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在异质结双极晶体管(HBT)功率器件中可以引入外延生长的发射极镇流电阻,以改善其热稳定性.通过理论计算和实验表明这种低掺杂的外延层不仅能作为镇流电阻,而且在功率HBT器件中还能非常有效地降低发射极电流集边效应. 相似文献
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垂直发射极镇流电阻在HBT中的发射极电流集边效应中的作用 总被引:2,自引:0,他引:2
在异质结双极晶体管(HBT)功率器件中可以引入外延生长的发射极镇流电阻,以改善其热稳定性.通过理论计算和实验表明这种低掺杂的外延层不仅能作为镇流电阻,而且在功率HBT器件中还能非常有效地降低发射极电流集边效应. 相似文献
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射频功率HBT自加热效应及补偿方法 总被引:1,自引:0,他引:1
从器件I-V特性的角度,表征了射频功率异质结双极晶体管(HBT)的自加热效应。研究了器件热阻、工作电压、电流增益、发射结价带不连续性(ΔEV)等诸多因素对器件I-V特性的影响。进而研究了为补偿自加热效应所加镇流电阻对热稳定性的改善情况,给出了器件热稳定所需最小镇流电阻(REmin)与这些因素的关系。结果表明,HBT的REmin要小于同质结双极晶体管(BJT)的REmin,因此,射频功率HBT将有更大的输出功率、功率增益和功率附加效率(PAE)。 相似文献
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L波段150W宽带硅脉冲功率晶体管 总被引:3,自引:2,他引:1
设计了一种称之为多晶硅覆盖树技状结构的双极型微波功率晶体管。该器件采用掺砷多晶硅发射极,同时具备有覆盖和树枝状两种图形结构的优点。器件引入扩散电阻和分布式多晶硅电阻组合而成的发射极复合镇流电阻,实现对发射极电流二次镇流,器件表现出良好的微波性能和高的可靠性。经内匹配,在L波段脉冲输出大于100W(36V),脉宽150μs,工作比10%,增益大于7.5dB,效率大于45%,器件最大输出达150W(42V)。 相似文献
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对不添加镇流电阻的非均匀发射极条间距的多发射极条异质结双极晶体管(HBT)的射频功率性能和表面温度分布进行了测量,并与常规采用镇流电阻的多发射极条功率HBT进行了比较.实验结果表明,对具有非均匀发射极条间距的多发射极条HBT,采用US QFI TMS红外测量系统测得的最高表面温度、温度分布均匀性以及采用射频测量系统测得... 相似文献
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《红外与毫米波学报》2021,(3)
对不添加镇流电阻的非均匀发射极条间距的多发射极条异质结双极晶体管(HBT)的射频功率性能和表面温度分布进行了测量,并与常规采用镇流电阻的多发射极条功率HBT进行了比较。实验结果表明,对具有非均匀发射极条间距的多发射极条HBT,采用USQFITMS红外测量系统测得的最高表面温度、温度分布均匀性以及采用射频测量系统测得的射频功率增益和功率附加效率,分别低于、好于和高于具有镇流电阻的多发射极条功率HBT的情况。这些结果的取得,得益于采用非均匀发射极条间距改善了多发射极条HBT的热电正反馈和不同发射极条之间的热耦合,以及摆脱了传统HBT加镇流电阻带来的对射频功率性能的负作用。 相似文献
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本文针对数字化光电经纬仪需要将主摄影系统设备产生的500帧/秒,30Mbyt/s×20路的数字视频信号传输到主控计算机的具体要求,提出基于FPGA以及HDMP-1032/HDMP-1034的高速视频信息光纤传输系统设计方案。系统设计主要包括数字信号的复用/解复用,高速并/串信息转换,光纤旋转连接器等部分,应用了FPGA编程、CIMT信道编码以及高频电路PCB设计等技术实现了数字化光电经纬仪中高速视频信息的无误传输,改善了高速视频信息的传输质量。 相似文献
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随着芯片集成度的逐渐提高,芯片单位面积所消耗的功耗也越来越大,因此,可靠的电源网络设计和验证已成为芯片设计成败的关键因素之一。在以往。集成电路(IC)设计工程师往往根据经验来设计电源网络,但工艺到0.18um,这往往会引起芯片功能失效。根据这个问题。本文首先介绍电压降(IR-Drop)和电子迁移率(Electro-migration)现象和对芯片性能的影响;其次,提出一种有效的电源网络设计和验证方法,并在芯片的物理设计初期对电源网络作可靠性估计;最后,经过椭圆曲线加密芯片(ECC&RSA)的流片,表明采用该方法设计的芯片,工作情况良好。 相似文献
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Triple-push oscillator approach: theory and experiments 总被引:1,自引:0,他引:1
Yu-Lung Tang Huei Wang 《Solid-State Circuits, IEEE Journal of》2001,36(10):1472-1479
This paper presents the theory and experiments of the triple-push oscillator approach. This oscillator architecture is combined with three identical oscillator subcircuits. An analytical mode analysis is used to describe the behavior of all modes. As will be shown, odd-mode currents in each oscillator subcircuit have a 120° phase shift to one another and thus produce in-phase combining for the third harmonic. The time domain analysis was performed to simulate a triple-push oscillator, showing that the phenomenon of 120° phase shift exists among each oscillator subcircuit. To prove this concept, a 4.9-GHz hybrid bipolar junction transistor (BJT) circuit and a 28.4-GHz heterojunction bipolar transistor (BJT) MMIC chip were demonstrated. The measured results showed that the 4.9-GHz BJT triple-push oscillator delivered an output power of 1.0 dBm at 4.9 GHz with 12.0-dB fundamental rejection, and the 28.4-GHz HBT MMIC chip exhibited a measured center frequency at 28.4 GHz with an output power of -15.4 dBm, while the output powers of the fundamental and the second harmonic signals were suppressed to -21 and -34 dBm 相似文献
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This paper compares the temperature-dependent Early voltage of a silicon germanium heterojunction bipolar transistor (HBT) to that of a silicon bipolar junction transistor (BJT) fabricated with identical geometry. Derived is an isothermal expression for the forward Early voltage specifically suited to the base composition of a SiGe HBT. The expression includes two fit factors, one for the Si1-xGex alloy and the other for the nonuniform doping density. The fit factors are functions of the device temperature and are determined through pulsed bias measurements 相似文献
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The problem of taking into account the thermal processes in high-performance microcircuits based on heterostructural bipolar transistors (HBT) is considered. A new thermal model of the HBT is suggested, which differs from the known BJT504t model by the addition of thermal resistance and thermal capacity. The means to decrease the thermal resistance of the HBT and to correct the electrothermal coupling in the comparator are suggested. Simulation of the comparator using the simplified model of the transistor in a wide temperature range showed that the use of compensation makes it possible to attain a decrease in the magnitude of hysteresis by a factor of 10. 相似文献