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相似文献
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1.
X射线荧光光谱分析   总被引:7,自引:0,他引:7  
吉昂  卓尚军 《分析试验室》2001,20(4):103-108
作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。  相似文献   

2.
X射线荧光光谱法测定水样中的痕量元素   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用波长色散X射线荧光光谱仪测定了水样中痕量的A1、Cr、Ni、Zn、Sr、Ba、Tl、Pb。本法的测量结果与ICP和AAS的结果相近,对5.7μg/g Sr测量5次的RSD为1.2%,Sr的检出限(LLD)达到0.1μg/g。  相似文献   

3.
建立了一种人工神经网络-X射线荧光光谱法测定钢中酸溶铝的方法,用X射线荧光光谱法测定低合金钢中总铝值,应用所建立的ANN-BP网络模型,输入总铝含量直接预测出酸溶铝含量。同时使用改进的BP算法,避免了神经网络学习中可能产生的麻痹现象。该方法用于钢中酸溶铝的测定,结果满意。  相似文献   

4.
主要介绍了X射线荧光光谱测定铝粒、铝线、铝块等纯铝制品中主要杂质元素的方法。利用光谱标准物质,优化分析条件,建立纯铝制品中各杂质元素的分析曲线,方法精密度好,准确度高,操作简便、快速,能够适应生产快速检验的需要。  相似文献   

5.
X射线荧光光谱法测定超硬铝合金中成分   总被引:3,自引:1,他引:2  
叙述了用SRS 300型X射线荧光光谱仪测定超硬铝合金中铜、镁、锌、铁、硅、锰、铬、镍、钛、锆的X射线荧光光谱分析方法。试样用车床加工至表面平整、光滑,采用强度校正模型,由计算机拟合回归曲线。此法测定结果与常规湿法化学法测定结果相符。  相似文献   

6.
直接进样X射线荧光光谱法测定汽油中痕量锰和铁   总被引:1,自引:0,他引:1  
将样品直接注入液体杯,用X射线荧光光谱法测定汽油中痕量锰和铁含量,锰、铁的检出限为0.2mg·L-1。采用康普顿散射线作内标,部分地校正了样品间的基体差异。  相似文献   

7.
X射线荧光光谱法测定植物样品中12种元素含量   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出了X射线荧光光谱法测定植物样品中硫、氯、磷、硅、铁、铝、锰、钠、钾、锌、镁、钙等12种元素。样品以微晶纤维素作衬底于模具中进行压片。以GBW 10010~10012、GBW 10014~10016、GBW 10018、GBW 07602~07604、GBW 10020~10028和GBW 07601a等标准物质为基础,采用干、湿混样法配制6个人工合成样品用于制作工作曲线。优化了各元素的基体校正数学模型。方法的检出限(3s)在0.5~610μg.g-1之间;对同一标准物质GBW 07602重复测定7次,测得其相对标准偏差(n=7)在0.11%~4.0%之间。方法用于多种生物标准物质分析,所得结果与认定值相符合。  相似文献   

8.
稀土精矿中硅和铝的X射线荧光光谱法测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

9.
采用熔融制样,以钾长石、钠长石国家标准样品为主,辅以粘土、炉渣、硅石等标准样品,配制成一系列校准标准样品,用X射线荧光光谱法测定钾长石和钠长石中的Na2O、Al2O3、SiO2、K2O、CaO、Fe2O3、TiO2的含量,结果表明:方法的相对标准偏差为0.065%~2.9%,其测定结果与标准值基本一致,准确度好,可替代湿法化学分析,适合于长石类硅铝酸盐矿物的日常分析。  相似文献   

10.
偏振能量色散X射线荧光光谱法测定地质样品中18种元素   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用偏振能量色散X射线荧光光谱仪分析了硅酸盐基体样品. 选取岩石、土壤、水系沉积物等国家一级标准物质, 采用镶边粉末压片方法, 选择Al2O3偏振靶、 Mo、 Co二级靶, 在真空状态下对K、 Ca、 Ti、 Cr、 Mn、 Fe、 Ni、 Cu、 Zn、 Ga、 As、 Rb、 Sr、 Y、 Zr、 Nb、 Ba、 Pb等18种元素进行选择激发和探测, 所有元素的校正选用扩展的康普顿散射校正模型. 各元素的检出限为0.4~10.9 μg/g;除了As元素外, 均达到了1:25万多目标地球化学调查规范的要求. 根据60个地质调查多目标考核样品的分析结果, 采用Rousseau(2001)所提出的相对不确定度计算方法, 对所建立的方法进行了评估.  相似文献   

11.
在工业纯铝和大多数变形铝及铝合金中铁属于杂质,GB/T 3190-1996《变形铝及铝合金化学成分》[1]标准共规定了143个牌号的变形铝及铝合金的化学成分,其中133个牌号的铁属于杂质,在这些牌号中铁最高限量为0.003%~1.0%。因此,铝及铝合金中痕量或微量铁的准确测定极为重要。文献[2]采用经典的邻二氮杂菲分光光度法。此方法对显色试液pH值的控制要求较严格,测定大量样品耗时,对痕量铁的测定精密度较差。因此,本法用火焰原子吸收光谱法测定工业纯铝、变形铝及铝合金中铁。1试验部分1.1仪器与试剂180-80型塞曼偏振原子吸收分光光度计。试剂为分析…  相似文献   

12.
提出了粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定石油焦样品中硫、钠、镁、铝、硅、磷、氯、钾、钙、钡、钛、钒、铬、锰、铁、镍、铜和锌等18种元素含量的方法。将粒径小于0.076mm的石油焦粉末经105℃烘干后置于模具中,以160MPa压力制成厚度小于4mm的样品。以经验系数法和康普顿散射线内标法校正基体效应和元素间的谱线重叠干扰。对石油焦样品连续11次测定,各元素测定值的相对标准偏差均小于8%。方法用于标准样品的分析,测定结果与认定值相符。  相似文献   

13.
X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用X射线荧光光谱法测定石膏中钠、镁、铝、硅、硫、钾、钙、钛、锰、铁、锶等11种元素的含量。样品研磨30s后压片,样片用于X射线荧光光谱分析。以GBW 03109、GBW 03110、GBW 03111、GBW 03109a、GBW 03111a、GSB 08-1352-2001、GSB 08-1352-2006、GSB 08-1352-2009等8种标准物质为基础制作校准曲线,优化了各元素的基体校正数学模型。各元素的检出限在0.001 4%~0.27%之间。对同一石膏样品平行测定10次,其相对标准偏差(n=10)在0.51%~4.0%之间。方法用于3个石膏样品的分析,所得结果与国家标准方法测定结果相符。  相似文献   

14.
提出了用X射线荧光光谱法测定铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、铅等9种元素。样品0.2000g置于聚四氟乙烯杯中用200g·L~(-1)氢氧化钠溶液5mL溶解后,加硝酸10mL酸化,将溶液移入已盛有4.000g熔剂(四硼酸锂、偏硼酸锂与氟化锂以4.5比1比0.4的质量比混合)的铂金坩埚中,低温蒸干,并加热熔融制成厚度为2.5mm的玻璃状熔片,供X射线荧光光谱法分析用。该方法可适用于不同牌号、不同铸造或锻造热处理状态的铝合金样品分析。按该方法分析了4个标准样品,其测定结果与标准值相吻合。用一个铝合金标准物质(牌号ZLD 108)制备10个样片并测量,各元素相对标准偏差在0.62%~2.7%之间。  相似文献   

15.
将固体进样装置与电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-SSEA)联用,采用固体进样,直接测定铸铝合金中的铜、铁、镁、锰、镍、钛、硅、锌等元素含量。研究表明,该法与火花光谱法比较,具有很宽的的动态范围,测量精度和普通化学分析方法相当,同时又有火花光谱分析的速度。能满足工厂冶炼控制的要求。  相似文献   

16.
在盐酸溶液中,钛(Ⅳ)与钽试剂(BPHA)络合物在-0.3V(vs.SCE)或开路情况下吸附于玻璃碳电极表面,在-0.3--0.8V范围内以250mV.s^-1进行扫描溶出,峰电位为-0.57V,钛(Ⅳ)浓度在1-35ng.ml^-1(-0.3V)下富集2min和0.06-2ng.ml^-1(开路富集4min)范围内与峰电流呈良好的线性关系,体系选择好,灵敏度高,操作简单,用于纯铝中痕量钛的测定,重现性好,结果准确。  相似文献   

17.
X射线荧光光谱法直接测定燃料油中铝、硅、硫、钒   总被引:2,自引:0,他引:2  
提出了应用波长色散X射线荧光光谱法直接测定燃料油中铝、硅、硫及钒含量的方法,用理论α影响系数及内标法校正基体效应,试样预先在60℃及59 kHz超声水浴中搅拌45 min,达到有效地使样品均匀化.测得铝、硅、钒及硫4元素的检出限依次为1.0,0.9,0.7,0.6 mg·kg-1,对两个已知样品中4元素分别按所提出的方法测定7次,从而计算得方法的相对标准偏差在0.5%~12.6%范围内.对4个燃料油样品分别用此方法及标准方法作了分析,所测得4元素的含量互相吻合.  相似文献   

18.
藏药七十味珍珠丸中微量元素的测定   总被引:4,自引:0,他引:4  
用ICP-AES法测定了名贵藏药七十叶珍珠药丸中微量和常量元素的含量,并结合其药效进行讨论。  相似文献   

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