硼硅玻璃薄膜的抛光工艺

对硼硅玻璃产品的用途及加工表面质量要求进行了分析,以自制抛光机为抛光工具,抛光薄膜为抛光膜,水作为抛光冷却液,通过对大量抛光实验数据的研究,拟定了最优的硼硅玻璃薄膜抛光过程工艺.该工艺不仅可以满足加工要求,而且其冷却液还具有绿色环保作用.     

涂覆纳米TiO2薄膜的自洁玻璃研究

采用溶胶—凝胶法,并用浸渍提拉技术制备了涂覆纳米TiO2薄膜的自洁玻璃。通过热分析讨论了凝胶的转变过程。对比了自洁玻璃的亲水性,研究了该样品的光催化性能。研究表明,干凝胶的最佳热处理制度为升温速度为12℃／h．450℃时保温1h;镀膜6次的试样具有最好的光催化能力;样品在日光照射下也具有良好的亲水性和一定的自洁性能,但是,在可见光（不含紫外线）的照射下．没有体现出明显的亲水性和自洁性能。     

离子辅助沉积对TiO2薄膜应力的影响

对在离子辅助沉积（IAD）和常规工艺条件下镀制的TiO2薄膜的应力进行了试验研究，并探讨了利用台阶仪测量镀膜前后基板表面曲率的方法。结果表明，当基板温度低于100 ℃时，在离子辅助沉积工艺条件下镀制的TiO2薄膜的应力略大于在常规工艺条件下镀制的薄膜的应力；随着薄膜厚度的增加，TiO2薄膜应力逐渐减小，从125 nm的392 MPa下降到488 nm的30 MPa；离子源阳极电压对薄膜应力影响较大，在100 V时薄膜应力为164 MPa，当电压升高到190 V时，应力下降到75 MPa。     

等离子束辅助沉积制备ZnO薄膜的特性研究

采用等离子束辅助沉积的方法在n-Si(001)衬底上制备出ZnO薄膜。X射线衍射谱显示，所制备的ZnO薄膜有较强的(002)晶面衍射峰，表明ZnO薄膜为c轴择优取向生长的，并且随着退火温度升高，晶粒逐渐增大，衍射峰逐渐增强。光致发光谱测量发现，样品分别在3．28eV和2．48eV存在紫外发射和深能级发射两个较强的发射峰，并且随着退火温度升高，深能级发射逐渐减弱，紫外发射峰得到进一步改善。四探针测试电阻率结果表明，随着退火温度的升高，ZnO薄膜的电阻率呈线性增加。     

SiO2薄膜制备方法、性能及其应用的研究进展

综述了二氧化硅(SiO2)薄膜的制备方法和研究进展,介绍了磁控溅射、溶胶凝胶法和真空镀等SiO2薄膜制备方法及其优缺点,论述SiO2薄膜在光学、电学和光电等性能研究方面的新进展,最后对SiO2薄膜的应用和发展进行了展望.     

离子束辅助沉积TiO2薄膜近红外光学特性分析

二氧化钛(TiO2)作为一种常用的薄膜材料,对其近红外波段光学特性的研究很少.利用正交试验法,采用椭圆仪对TiO2薄膜近红外波段的光学特性进行了研究.着重研究了薄膜沉积速率、基片烘烤温度和氧气分压等因素对TiO2薄膜近红外波段的折射率和消光系数的影响.实验结果表明,对TiO2薄膜折射率影响最大的两种因素是薄膜沉积速率和烘烤温度.随着沉积速率的增加,薄膜折射率先增加后减小,最佳沉积速率为0.4 nm/s左右;随着基片温度的增加,薄膜折射率从2.15增加到2.23左右;氧气分压也是影响薄膜折射率的主要因素之一,结果表明氧气流量为4.0 sccm(工作真空度1.4×10-2 Pa)时折射率最大.该研究为扩宽TiO2薄膜在近红外波段的应用提供了依据.     

Si纳米晶SiO2复合薄膜的光吸收特性研究

为研究Si纳米晶粒的平均尺度与复合薄膜光吸收特性的关系,在研究了电学特性的基础上,研究了该类复合薄膜的光吸收特性。实验结果表明,复合薄膜的光吸收特性与薄膜的热处理温度有很强的对应关系。650℃热处理的样品显示出最大的电导和较强的PL吸收峰（峰位为2．10ev）,此时吸收系数达到最大值。     

溅射条件对SiO2膜力学特性的影响

介绍了在不锈钢衬底和Ｎｉ－Ｃｒ应变电阻间ＳｉＯ２薄膜的制做方法，在不宜用热氧化和ＣＶＤ法制做ＳｉＯ２膜的情况下，利用该法是行之有效的．探讨了溅射工艺条件对膜附着力和应力的影响，并指出了制备具有较好附着力和较低应力的方法．     

Structure and internal stress of Au films deposited on SiO2／Si（100） andmica by dc sputtering

Au films with a thickness of about 300 nm were deposited on SiO2/Si(100) and mica substrates by dc sputtering. X-ray diffraction spectroscopy and field emission scanning electron microscopy were used to analyze the structure and internal stress of the Au films. The films grown on SiO2/Si(100) show a preferential orientation of [111] in the growth direction. However the films grown on mica have mixture crystalline orientations of [111], [200], [220] and [311] in the growth direction and the orientations of [200] and [311] are slightly more than those of [111] and [220]. An internal stress in the films grown on SiO2/Si(100) is tensile. For Au films grown on mica the internal stresses in the [111]-and [311]-orientation grains are compressive while those in the [200]- and [220]-orientation grains are tensile. Au films grown SiOJSi(100) have some very large grains with a size of about 400 nm and have a wider grain size distribution compared with those grown on mica.     

硅酸镥单晶体生长方法研究

结合掺铈硅酸镥(Ce:Lu2SiO5)粉体的组成与性能特点、提拉法和焰熔法晶体生长工艺异同,讨论了目前使用提拉法生长掺铈硅酸镥单晶体存在的坩埚溶蚀、组分挥发、杂质浸入、闪烁性能不稳定等问题和原因,提出使用焰熔法生长Ce:Lu2SiO5单晶体可以有效解决这些问题,给Ce:Lu2SiO5单晶体的生长提供了一个新的研究方向。     

Structure and internal stress of Au films deposited on Si02/Si(100) and mica by dc sputtering

Au films with a thickness of about 300 nm were deposited on SiO2/Si(100) and mica substrates by dc sputtering. X-ray diffraction spectroscopy and field emission scanning electron microscopy were used to analyze the structure and internal stress of the Au films. The films grown on SiO2/Si(100) show a preferential orientation of [111] in the growth direction. However the films grown on mica have mixture crystalline orientations of [111], [200], [220] and [311] in the growth direction and the orientations of [200]and [311] are slightly more than those of [111] and [2201. An intemal stress in the films grown on SiO2/Si(100) is tensile. For Au films grown on mica the internal stresses in the [111]- and [311]-orientation grains are compressive while those in the [200]- and [220]-orientation grains are tensile. Au films grown SiO2/Si(100) have some very large grains with a size of about 400 nm and have a wider grain size distribution compared with those grown on mica.     

氧分压对TiO2薄膜光学性能的影响

为得到光学性能良好、稳定的TiO2薄膜,采用离子束溅射的方法,改变氧分压,在k9玻璃上制备出不同结晶取向不同光学常数的TiO2薄膜.采用椭圆偏振光谱仪测试、拟合得到薄膜的厚度、折射率和消光系数.薄膜通过400℃退火,利用X射线衍射仪(XRD)对薄膜的成分、结晶和取向进行分析.实验结果发现,随氧分压增加折射率减低,当氧分压达到1.0×10-2Pa时,折射率在2.43附近,变化趋于稳定.氧分压对薄膜的消光系数k影响较大,氧分压高于1.0×10-2Pa时在可见光和近红外区薄膜消光系数近似为0.随氧分压降低,薄膜从(101)向(200)转变.在此氧分压下,得到的薄膜折射率稳定,消光系数相对较小.