FPGA逻辑资源重配置测试技术研究

针对FPGA的逻辑资源测试,提出了一种内建自测试方法.测试中逻辑资源划分为不同功能器件,对应各个功能器件设计了相应的BIST测试模板.在此基础上进一步利用FPGA的部分重配置性能优化BIST测试过程,最终在统一的BIST测试框架下,采用相对较少的配置次数完成了逻辑资源固定故障的全覆盖测试.     

基于FPGA的频率测试系统

传统ATE比较昂贵,功率大耗电多,造成IC的测试成本偏高,针对ATE的不足之处,设计制作FPGA模块的频率测试系统,包括FPGA测试系统的组成模块,测试原理和测试方法,以及与Handler的通信设计。该测试系统占用空间小,耗电少,测试成本低,达到了节能降耗,降低测试成本的目的。     

CPLD和FPGA：高密度可编程逻辑器件的比较

近年来,随着新的器件和结构的引入,高密度可编程器件(HC-PLD——High-Capacity pfo-grammable logic device)的市场有了显著的扩展.这些新的器件为设计提供了更大的灵活性,同时,也要求设计工程师能从中找出最适合其应用的器件.正确的器件选择能使产品和市场成功,而选择器件的失误则会导致设计受阻.为了作出正确的选择,设计师要对各种不同的HCPLD器件——尤其是复杂可编程器件(CPLD)与现场可编程门阵列(FPGA)——的特点和局限性有足     

FPGA/CPLD可编程逻辑器件的发展前景

1　引言可编程器件即部分功能可由软件程序更改的器件 ,主要有Ｘｉｌｉｎｘ公司的ＦＰＧＡ器件系列和Ａｌｔｅｒａ公司的ＣＰＬＤ器件系列 ,它们开发较早 ,占用了较大的ＰＬＤ市场。随着数字逻辑系统功能复杂化的需求 ,集成电路本身在不断地进行更新换代。 10年前 ,其规模为每平方英寸 1万个门电路 ;现在已达到平均每平方英寸10 0万个门电路 ,因而出现了现场可编程逻辑器件(ＦＰＬＤ) ,其中应用最广泛的当属现场可编程门阵列(ＦＰＧＡ)和复杂可编程逻辑器件 (ＣＰＬＤ)。这里的ＦＰ ＧＡ/ＣＰＬＤ实际上就是一个子系统部件 ,这种芯片受到世…     

FPGA系统内部逻辑在线测试技术研究

随着FPGA设计复杂度的增加,传统测试方法受到限制.在高速集成FPGA测试中,其内部信号的实时获取和分析比较困难.介绍了QuartusⅡ中SingalTapⅡ嵌入式逻辑分析器的使用,并给出一个具体的设计实例,详细介绍使用SignalTapⅡ对FPGA调试的具体方法和步骤.实验结果表明,应用SignalTapⅡ对FPGA进行测试,操作方便,实时性较高.     

现场可编程逻辑门阵列（FPGA）技术及其应用

本文阐述了现场可编程逻辑门阵列（ＦＰＧＡ）技术的基本概念、原理及其进展，并介绍了作者在应用ＦＰＧＡ技术中所获得的点滴经验与体会。     

应用于FPGA的边界扫描设计

针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能。     

FPGA动态可重构逻辑设计初探

介绍了ＦＰＧＡ动态可重构技术的原理,提出一种采用常规ＳＲＡＭ编程ＦＰＧＡ来实现的动态可重构数字逻辑系统设计的新构想,并以小型时序信号发生器为例讨论了这种系统区别于传统数字逻辑系统的设计特点和应用前景。     

应用于FPGA芯片的边界扫描电路

针对在FPGA芯片中的应用特点，设计了一种边界扫描电路，应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现，兼顾芯片功能的测试；同时，加入了器件编程功能。在电路设计中采用单触发器链寄存器技术，节省芯片面积。版图设计采用0．6μm标准CMOS工艺，并实际嵌入FPGA芯片中进行流片。该电路可实现测试、编程功能，并符合IEEE1149．1边界扫描标准的规定，测试结果达到设计要求。     

Novel Test Approach for Interconnect Resources in Field Programmable Gate Arrays

A novel test approach for interconnect resources(IRs)in field programmable gate arrays (FPGA)has been proposed.In the test approach,SBs (switch boxes)of IRs in FPGA has been utilized to test IRs.Furthermore,configurable logic blocks(CLBs)in FPGA have also been employed to enhance driving capability and the position of fault IR can be determined by monitoring the IRs associated SBs.As a result,IRs can be scanned maximally with minimum configuration patterns.In the experiment,an in-house developed FPGA test system based on system-on-chip(SoC)hardware/software verification technology has been applied to test XC4000E family of Xilinx.The experiment results revealed that the IRs in FPGA can be tested by 6 test patterns.     

A Full Coverage Test Method for Configurable Logic Blocks in FPGA

FPGA＇s conflgurability makes it difficult for FPGA＇s manufacturers to fully test it. In this paper, a full coverage test method for FPGA＇s Conflgurable logic blocks （CLBs） is proposed, through which all basic logics of FPGA＇s every CLB can be fully tested. Innovative test circuits are designed using FPGA＇s internal resources to build Iterative logic arrays （ILAs） for Look-up tables （LUTs）, distributed random access memories, configurable registers and other logics. The programmable interconnects needed to connect CLBs in these test circuits are also repeatable, making the configuration process much easier and the test speed much faster. The test method is transplantable and independent of FPGA＇s array size, so it can be applied to the test of different FPGAs. Xilinx＇s Virtex FPGA is taken as an example to explain our method, where only 19 test configurations are needed to achieve 100% coverage for all CLBs. To evaluate the test method reliably and guide the process of test vectors generation, a fault simulator- Turbofault is used to simulate FPGA＇s test coverage.     

基于FPGA的集成电路测试系统设计

随着电路设计技术的不断发展,集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用,而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论,通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明,该系统测试便捷,准确,对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。     

系统级FPGA芯片XCV50E的结构与开发

VirtexE系列是XILINX公司生产的新型FPGA芯片 ,可用来进行数十万逻辑门级的系统设计和百兆赫兹级的高速电路设计。文中介绍了XCV50E芯片的结构特性、设计流程和配置过程 ,给出了具体的电路图和配置流程图。     

基于扫描链的FPGA可编程逻辑模块测试

随着FPGA规模的不断增大和结构的日益复杂,FPGA的测试也变得越来越困难.由此提出了一种可配置的FPGA芯核扫描链设计,并讨论了基于扫描链的可编程逻辑模块（Configuration Logic Blocks CLB）测试.提出的扫描设计可以通过配置调整扫描链的构成,从而能够处理多个寄存器故障,且在有寄存器故障发生时,重新配置后能继续用于芯片的测试.基于扫描链的CLB测试,以扫描链中的寄存器作为CLB测试的可控制点和可观测点,降低了对连线资源的需求,可以对所有的CLB并行测试,在故障测试的过程中实现故障CLB的定位,与其它方法相比,所需配置次数减少50%以上.     

电子元器件测试系统选型方法

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较,分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法.