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化学气相沉积(CVD)金刚石一般无法直接应用,需要对其进行抛光处理。在熟悉平面厚膜抛光的机理基础上,采用自制抛光的设备,对拉伸模具内孔CVD金刚石薄膜进行机械抛光工艺的研究,借助表面粗糙度仪、扫描电子显微镜(SEM)对抛光前后及抛光过程中金刚石的表面形貌进行了观察,并对抛光过程进行了分析,研究表明:采用先粗抛光后半精抛光的工艺较为理想。 相似文献
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为了实现降低金刚石涂层粗糙度的目的,本文研究了飞秒激光功率,重复频率以及扫描速度对金刚石涂层表面粗糙度的影响,试验之后利用白光干涉仪检测抛光区域形貌以及粗糙度。试验结果表明:粗糙度随着功率的降低而减小,当功率降至100 mw以下时抛光后的粗糙度会随着功率的降低而略微的提高;重复频率对抛光后的粗糙度无显著影响;粗糙度随扫描速度的增大而减小,当扫描速度增加到1.6 mm/s之后,粗糙度会出现略微的升高。在功率100 mw,重复频率1 KHz,扫描速度1.6 mm/s的条件下,得到的粗糙度最低,约为0.14 μm,局部区域粗糙度可降至100 nm以下,并且抛光的区域相对于未抛光区域更具有致密性,基本上满足金刚石涂层低摩擦表面的要求。 相似文献
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毛永 《机械工人(冷加工)》2004,(1):42-42
我们单位是一家军工企业下属的工具分厂,最近承担了一项为军工产品压装药所使用的表面粗糙度非常小的模具。其中有一种内孔表面粗糙度要求为R_a0.2μm且孔较深的通孔。还有几种形状类似 相似文献
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概述了CVD金刚石薄膜涂层工具的研究现状 ,分析了基体材料及其预处理方法对涂层工具膜基结合力的影响 ,并对影响工具切削性能的因素作了综述。 相似文献
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衬底温度是热丝化学气相沉积(HFCVD)制备金刚石薄膜的重要参数之一,在拉丝模表面沉积CVD金刚石涂层时,均匀的衬底温度场显得尤为重要.对HFCVD系统中制备CVD金刚石涂层时拉丝模衬底温度场进行数值分析,得到了拉丝模温度场的分布和热丝参数对衬底温度场的影响规律,为CVD金刚石涂层拉丝模的制备提供重要指导. 相似文献
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This article investigates the failure mechanisms of CVD diamond wafers and thin films during a fast dynamic friction polishing process. To explore the evolution of temperature and stress fields, a comprehensive finite element analysis was systematically carried out, with the aid of experimental examination. It was found that the discontinuity and sharp change of the stresses across the film-substrate interface causes debonding failure of a CVD diamond thin film specimen. In the case of a CVD diamond wafer, however, the high surface tensile stress and bulk bending is responsible for the cracking. It was concluded that specimen cracking is sensitive to the polishing pressure, and that the polishing window for the CVD thin films is smaller. Polishing time is a critical factor, because a longer time corresponds to a higher thermal stress. This article points out that using the combination of a smaller polishing load and a greater sliding speed is a good option in selecting polishing parameters. To minimize cracking, a stepwise polishing process can be used. With the proper parameters obtained in this study, very smooth, high-quality surfaces of CVD diamond wafers and thin films can be produced in a short polishing duration of minutes. 相似文献
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以抛光的CVD金刚石厚膜为基体,用X射线衍射测出其光谱,再运用布拉格公式计算出表面的残余应力,测出一定应力状态下对应红外透射率的大小,探讨CVD金刚石厚膜的内应力和红外透射率之间的作用规律。研究结果表明:抛光的CVD金刚石厚膜由于竞争生长模式下的粗大柱状晶和非金刚石成分的掺杂,使得内应力变化较大,随着膜中残余应力的增大CVD金刚石膜红外透射率将减小。 相似文献