中阶梯光栅光谱仪波段范围校正装置

为了保证中阶梯光栅光谱仪能够具有足够的波段范围,设计了一套校正装置,对该校正装置的校正原理、波段校正范围、校正分辨率等问题进行了讨论和研究。首先,对中阶梯光栅光谱仪的光学元件进行了公差分析,并介绍了自动光谱校正的原理和流程。选定聚焦镜作为调整环节并根据CCD接收器像面的利用情况给出了调整分辨率要求,然后设计了校正装置,并对校正装置的分辨率进行了理论计算。最后,对校正装置的校正效果进行了实验验证。实验结果表明:校正装置在方位方向的校正分辨率可达0.006 25°、俯仰方向的分辨率可达0.006 25°、前后方向的分辨率可达0.005mm。校正装置可以将10像素的波段偏移调整回CCD正常接收范围内,从而保证光谱仪器的全谱段波段范围。     

衍射双波段红外光学系统设计

基于定向光栅能对不同波长的不同级光谱闪耀的原理,从一种比较新颖的角度将衍射光学元件成功地应用于双波段红外光学系统设计,使系统在衍射效率达80%的中波红外波段3.8～4.2μm和长波红外波段8.8～11.5μm同时较好地完成像差校正,会聚到共同的焦点。最后以一个f/2单透镜衍射光学系统进行了验证。设计结果表明,此双波段光学系统结构紧凑、原理简单、不需要额外的机械设备,为双波段成像、探测提供了一条新的思路。     

四波段红外相机

据化合物半导体网站（www.CompoundSemiconductor.net）报道，美国宇航局喷气推进实验室通过与美国IQE公司合作，已生产出世界上第一台四波段红外相机。     

X射线荧光光谱仪的发展（Ⅰ.顺序式波长X射线荧光光谱仪）

阐述了当前顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的发展,并列表比较了世界一些主要产品的性能。     

红外观察仪图像畸变的校正

通过对红外观察仪成像失真原因的分析,建立了一个非线性畸变校正的数学模型,该模型适用存在径向非线性失真的成像系统,并基于该模型对红外观察仪输出的图像进行了畸变校正,给出了实验结果,经过校正后的图像检测点的最大定位误差在1个像素以内。方案还具有可扩充性和可移植性。     

多波段共口径红外系统光机热一体化设计

针对红外系统对热辐射比较敏感的特点,即除了来自系统外部的杂散热辐射会影响系统的性能,系统内部的热辐射也会降低系统的灵敏度,在研制某型号红外系统中,根据技术指标对其光学系统、机械结构以及热辐射抑制进行了详细论述和设计.系统口径1000mm,采用可见光、中波红外、长波红外3个光谱波段共用口径的光学结构,可见光波段焦距2000 mm,目视鉴别率690 lp/mm,中波红外波段焦距为2000 mm,长波红外波段焦距为2000 mm.采用地平式二维转动机构以实现对成像头部组件俯仰、方位的调整,保证对目标的瞄准和跟踪.重点对系统内部杂散辐射进行了分析,包括机械内壁不同表面不同发射率对像面接收辐射能的影响,以及光机内壁不同温度不同发射率对像面接收辐射能的影响.设计了水冷循环系统制冷光机系统的温度,降低系统内部杂散辐射.测试结果表明,可见光波段焦距及目视鉴别率达到了预先设计的要求值,各红外分系统的焦距也分别到达了预先设计的要求值,所摄取的图像对比度清晰.     

MPF—4荧光光谱仪波长系统故障分析及排除

报道了ＭＰＦ－４荧光光谱仪波长系统的故障分析和排除方法，给出了故障的修复实例，并介绍了波长的校正方法和步骤。     

红外水份仪的自校正系统设计

本文介绍一种用于提高QB476型红外水份仪测量精度的自校正系统。该方法适用于所有受某些因素影响而需要人工调电位器来修正零点的仪器、仪表。     

单片集成的双波段红外探测器列阵

量子阱红外光电探测器（QWIP）技术已取得了显著的成就，因为它在宽波段和多波段两方面都实现了大规格的焦平面列阵。这些探测器基于Ⅲ-V族半导体材料，其在中波红外和长波红外（3μm～50μm）范围的光谱响应是可以专门确定的。     

红外光谱仪使用中的若干问题

针对红外光谱分析在高校实验教学和科研中,如在有机化学、生物化学、药物学等专业类的实验教学及科研项目中的重要作用及遇到的一些实际问题,根据自己在实际工作中的经历,介绍红外光谱解析的步骤、红外光谱解析中要注意的事项及制样中的一些技巧等.     

近红外光谱仪新进展

近几年国际上出现了一些新型近红外光谱仪器.这些仪器大都是基于微机电系统(MEMS)技术设计和制造的,如MEMS法布里-珀罗干涉仪、MEMS可编程衍射光栅、MEMS扫描光栅等,具有重量轻、体积小、探测速度快、可批量制造以及成本低廉等特点.本文介绍这些新型近红外光谱仪器的基本原理和主要技术指标.     

掠出射X射线荧光光谱仪研制

掠出射X射线荧光分析技术是分析薄膜特性和介质表面的一种重要工具.文中简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种在实验室里由激发光源、样品承载系统、色散系统、探测系统和数据收集及处理系统构成的掠出射X射线荧光光谱仪系统,并给出了利用⁵⁵Fe放射性同位素标定该光谱仪系统的试验结果.     

原子荧光光谱仪改进意见

本文讨论了原子荧光光谱仪在技术和应用方面可以改进的地方。     

Spectrally resolved thermoluminescence measurements in fluorescence spectrometer

Registration of thermoluminescence (TL) spectra technique for irradiated samples in Perkin Elmer LS 55 spectrometer using developed high-temperature accessory during single heating cycle is shown. Functionality of serial instrument for RT–773 K temperature range is significantly widen. Spectrally resolved TL dependencies for h-BN micropowders and bulk AlN single crystals following UV irradiation are studied. TL spectral features of h-BN powders, synthesized by carbamide and plasma-chemical techniques, are determined and quantified. It is shown that the difference between TL curves obtained by the described and the standard modes does not exceed 10%.     

Qualification of a fluorescence spectrometer for measuring true fluorescence spectra

New analytical methods using fluorescence detection are becoming increasingly quantitative and require easy-to-use material standards for fluorometer qualification and method validation. NIST is responding to this need by developing and producing such standards. Reported here is the first step in this process, which is to qualify a research-grade fluorescence spectrometer for measuring true fluorescence spectra of reference material candidates. "True" spectra are defined here as those with fluorescence intensity, either relative or absolute as required, and wavelength both being reported with high accuracy and known precision, after wavelength has been calibrated and corrections for excitation intensity and detection system response have been applied. The uncertainties determined in relative and absolute intensity-corrected fluorescence spectra using both calibrated source (CS)- and calibrated detector (CD)-based methods were compared. The CS-based method gave uncertainties, typically about +/-5% for relative spectral correction, that were about half that of the CD-based method for determining both relative and absolute spectral correction factors. Absolute spectral correction factors can be determined using either method without knowing the optical geometry of the instrument. The absolute spectral correction factors were found to have much larger uncertainties than the corresponding relative correction factors with uncertainties for the CS-based method of +/-10% to +/-15% being typical and +/-20% or more not being uncommon, particularly for excitation and emission wavelengths below 400 nm. Uncertainties arising from detection system nonlinearity and instrument polarization ratios were also explored.     

AF-640原子荧光光谱仪常见故障维修

介绍了AF-640双道原子荧光光谱仪的常见故障和处理方法.     

红外分光油分析仪的设计与研究

描述了红外分光油分析仪的基础原理、结构和数学模型 ,着重介绍了红外测油的原理、关键技术及应用     

Evanescent-field scanning microscope with fourier-transform infrared spectrometer

An evanescent-field scanning microscope for infrared microanalysis has been developed. This microscope uses an evanescent field produced by total internal reflection with a high refractive index prism to attain a high spatial resolution, better than the wavelength. This microscope was combined with a Fourier-transform spectrometer. The principle of the method and experimental results for edge detection at different absorption wavelengths are described.     

MagiX型X射线荧光光谱仪故障排除方法

介绍了MagiX型X射线荧光光谱仪在使用过程中的常见故障,分析了故障产生的原因,提出了解决办法和使用中应注意的事项.