一种新型的高分辨率双侧向测井方法

针对目前广泛使用的常规双侧向测井仪分辨率不高、电极系很长、不便于现场组合测井等缺点,一种新型的高分辨率双侧向测井仪被提出、设计、研制完成并投入生产.介绍了高分辨率双侧向的电极系结构、工作原理,并通过数值模拟结果阐述了它的分层能力、探测深度和围岩、侵入及井眼等影响.结果表明,高分辨率双侧向在大大缩短了仪器长度的情况下,同时取得了高分辨率和深的探测深度;尽管高分辨率双侧向井眼影响较大,但在大多数情况下高分辨率双侧向可以取代常规双侧向用于常规测井.高分辨率双侧向测井仪是快速与成像测井系统EILog-05最重要的井下仪之一.     

高分辨率双侧向测井仪

针对传统双侧向仪器分辨率已经不能满足油田开发后期对薄层评价的需求，开发设计了一种新型的双侧向测井仪，在仪器电极设计中，利用有限元仿真模拟软件精确模拟了多种电极系在二维地层中的响应，充分考虑了仪器分辨率的提高与电路硬件聚焦的物理限制的关系，确定了电极系结构，该仪器的理论分辨率达到0．3米，与微球聚焦测井仪的分辨率相近，而仪器的探测深度与传统双侧向测井仪基本一致，现场测试结果证明了该仪器的优越性。     

高分辨率阵列侧向测井响应数值模拟

阵列侧向测井能够提供RL,A0～RL,A5等6条不同探测深度的电阻率曲线.可以直观反映地层不同径向深度电阻率的变化.利用有限元方法,在简化的二维非均匀介质模型下对阵列侧向测井响应进行了数值模拟,研究了不同层厚、侵入带、井眼条件下阵列侧向测井响应,与双侧向测井响应进行了对比.研究表明.阵列侧向测井所测得的RL,A5～RL,A1等5条电阻率曲线为同时反演侵入深度、侵入带电阻率和原状地层电阻率提供了丰富的信息;其多条不同探测深度的电阻率曲线探测深度依次增加.受围岩影响小,能够详细描述侵入削面,真实地反映地层电阻率径向分布;RL,A0探测深度最浅,主要反映井眼泥浆的电阻率情况,为准确了解井眼内及井壁附近的电阻率分布提供了依据.在实际应用中应结合实际现场的各方面因素对阵列侧向测井曲线进行全面的分析.     

双侧向测井数值模拟用于测井质量控制的研究

本文利用双侧向测井数值分析程序研究了测井质量控制中经常遇到的一些问题，如有差平衡、双轨现象等。通过数值分析探讨了双轨现象产生的原因，并定量分析了有关平衡状态残存电位差对视电阻率响应的影响。     

大斜度井双侧向测井响应的数值模拟

针对大斜度井复杂的测井环境和双侧向电极系的工作原理,采用三维有限元法模拟在有侵入、多层地层情况下大斜度井中双侧向仪器的测井响应.模拟采用先考虑井眼和仪器,然后考虑地层交界面的网格划分方法,可以灵活地对各种井斜角和侵入情况进行考虑.模拟结果与国内外文献给出的结果取得了很好的一致性, 所以该算法是可靠的.利用该算法还对井斜角和侵入对测井响应曲线的影响作了研究.     

一种高分辨率双侧向测井仪

常规双侧向测井仪因其良好的聚集性能而得到广泛应用，虽然它的径向探测深度较深但对薄层的分辨能力却较差，适当修改现有双侧向测井仪电极系，通过不同地层模型条件下的模拟计算和伪几何因子考查，结果表明，该电极结构垂直分辨率有了很大改善，受井眼的影响较小，径向探测深度也较深。     

随钻双侧向电阻率测井响应数值模拟分析

一种新的随钻电极电流型电阻率测井仪即双侧向电阻率随钻测井仪DLR已进入现场试验阶段.该仪器提供深、浅2种探测深度电阻率曲线,可用于判断随钻过程中的地层侵入情况和钻后地层评价.介绍了该仪器的电极系排列和测量原理,通过数值模拟计算,分析了该仪器的仪器常数及测井响应的井眼影响、分层能力、探测深度及侵入影响等探测特性.数值模拟结果表明,与同类仪器相比较,该仪器具有更好的分层能力、更大的探测深度和较小的井眼影响.     

水平井各向异性地层双侧向测井响应数值模拟

利用三维有限元法对水平井中各向异性地层的双侧向测井响应进行了数值模拟,分别分析了地层各向异性系数、围岩层厚、泥浆侵入对各向异性地层双侧向测井响应的影响。结果表明：水平井中各向异性地层双侧向测井响应主要受到岩层垂向电阻率影响;目的层高阻时各向异性地层受围岩层厚影响大,目的层低阻时各向同性地层受围岩层厚影响大;与各向同性地层相比,泥浆侵入对各向异性地层双侧向测井响应影响更加明显和复杂。     

EILog高分辨率双侧向测井仪野外常见问题及处理

双侧向电阻率测井是用一个两根长短不同的电极来测量原状地层电阻率和井壁周边冲洗带电阻率。EILOG高分辨率双侧向测井仪基于传统双侧向测井仪而重新设计电极系,将纵向分辨率由原来的0．7m提高到0．4m。其性能稳定,一致性、重复性好,测井实效高,在国内应用广泛。所以对其野外异常情况的有效认识及有力排除对EILOG高分辨率双侧向测井仪今后在国内的正常使用有重要意义。文章主要就一些地区EILOG高分辨率双侧向测井仪所遇到的两类异常做出讨论：1）其组合上自然电位的异常处理;2）侧向曲线异常处理。而其中较为难处理的为自然电位正弦波现象和侧向曲线“双轨”现象。     

EILog高分辨率双侧向井眼影响及校正效果分析

高分辨率双侧向测井仪(HRDL)是EILog测井系统中重要的常规测井仪器之一.该仪器在保持常规双侧向测井探测深度的基础上,具有电极系短、纵向分辨率高(0.4 m)、易于现场组合测井等优点.但是,高分辨率双侧向过聚焦工作原理使得井眼影响复杂,在低电阻率地区井眼影响非常严重,深、浅侧向测量值往往高于常规双侧向测井测量值,必须进行有效的井眼校正.电极系特性不同,高分辨率双侧向经过井眼校正后的曲线与常规双侧向接近,局部会有差异.除视电阻率外,井径和泥浆电阻率是井眼校正中的2个关键参数.通过对高分辨率双侧向测井井眼校正图版分析,说明低电阻率区块进行井眼校正的必要性,给出仪器理论地层模型低电阻率测井响应对比.利用最优化方法分段拟合的井眼校正算法已集成到地面采集软件中,并且可以进行全井段实时校正.在大部分低电阻率地区,深、浅侧向测量曲线经过有效的井眼校正,可以明显改善测量曲线的质量.     

各向异性倾斜地层双侧向测井响应数值模拟

利用三维有限元法,模拟了电性各向异性倾斜沉积岩层的双侧向测井响应。模拟结果表明:双侧向测井响应不仅受到地层倾角的影响,而且还受到地层电性各向异性的影响。在水平地层条件下,双侧向测井响应主要受到层理方向上地层电阻率的影响;在倾斜地层条件下,垂向上的地层电阻率对测井响应的影响增大。电性各向异性倾斜地层不仅造成电阻率曲线形态的变化,而且深、浅电阻率幅度差异更为复杂,给利用深、浅电阻率幅度差异定性识别油气层造成困难。     

水平井碳酸盐岩裂缝型储层双侧向测井响应特性

由于水平井的测井环境完全不同于直井,因此直井中所建立的裂缝型储层的双侧向测井响应模型、解释方法以及特征规律不适用于水平井。采用三维有限元数值模拟方法,分别对水平井中碳酸盐岩裂缝型储层的双侧向测井响应与裂缝孔隙度、裂缝中流体电阻率、基岩电阻率、裂缝倾角以及泥浆侵入半径等的关系作了正演计算与分析,并总结了水平井中碳酸盐岩裂缝型储层的双侧向测井响应变化规律。该研究成果对水平井中碳酸盐岩裂缝型储层的测井解释具有一定的参考价值。     

大斜度井双侧向测井响应数值模拟及电阻率各向异性校正方法

通过建立碳酸盐岩储层大斜度井双侧向测井响应三维有限元模型,分别模拟了井斜角、电各向异性系数对双侧向测井的影响,并制作了深、浅探测电阻率各向异性校正图板,该校正图板考虑了双侧向测井仪器的实际探测特性,比传统电各向异性校正公式具有更明确的物理意义。为了验证校正图板及校正方法的有效性,对四川盆地灯影组某碳酸盐岩储层钻取的水平方向和垂直方向岩心进行了高温、高压岩电实验,分别制作了该储层水平电阻率和垂直电阻率的温压校正图板,根据储层温度、围压条件分别校正水平、垂直电阻率,并求取储层温度、压力条件下电阻率各向异性系数。基于该校正方法对大斜度井储层双侧向测井数据进行电各向异性校正,结果表明,校正后大斜度井双侧向测井电阻率数据与邻近直井中对应储层段双侧向测井值具有更好的一致性,验证了该校正方法的有效性。     

复电阻率测井的数值模拟研究

 岩石的复电阻率频散特性与观测频率有着密切的关系。通过岩石频散特性的机理研究表明，低频时岩石的复电阻率频散特性与激发极化效应有关。针对双侧向电极系结构，对低频时的复电阻率测井进行数值模拟研究，发现井眼环境下的复电阻率测井的空间探测特性只取决于其电极系结构；井眼环境下获得的频率测井响应特性与岩石的复电阻率频散特性数值模拟实验所反映出来的规律相同。因此本文提出新的双频复电阻率测井的构想：电极系采用双侧向电极系结构；测井时分别提取低频和高频测井响应的复电阻率值及相角；再通过复数运算关系计算出同相电阻率和异相电阻率，进而用于有效地评价油气储层。     

非平行界面地层对水平井双感应测井的影响

地层电阻率是影响油气评价的重要参数,感应测井是确定水平井中地层电阻率的常用方法。在实际测井环境中,地层上、下界面往往是不平行的,在测井解释过程中,这种非平行界面地层环境对水平井感应测井响应的影响是一个值得关注的问题。基于三维数值模式匹配法,通过正演数值分析,研究了地层界面倾斜时界面倾角、地层厚度、围岩电阻率、侵入带电阻率和侵入深度等对水平井双感应测井响应的影响。结果表明,在水平井中,地层界面倾斜对双感应测井响应具有一定的影响,其影响程度的大小与界面倾角有关。在非平行界面地层中,所得结论可为水平井双感应测井解释校正提供一定的理论参考。