用CCD在线检测电线电缆直径

在线检测是现代化生产过程中一项十分重要测量手段。面阵ＣＣＤ作为一种新型的光电传感器件，它在实时测量方面有着广泛的发展前景，本文介绍一种ＣＣＤ在线测量电线电缆的测量系统和这种检测方法的原理及系统的组成，在此基础上讨论了采用面阵ＣＣＤ作为光电转换器件在实时测量电线电缆时的系统误差，进而提出减少这些误差的措施。     

应用Marr算子实现线阵CCD边缘高分辨率定位

在分析ＣＣＤ成象模型的基础上，提出应用Ｍａｒｒ边缘检测算子对原始ＣＣＤ数据进行处理，用最小二乘法进行直线拟合，获得亚象元分辨率边缘数据的数值计算方法。仿真计算表明，经过一阶误差校正，该算法可达到优于０．０１象元的定位分辨泫，对算法在不同条件下的定位能力进行了讨论，给出了实验结果。     

应用Mar算子实现线阵CCD边缘高分辨率定位

在分析ＣＣＤ成象模型的基础上，提出了应用Ｍａｒｒ边缘检测算子对原始ＣＣＤ数据进行处理，用最小二乘法进行直线拟合，获得亚象元分辨率边缘数据的数值计算方法。仿真计算表明，经过一阶误差校正，该算法可达到优于０．０１象元的定位分辨率。对算法在不同条件下的定位能力进行了讨论，给出了实验结果。     

非接触表面粗糙度测量仪

本文介绍了一种以半导体激光器作为光源，ＣＣＤ作为接收器件的光探针表在粗糙度测量仪，对仪器的测量原理，仪器的结构进行了讨论，用该仪器对标准样品进行了实际测量，得到了与实际相符的结果。     

基于线阵CCD扫描法的拉丝模孔径测量仪

采用平行光投影法，以高精度线阵ＣＣＤ为测量传感器，结合机械扫描方法，完成对拉丝模孔径的快速检测。提出了ＣＣＤ孔径检测中抗暗斑干扰的电路设计。     

CCD传感器检测玻璃管外径和壁厚的研究

本文讨论了用ＣＣＤ传感器同时检测玻管外径和壁厚的工作原理，ＣＣＤ传感器的选择及数据处理，并给出了测量结果。     

CVD金刚石成核的最新研究

研究了化学气相条件下金刚石在非均匀研磨硅基底表面及镜面基底和均匀研磨基底边缘及角域处的成核行为。发现ＣＶＤ金刚石成核不仅依赖于沉积区缺陷，更主要由缺陷的锐度决定，即缺陷加强ＣＶＤ金刚石成核的锐度效应。在对无序碳上ＣＶＤ金刚石成核研究的基础上，讨论了ＣＶＤ金刚石成核的机理，并由此阐明了各种表面预处理及负偏压等增强ＣＶＤ金刚石成核的微观过程。     

线列CCD像机交汇测量精度分析

目的 探讨提高线列ＣＣＤ像机交汇测量精度,在此基础上分析了ＣＣＤ像机交汇测量的原理。方法 采用空间虎拟的光电靶代替实物靶来实现对弹丸目标脱靶量的实时获取。结果与结论 在分析了ＣＣＤ像机测角精度与布站方式等影响交汇测量精度的因素后,对光电靶面上不同位置点的ＣＣＤ像机交汇坐标测量结果进行了计算,最终给出了测量精度与布站的,ＣＣＤ像机视轴正交时系统具有最高的测量精度。     

提高CCD分辨率的一种尝试

微／纳米技术是当前科研领域的一大热点，作为微／纳米技术的一个重要分支——微／纳米级测量技术自然也受到了广泛的重视。本论文的研究目的在于探索运用ＣＣＤ器件进行微／纳米量级测量的一种新方法。ＣＣＤ的测量分辨率受到其像元间距的限制，为欲突破这种限制，我们在运用数字图像处理技术的基础上，探讨了一种新的图像处理方法，为进一步提高ＣＣＤ检测的分辨率和精度作了一些理论及实践性的尝试     

CCD增维测量原理及其在二维光电直仪中的应用

详细讨论了ＣＣＤ增维测量原理,并将此原理应用于光电自准直仪的设计中,分析了制约测量范围的因素,通过对分划板刻线形式的改进,将ＣＣＤ的像面利用率提高６０％,文中详细描述了测量系统的机械布置,最后给出了实验结果。     

多CCD交汇测量技术研究

描述了一种坐标测量的新方法－ＣＣＤ交汇测量。文章介绍了ＣＣＤ交汇测量的原理，推导了坐标计算公式。为了得到较高的捕获率，提出了采用多个线阵ＣＣＤ组成交汇光靶的方案，并以３ＣＣＤ交汇为例导出了坐标计算公式。     

激光多普勒技术与直线度测量

在三坐标测量机（ＣＭＭ）及精密加工机床等设备的高精度测量中，主轴及导轨的直线度、水平或竖直偏摆角的测量是相当重要的。在过去，这类机器的直线度的测量，大部实现起来比较困难，或者精度很低且费时。这里我们将介绍一种直线度测量的新方法，采用双光束系统的激光多普勒测量仪（简称ＬＤＤＭ），通过测量每一点的偏摆角，并按一定的准则计算出直线度。下面将分别简述有关的原理、精度及与其它测量方法相比较的优越性．由于这种测量技术可以对位移和角度进行同时测量，使得直线度实现了在线测量，这就为三维坐标测量仪器的精度拟合及代替线性编码器进行位置和直线性的标定提供了简易高效的新方法．     

曲线测量的一种有效途径

文章介绍了联合ＣＡＤ、ＣＭＭ两种技术手段解决曲线测量问题的一种途径－用ＡＣＡＤ设计曲线并将曲线分割成等分点，使用Ａｕｔｏｌｉｓｐ语言对分割后的曲线生成名义数据文件，然后使用ＣＭＭ测量实际曲线并依据名义数据对实际曲线进行误差评价。文中给出了具体操作方法及部分源程序。     

CCD结构的离散性对成象质量的影响

本文提出用调制传递函数ＭＴＦ评价电荷耦合器件ＣＣＤ图象传感器成象质量的方法，给出计算ＣＣＤ图象传感器ＭＴＦ的公式，并着重分析讨论了ＣＣＤ图象传感器的离散性对成象质量的影响，为精确进行ＣＣＤ及其它离散器件的系统设计提供了理论依据。     

新型全息记录软片DC─TAC的光化学刻蚀特性

报导一种新型全息记录材料（ＤＣ─ＴＡＣ）的光化学刻蚀特性，给出了刻蚀深度对曝光量以及对显影时间的依赖关系，还讨论了刻蚀过程中图形传递的失真度问题。指出了ＤＣ─ＴＡＣ作为微光学元件光刻材料的重要应用前景。     

半导体激光经纬仪光电自准直测角当量的标定

采用半导体激光器作光源、线阵ＣＣＤ作光电传感器研制了一台全新的、适于野外使用的半导体激光经纬仪。ＣＣＤ光电自准直测角零位及当量的标定,直接关系到仪器的精度,我们采用一种简便、易实现的方法对ＣＣＤ自准直测角零位及当量进行了标定,并给出了标定结果。     

SmDyFeCo磁光薄膜的磁特性研究

采用射频磁控溅射方法制备了ＳｍＤｙＦｅＣｏ非晶磁光薄膜，研究了氩气压，溅射功率对ＳｍＤｙＦｅＣｏ薄膜磁特性的影响。实验表明，和ＤｙＦｅＣｏ非晶薄膜相比，ＳｍＤｙＦｅＣｏ非晶薄膜的矫顽力Ｈｃ随温度变化更为缓慢，并且具有更大的垂直磁各向异性常数，因而具有更好的记录特性，本征磁光克尔角可达０．３１，可以作为一种实用化的磁光记录介质。     

面阵CCD线性测量

介绍了面阵ＣＣＤ对曝光量的线性响应范围，并提出了部分扩大测量线性范围的方法。     

齿轮接触斑点测量仪光学机械系统的设计分析

介绍１种新近开发的齿轮接触测量仪，该仪器利用先进的ＣＣＤ光电接收器件作测量传感器，并利用ＩＢＭＰＣ／ＸＴ计算机作数据和图象处理，使齿轮接触斑点的测量从测量精度和效率方面都比传统的目视观察，手工描绘提高一大步，本文着重讨论仪器光学机械系统的原理结构。     

试论CAD技术的发展

分析了三种典型先进制造模式对ＣＡＤ的需求，讨论了当前ＣＡＤ技术的发展，提出现代ＣＡＤ技术的概念，指出所应研究的内容。