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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 140 毫秒
1.
水果内部品质近红外光谱无损检测研究进展   总被引:17,自引:1,他引:16  
Han Donghai  王加华 《中国激光》2008,35(8):1123-1131
近红外(NIR)光谱分级技术正越来越广泛地应用于水果的产后加工和质量评判中.介绍了水果内部品质光学特性检测原理;分析了规则反射、透射和漫反射3种光特性测量方法在水果内部品质不同需求检测中的适用性;化学计量学方法是近红外光谱分析技术的一个重要部分,对一些新的预处理方法和回归算法作了介绍;探讨了水果状态对光谱影响及修正方法,如温度补偿、大小修正等;并阐述了水果的糖度、酸度、硬度等定量检测和褐变、黑心、水心、损伤等定性判别的国内外最新研究进展;分析了近红外技术在水果品质检测和控制方面的应用前景.  相似文献   

2.
用于果蔬内部品质无损检测的NIRS技术新进展   总被引:4,自引:1,他引:3  
杨春梅  李宁  赵学玒  汪曣 《激光与红外》2009,39(11):1137-1141
文中对近红外光谱在水果和蔬菜内部品质检测研究中的最新进展进行了介绍,总结了光谱检测和光谱信号处理中新颖技术的应用及便携式检测系统的发展状况,分析了近红外光谱技术在果蔬内部品质检测中存在的问题和发展方向.  相似文献   

3.
近红外光谱技术在水果品质无损检测中应用的研究与现状   总被引:6,自引:0,他引:6  
付兴虎付广伟  毕卫红 《红外》2006,27(2):33-37,48
简单概述了我国水果产业的发展现状,着重阐述了国内外利用近红外光谱技术进行水果品质无损检测的最新研究进展,分析了当今研究中存在的问题,并对利用近红外光谱技术进行水果检测的前景进行了展望,提出了一些建议。  相似文献   

4.
水果品质近红外检测技术的研究现状与发展   总被引:2,自引:0,他引:2  
简单概述了我国水果产业的发展现状,着重阐述了国内外利用近红外光谱技术进行水果品质无损检测的最新研究成果,分析了当今研究中存在的问题,提出了利用近红外光谱技术进行水果检测的发展方向。  相似文献   

5.
本文基于目前国内外对柑橘内部品质的实时无损检测还处在实验室研究阶段,现有在线无损实时检测技术和方法还不成熟且投入商业化应用较少的现状,设计并开发了一套近红外光谱采集与处理软件。该软件采用面向对象化的visual C++编程技术,可以实现实时光谱的显示、光谱文件的管理、光谱信号的实时处理以及光谱预测模型的选择等,解决了一些在线检测中的关键技术问题,为柑橘内部品质的实时无损检测提供了理论指导和参考依据。  相似文献   

6.
高光谱图像技术在水果无损检测中的研究进展   总被引:6,自引:0,他引:6  
为保证水果质量,满足企业与消费者的需求,势必要对水果进行品质检测和分级处理.高光谱图像作为一种新型的无损检测技术,融合了图像学和光谱学的优点,可以快速、无损地获取水果的空间和光谱图像信息,从而全方位的反映水果内外部的品质信息.因此,该技术在水果品质无损检测领域具有巨大的发展前景.该文主要介绍了高光谱图像系统的基本原理、图像的采集和分析方法、国内外水果无损检测的应用以及未来的发展前景.  相似文献   

7.
高光谱成像技术的苹果品质无损检测   总被引:1,自引:0,他引:1  
高光谱成像技术把二维成像和光谱技术融为一体,图像技术可全面反映水果的外部品质、表面缺陷及污染等,光谱技术则可用于水果内部品质的检测,能对水果的综合品质进行全面、快速的检测。以苹果为研究对象,得用高光谱成像技术和主成分分析方法分析了苹果的风伤和压伤,对比分析不同光谱区域主成分分析对识别结果的影响,优选出识别光谱区域(550~950nm)。通过主成分分析根据权重系数,选取了714nm作为苹果风伤研究的最佳特征波长。  相似文献   

8.
近红外光谱在线分析系统及应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
宋琼  马国欣 《红外》2006,27(11):31-37
介绍了在线近红外光谱分析系统的组成及技术发展,以及在食品加工业、农业、废弃物体自动分类、石油化工、制药与临床医学方面的应用。近红外光谱分析技术不需对样品进行前处理,可同时对多组分样品进行瞬间分析。与光纤的连用已使它被广泛应用于过程分析。近红外在线分析技术今后将向专用、小型化方向发展。  相似文献   

9.
基于近红外光谱技术的脐橙快速无损检测   总被引:2,自引:0,他引:2  
赵珂  熊艳  赵敏 《激光与红外》2011,41(6):649-652
以信丰脐橙为对象,研究基于近红外光谱技术的脐橙品质无损检测方法。利用近红外光谱技术采集脐橙的光谱信息,将采集到的光谱信息通过加权平均值的方差处理获得测量结果,然后运用偏最小二乘法建立脐橙内部有机物成分与特征光谱信息之间的耦合关系实现糖度检测。实验结果表明,近红外透射光谱技术可以作为一种准确、可靠、无损的检测方法,用于检测信丰脐橙内部的糖度指标。  相似文献   

10.
张晓慧  刘建学 《红外》2007,28(6):38-41,48
近红外光谱技术作为一种新型的分析检测技术,正在获得越来越广泛的应用。本文阐述了近红外光谱技术的基本原理、具体检测步骤和国内近红外光谱技术在牛奶及乳制品质量分析方面应用的最新研究进展。对目前研究存在的问题进行了分析,对以后进一步的研究进行了展望,并提出了一些建议。  相似文献   

11.
基于星载差分吸收光谱仪转动部件控制需求,设计了星载光谱仪转动部件的测试系统。采用微动开关复位加定步的电机运动方式实现电机的精确定位。采用脉冲调制(PWM)的方式实现驱动电流的精细调节。并搭建平台对系统进行重复性测试,实验结果表明,测试系统具有较高的可靠性和稳定性,能够满足光谱仪的精确定位要求,使电机在工作寿命内按计划完成定标工作。  相似文献   

12.
近年来,在线学习掀起了一场席卷全球的教育革命,MOOC/SPOC、翻转课堂、混合式教学对高等教育带来了前所未有的冲击。电子技术基础实验课程地位特殊,传统教学方式已无法满足创新性人才培养的需要,文章从其教学特点出发,提出了“线上教学+自主实验+翻转课堂”的混合式教学模式,同时还阐述了与此密切相关的集约化线上教学资源平台、智能化翻转教学环境以及多元化过程性考核评价机制三个重要环节。经研究发现,学生的课堂主动参与度、自主学习能力、创新思维能力、动手实践能力以及教师的教学创造力得到全面提升。教学环境支持课堂互动和全周期教学行为数据采集,体现了教学过程的信息化、教学实施的精准化和教学评价的客观化,实现了信息技术与实验教学的深度融合。  相似文献   

13.
Sn-Zn-Ag系无铅钎料焊接性能研究   总被引:8,自引:1,他引:7  
讨论了电子软钎料的钎焊性能及其影响因素,并采用铺张面积法对Sn-Zn-Ag系钎料钎焊性能进行评估。钎料的钎焊性能很大程度上取决于钎料对基板的润湿性能,而润湿性能与液态钎料在基板上的液、固、气三相界面的界面张力有关。对润湿角(θ)与铺展面积(S)之间的关系进行了探讨。  相似文献   

14.
严佳婷 《电子测试》2013,(20):119-120
上市公司为了增强市场竞争力,不断扩大生产规模,追求规模经济,但是由于我国较低生产力水平、政府干预、体制等原因,上市公司的规模经济效果并不明显。同时,20世纪90年代以来,科学技术的日益发展,改变了企业发展的外部环境和条件,使得规模经济的实现方式发生了新的变化。在信息化时代下,规模经济理论需要进一步创新和拓展,企业按照新形势来选择合适的经济规模。  相似文献   

15.
利用电磁脉冲的口径瞬态辐射场计算公式,针对圆形口径的线性相移、平方律相移等非同相口径场情况,计算了辐射高斯脉冲时的能量方向图、半能量波瓣宽度、面积利用系数等参数.计算表明,对于圆形口径非同相口径场,最大辐射场的方向为口径面法线方向,同时能量方向图关于口径面法线方向对称;随着口径的增大,波瓣变窄,无副瓣;随着平方律相移的滞后参数的增加,波瓣变宽,主瓣不分裂.  相似文献   

16.
基于压电双晶片本构方程,采用机电耦合系数的一种新的“更为合理的定义方法,分析了动态情况下悬臂梁式双晶片执行器或换能器的机电耦合特性,仿真了分析了机电耦合特性与器件材料,几何尺寸以及信号频率之间的关系,结果表明,机电耦合系数随双晶片几何尺寸及信号频率起伏变化,起伏幅度随信号频率的增大而减小,随双晶片长度厚度比的增大而减小。  相似文献   

17.
Ne原子2P_j能级寿命的测定   总被引:1,自引:0,他引:1  
周达君  程捷  李润华 《中国激光》1994,21(9):739-744
提出了一种测量原子高激发态能级寿命的简单方法,该方法采用与能级寿命同数量级的光脉冲二步激励样品,测量光电流信号与探针脉冲延时的关系,在四能级模型基础上,通过计算机模拟,求得结果,与其他方法所得结果一致。  相似文献   

18.
本文在讨论机载雷达地面杂波回波的基础上,分析了AMTI和ADPCA系统的性能。对这两个系统从原理上,并利用计算机模拟结果及实验结果进行了比较。本文将有助于工程实现。  相似文献   

19.
刘启能 《激光技术》2008,32(3):327-327
为了研究杂质的吸收对光子晶体滤波器设计的影响,引入复折射率并利用特征矩阵法,计算了滤波透射峰的峰值和半峰全宽。滤波透射峰的峰值随杂质的消光系数增加而迅速减小,滤波通道透射峰的半峰全宽随消光系数增加而增大,滤波透射峰的峰值和半峰全宽都随吸收杂质的光学厚度的增加而减小。结果表明,设计光子晶体滤波器时,必须考虑杂质吸收这一重要因素,应选择消光系数小于0.002的掺杂材料,并且杂质的光学厚度应设计在2(λ0/4)左右。  相似文献   

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