-y和化学配比的MgSe作为标准样品,通过X射线衍射和嘈曼散射测得标准样品ZnSySe1-y中的S组分,再根据ZnSySe1-y和MgSe的俄歇谱图,对各 相  相似文献   

5.
对用原子层外延方法,在[001]晶向GaAs衬底上生长的[(Cdse)m(Znse)n]p-ZnSe应变量子阱结构,在10~300K温度范围内测量了喇曼散射光谱,观察到两种类ZnSeLO声子限制模.利用改变样品温度和入射光能量实现了共振喇曼散射,观察到高达7阶的类ZnSeLO声子模.并讨论了多声子喇曼散射和热萤光过程的区别.  相似文献   

6.
陈根祥  李洵  简水生 《半导体学报》1994,15(12):844-849
本文运用R.A.S(RegularAssociatedSolutions)模型的基本原理,导出了简明的适用于AⅡ-BⅥ-CⅥ三元系富Ⅵ族区的液固平衡方程.并由此计算了Zn-Se-Te三元系富Te区的液固平衡曲线,计算结果与已有的实验数据符合.最后,对ZnSe0.52Te0.48在(100)InP衬底上的液相外延生长进行了实验研究.  相似文献   

7.
本文用Linearized-Muffin-Tin Orbitals能带方法,计算GaAs衬底上(ZnS)n/(ZnSe)n(001)超晶格的能带结构。计算中采用外加调整势进行带隙修正,从而得到较准确的能带结构和波函数。在此基础上计算了超晶格系统的光学介电函数虚部ε2(ω)。结果表明,该超晶格系统的光学性质结合了ZnS和ZnSe体材料光学性质的特点,在相当宽的能量范围内有较好的光谱响应,并且该超晶格  相似文献   

8.
p型Si1—xGex应变层中重掺杂禁带窄带的计算   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对应变Si1-xGex的应变致价带分裂和重掺杂对裂值的影响,提出了该合金价带结构的等价有效简并度模型。模型中考虑了非抛物线价带结构。应用这个模型,计算了赝晶生长在〈100〉Si衬底上的p型Si1-xGex应变层的重掺杂禁带窄带,发现当杂质浓度超过约2 ̄3×10^19cm^-3后,它在某一Ge组分下得到极大值,而当掺杂低于此浓度时,它则随Ge组分的增加单调下降。与实验报道的对比证实了本模型的有效性  相似文献   

9.
本文提出了应变Si1-xGex价带结构的等价有效简并度模型.借助这个模型,计算了赝晶生长在(100)Si衬底上的P型Si1-xGex应变层的重掺杂禁带窄变,发现当杂质浓度超过约2~3×1019cm-3后,它在某一Ge组分下得到极大值,而当掺杂低于此浓度时,它则随Ge组分的增加单调下降.与实验报道的对比证实了本模型的有效性.  相似文献   

10.
用分子束外延方法在GaAs(100)衬底上生长了Zn1-xMgxSe(0≤x≤1)三元半导体合金薄膜.在室温下测量了这些样品的红外反射光谱.采用介电函数的经典色散理论,并且考虑衬底的影响后,计算了样品的红外反射光谱并与测量结果作了比较.我们发现对于x<0.2,0.2<x<0.5和x≥0.5三种不同情形,反射光谱表现出不同的结构.  相似文献   

11.
Hg1-xCdxTe长波光伏探测器的低频噪声研究   总被引:2,自引:2,他引:0  
在同一Hg1-xCdxTe晶片上(x=0.217)制备了单层ZnS钝化和双层(CdTe+ZnS)钝化的两种器件,对器件的低频噪声和暗电流进行了测试.发现单层钝化的器件在反偏较高时具有较高的低频噪声,在对器件的暗电流拟合计算中发现,单层钝化的器件具有较大的表面隧道电流,而这正是单层钝化器件具有较高低频噪声的原因.并通过高分辨X射线衍射中的倒易点阵技术RSM(reciprocal space mapping)研究了两种钝化对HgCdTe外延层晶格完整性的影响,发现单层ZnS钝化的HgCdTe外延层产生了大量缺陷,而这些缺陷正是单层钝化器件具有较高的低频噪声和表面隧道电流的原因.  相似文献   

12.
用分子束外延方法在GaAs(100)衬底上生长了高质量的ZnSe/ZnSxSe1-x(x=0.12)超晶格结构,通过X射线衍射谱和光致发光谱,对其结构特性和光学特性进行了研究。结果表明:在4.4K温度下,超晶格样品显示较强的蓝光发射,主发光峰对应于阱层ZnSe的基态电子到重空穴基态的自由激子跃迁,而且其峰位相对于ZnSe薄膜的自由激子峰有明显蓝移。从理论上分析计算了由变就和量子限制效应引起的自由激妇峰位移动,理论和实验结果相吻合。  相似文献   

13.
用分子束外延方法在 Ga As(10 0 )衬底上生长了高质量的 Zn Se/ Zn Sx Se1 - x(x=0 .12 )超晶格结构 ,通过 X射线衍射谱和光致发光谱 ,对其结构特性和光学特性进行了研究 .结果表明 :在 4 .4 K温度下 ,超晶格样品显示较强的蓝光发射 ,主发光峰对应于阱层 Zn Se的基态电子到重空穴基态的自由激子跃迁 ,而且其峰位相对于 Zn Se薄膜的自由激子峰有明显蓝移 .从理论上分析计算了由应变和量子限制效应引起的自由激子峰位移动 ,理论和实验结果相吻合  相似文献   

14.
朱宁 《光电子.激光》1998,9(4):291-293
根据不同的感光胶片对特种波长光感光灵敏度低和电致发光单色性的特点,研制出系列暗室照明光源和显示器件。研究方法是改变Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体的禁带宽度和杂质能级深度。首先做出单色光,再加有机染料使光谱窄化,使达到安全照明与显示的目的。  相似文献   

15.
核/壳结构ZnS:Mn/ZnS量子点光发射增强研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用水溶性前驱体材料在水性介质中制备了ZnS:Mn和ZnS:Mn/ZnS核/壳结构量子点(QDs,quantum dots),并用X射线衍射(XRD)、光致发光(PL)对ZnS:Mn和ZnS:Mn/ZnS核/壳结构QDs的结构和发光性能进行研究.ZnS:Mn和ZnS:Mn/ZnS QDs XRD谱与标准谱吻合,根据De...  相似文献   

16.
王彩凤 《光电子.激光》2010,(12):1805-1808
用脉冲激光沉积法(PLD)在多孔硅(PS)衬底上生长ZnS薄膜,分别在300℃、400℃和500℃下真空退火。用X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)研究了退火对ZnS薄膜的晶体结构和表面形貌的影响,并测量了ZnS/PS复合体系的光致发光(PL)谱和异质结的I-V特性曲线。研究表明,ZnS薄膜仅在28.5°附近存在着(111)方向的高度取向生长,由此判断薄膜是单晶立方结构的-βZnS。随着退火温度的升高,-βZnS的(111)衍射峰强度逐渐增大,且ZnS薄膜表面变得更加均匀致密,说明高温退火可以有效地促进晶粒的结合并改善结晶质量。ZnS/PS复合体系的PL谱中,随着退火温度升高,ZnS薄膜的自激活发光强度增大,而PS的发光强度减小,说明退火处理更有利于ZnS薄膜的发光。根据三基色叠加的原理,ZnS的蓝、绿光与PS的红光相叠加,ZnS/PS体系可以发射出较强的白光。但过高的退火温度会影响整个ZnS/PS体系的白光发射。ZnS/PS异质结的I-V特性曲线呈现出整流特性,且随着退火温度的升高其正向电流增加。  相似文献   

17.
A facile ligand exchange approach for surface‐functionalized ZnS nanoparticles (NPs) with 5‐(2‐methacryloylethyloxymethyl)‐8‐quinolinol (MQ) is described. The MQ–ZnS NPs, with a cubic crystal structure, have the same diameter as ZnS NPs without MQ about 3.0 nm. The MQ–ZnS NPs exhibit strong fluorescence emission at about 500 nm and a high photoluminescence (PL) quantum yield (QY), up to 40%, with a decreasing ratio of MQ to ZnS NPs. The PL decay study reveals that the lifetimes of the different MQ–ZnS NPs with a single exponential decay are in the nanosecond time domain for emission at about 500 nm, which is obviously different from that of ZnS NPs with a biexponential decay for defect‐state emission at 420 nm. The functionalized MQ–ZnS NPs are successfully incorporated into the polymer matrix by in situ bulk polymerization to fabricate transparent bulk nanocomposites with good thermal stability and processability. Transmission electron microscopy results show that the NPs are uniformly dispersed in the polymer matrix without aggregation. The good PL properties of MQ–ZnS NPs are preserved in the bulk nanocomposites. It is observed that the nanocomposites have red‐shifted excitation and emission wavelengths compared with those of both the polymer matrix and MQ–ZnS NPs, possibly because of the cooperative interaction between MQ–ZnS NPs and the polymer matrix with blue emission.  相似文献   

18.
基片温度对电子束蒸发的ZnS薄膜性能的影响   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用电子束蒸发在不同基片温度下沉积ZnS薄膜,研究了基片温度对薄膜性能的影响.结果表明:不同基片温度下沉积的ZnS薄膜均呈多晶状态,为体心立方(闪锌矿)结构的β-znS,并具有明显的(111)面择优取向,导电类型为n型.随着成膜时基片温度的提高,薄膜结晶度越来越好,透过率增大,载流子浓度增大,而电阻率减小.  相似文献   

19.
Zinc sulfide powders that have been doped thermally with gallium are studied. The mechanisms of Ga diffusion in the ZnS powders are considered in relation to the packing density of the powders’ particles. To this end, some of the ZnS powders under study have been pressed into pellets. It is established that the doping of ZnS powders with Ga proceeds more efficiently if the powders have been compressed. The electroluminescence of ZnS doped with Ga is observed.  相似文献   

20.
硫化锌(ZnS)是一种重要的红外光学材料,在8~10 m波段范围内拥有较高的透过率,广泛应用于导弹整流罩、红外天文卫星、红外光谱仪、测量仪和热像仪等领域。采用高温后处理工艺方法可促进晶粒生长,并起到消除热压多晶ZnS内部的残余六方相和气孔的作用,进而可提升材料光学透过性能。对于厚度5 mm的热压ZnS试验片,1.064 m处透过率达到60%,2~10 m平均透过率达到73%。经后处理的光学窗口其抗冲击性能测试结果表明,材料保留了原有热压ZnS材料的力学特性,且在400 ℃的条件下能够满足光电探测系统清晰成像的要求。  相似文献   

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