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应用傅里叶变换红外光谱法对HL-60(人早幼粒白血病细胞)裸鼠异种移植模型癌变及癌旁正常组织粉末样品进行了分析研究.结果表明:(1)甲基CH3和蛋白质分子C-O峰在癌变组织中均有不同程度的频移,(2)正常组织的红外光谱在1746 cm-1处存在较强的吸收峰,而在肿瘤中只有较弱的吸收峰或观察不到吸收峰,(3)癌变组织核酸分子磷酸二脂基团PO2-的对称伸缩振动的相对吸收强度明显增强,(4)正常组织中脂类分子弯曲振动谱带吸收峰相对强度明显强于甲基变角振动谱带的相对强度,而在癌变组织中这两处吸收峰的相对强度大小基本相等.说明傅里叶变换红外光谱法可以用于对裸鼠癌变组织进行鉴别诊断,利用动物异种移植模型进行红外光谱分析可成为肿瘤红外光谱研究的一种新方法. 相似文献
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肺癌组织的红外光谱研究 总被引:6,自引:1,他引:5
应用傅里叶变换红外光谱法对肺癌及癌旁正常组织粉末样品进行了分析,结果表明,
肺癌组织和癌旁正常组织的红外光谱表现出较大的差异性: N2H峰在肺癌组织中向低波数频移, 1536cm- 1处蛋白质酰胺Ⅱ带与1169cm- 1处蛋白质分子C2OH伸缩振动谱带在肺癌组织中向高波数频移; CH2 和CH3 的相对强度比值I2854 / I2872及I2929 / I2959在正常组织中的比值要比肺癌组织中的比值明显减小;肺癌组织中核酸分子磷酸二脂基团PO2- 的对称伸缩振动的相对吸收强度明显增强;正常组织中脂类分子弯曲振动谱带吸收峰相对强度明显强于甲基变角振动谱带的相对强度,而在肺癌组织中这两处吸收峰的相对强度大小基本相等。说明傅里叶变换红外光谱法可用于对良、恶性肺部组织进行鉴别诊断,有希望发展成为肺癌快速诊断的一种新方法。 相似文献
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肺癌组织红外光谱的统计分析 总被引:2,自引:0,他引:2
使用统计的方法,应用傅里叶变换红外光谱法对肺癌及癌旁正常组织粉末样品的红外光谱进行了统计分析.结果表明,肺癌组织和癌旁正常组织的红外光谱有显著的差异性:3306cm-1处的N-H峰在肺癌组织中向低频移动了约3cm-1;1167cm-1处的C-OH伸缩振动谱带在肺癌组织中向高波数移动约6cm-1;1080cm-l处的PO-2对称伸缩振动谱带在肺癌组织中向高波数移动约4cm-1.体现了在肺癌组织中细胞形态和组织结构发生的变化,说明傅里叶变换红外光谱法可以用于对良、恶性肺部组织鉴别诊断. 相似文献
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关于癌变细胞红外光谱测定方法的研究 总被引:2,自引:1,他引:1
利用傅里叶红外光谱(FTIR)高分辨手段,对正常人的细胞和宫颈癌患者的细胞进行了对比研究,初步得出此方法能在分子水平上揭示出肿瘤细胞与正常细胞的差别,并通过谱图解析,可直接阐明引起谱图变化的主要原因、细胞癌变的可能机理,从而做到对癌程进行预测和肿瘤疾病的早期诊断。 相似文献
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Kestrel公司已设计出一种装在飞机上的双波段红外傅里叶变换超光谱成像器,目前正在制造这台仪器。预定安装在Cessna206上的这台成像器具有一个15度的视场,其瞬时视场为1.0毫弧度。该仪器使用512个光谱通道,在2000cm^-1至3000cm^-1范围内,其目标光分辨率优于1.5cm^-1,在850cm^-1至1250cm^-1范围内则优于0.4cm^-1。为达到这些前所未有的光谱分辨率,仪器将采用各种光谱增强技术。光学系统的计算机模拟已演示出亚波数分辨率和超过900的信噪比。 相似文献
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甲状腺癌组织与正常组织红外光谱的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
应用傅立叶变换红外光谱法( FTlR)对甲状腺癌组织及正常组织进行了分析。实验结
果表明:正常组织红外光谱分别位于1165cm- 1和1745cm- 1附近的吸收峰较为明显,而在癌组织中近乎消失;癌组织中970cm- 1附近的吸收峰强度较正常组织在相对强度上有所增加;正常组织中1084cm- 1附近的吸收峰在癌组织中向低波数移动3cm- 1且强度增加;甲状腺癌组织中酰胺Ⅰ带、Ⅱ带的吸收峰强度高于正常组织,酰胺Ⅱ带吸收峰向低波数移动2cm- 1 ,酰胺Ⅰ带、Ⅱ带的相对峰高比( I1654 / I1543 )高于正常组织。研究表明: FTIR可以从分子水平上揭示甲状腺正常组织和癌组织的特异性,能够对甲状腺肿瘤组织的良、恶性鉴别提供可靠的信息。 相似文献
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不同发酵茶叶的红外光谱特征 总被引:1,自引:0,他引:1
采用傅里叶变换红外光谱法,比较分析了不发酵茶、半发酵茶和全发酵茶红外特征谱的异同。结果显示,3类茶叶的红外光谱比较相似,但由于发酵程度不同,3类茶中茶多酚类物质成分的含量不同,因而具有一些各自的红外特征谱。研究表明,茶叶的不同发酵程度与茶叶的红外特征谱中的1037,1147,1324,1520和1240cm-1附近吸收峰的强度和峰形密切相关。探索了这两者之间的联系,发现根据茶叶样品的红外光谱特征峰的不同吸光度和峰形,可以区分茶叶的不同发酵程度。 相似文献
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甲苯是大气中主要的挥发性有机污染物
和二次有机气溶胶的前体物。采用自制的烟雾腔模拟装置
研究了无氨和有氨时由羟基启动的甲苯光氧化过程,利用傅里
叶变换衰减全反射红外光谱测量了甲苯光氧化产物的分子官能
团,并对其化学组分进行了定性分析。实验结果表明,两种情况下
的甲苯光氧化产物中都含有苯
环、O-H、C=O和C-O等官能团,并
含有较高浓度的甲基酚、醛、酮和羧酸等有机物。而有氨
时的甲苯光氧化产物中还含有C=N、C-N和N-H等官能团,它们
对应于咪唑类含氮有机物的化学键特性。该结果为研究甲苯光氧化
反应机理提供了新的实验依据。 相似文献
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中国的大气环境污染形势严峻,地域性大气问题严重,以燃煤为主的火力发电厂、燃煤锅炉等是最主要的SO2、NOx排放源。现行的燃煤烟气排放标准做了严格规定,从而对烟气连续排放在线监测技术提出更苛刻的要求。基于傅立叶变换红外光谱技术与伴热式多次反射池技术,研究燃煤电厂SO2、NO污染气体超低浓度检测系统。针对SO2、NO的分子吸收光谱特征, 采用SiC作为光源,选择测量波段1900~2600 nm;采用傅立叶变换红外光谱技术对测量光谱进行处理,与现场两台设备的测量数据进行分析, SO2、NO气体的相关性良好,满足超低排放烟气监测需求。 相似文献
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Improved Defect and Fourier Transform Infrared Spectroscopy Analysis for Prediction of Yield for HgCdTe Multilayer Heterostructures 总被引:1,自引:0,他引:1
D.D. Lofgreen M.F. Vilela E.P. Smith M.D. Newton D. Beard S.M. Johnson 《Journal of Electronic Materials》2007,36(8):958-962
The ability to accurately predict HgCdTe focal plane array (FPA) performance using nondestructive, postgrowth wafer analysis
is of great importance. These predictions, if accurate, reduce costs by screening the wafers prior to processing, and selecting
only those wafers that are most likely to yield FPAs that meet program specifications. In this paper, we examine the use of
a macrodefect inspection tool, the NSX 1255, from August Technology. This inspection tool has the ability to measure defects
0.5 μm and larger and store the location and size data to a file. We have then, through the use of custom written software, been
able to analyze these data on a wafer by wafer basis. We have also incorporated the use of a thin film transmission matrix
model to analyze room-temperature Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) transmission spectra. This technique, which
is applied to the entire wafer surface, can be used to determine the individual layer thicknesses as well as their compositions.
Then, using analytical expressions for bandgap, absorption, and index of refraction, we can predict responsivity and quantum
efficiency. Through the use of these two inspection tools and our analysis software, we are able to overlay FPA die information
and perform statistics on a die-per-die basis. This allows us to effectively “pass” or “fail” each FPA based on the program
specifications. We are then able to set a minimum criterion for the number of FPAs that pass on any given wafer. That wafer
is then sent off to processing if it meets this criterion. Furthermore, knowing why a wafer fails before it reaches processing
allows for real time feedback to the epilayer growth process. This allows for run-to-run adjustments in order to keep as many
wafers within specifications as possible and increases yield overall.
(Received October 24, 2006; accepted Feburary 26, 2007) 相似文献