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本文介绍了透射式电子显微镜(TEM)用的横截面样品的制作技术。利用这一技术制出的样品,用TEM观察到了GaAs/AlGaAs超晶格结构中周期性的精细成分调制的新现象。在金属有机化合物汽相沉积(MOCVD)生长的GaAs/si材料中还观察到一些新形状的位错、微孪晶等。这一种制样技术也适用于其他半导体材料系统的研究。 相似文献
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共缩聚法制备功能化P(St-MPS)/MCM-41核壳复合微球 总被引:1,自引:0,他引:1
以聚(苯乙烯-γ-甲基丙烯酰氧基丙基三甲氧基硅烷)(P(St-MPS))微球为核模版,十六烷基三甲基溴化铵为壳模版,以P(St-MPS)微球、正硅酸乙酯与MPS的混合物为硅源,直接在无皂乳液中通过共缩聚方法合成表面链有碳-碳双键功能基的P(St-MPS)/MCM-41核壳复合微球;采用TEM,XRD和FT-IR对产物进行了表征.结果表明,表面功能化的P(St-MPS)/MCM-41核壳复合微球可以直接在无皂乳液中一步合成,所制备的核壳复合微球粒径约为260 nm,壳层约为10 nm. 相似文献
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聚焦离子束(FIB)因其制样成功率和效率高,可定点精确制样等特点已经成为半导体失效分析领域重要的透射电子显微镜(TEM)制样方法。利用双束FIB系统针对TEM样品制备条件对样品形貌的影响进行了分析和研究。通过控制变量法等方法分析了FIB的电子束或离子束等制样条件可能对样品带来的损伤。通过实验发现,FIB的离子束能量对TEM样品热损伤影响较小,电子束的电压和电流是引起样品损伤的主要因素。实验证明,在电子束辅助沉积保护层时适当降低电子束的电压和电流,可有效改善样品的微观形貌。 相似文献
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传统透射电子显微镜(TEM)观察液态样品特征时,通常将其先速冻成固态,而原位TEM可以动态地观察液态样品的变化,避免了一些额外因素的影响。设计了一款基于微机电系统(MEMS)技术的非流动原位液体TEM芯片,用于对液态样品结构动态变化的实时观测。采用低压化学气相沉积(LPCVD)法制备50 nm厚的低应力氮化硅薄膜作为芯片的电子束透射窗的材料,并在窗口层上面制作金属网格来加固其承载能力,采用MEMS技术完成了芯片的制造。实验结果表明,TEM芯片在相应的TEM样品杆的辅助下,成功实现了对铜纳米粒子生长过程中形态变化的实时观测。 相似文献
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本文运用明、暗场互换观察法和样品倾斜法对一种罕见的高尔基体内含物进行了立体结构观察和研究。结果表明,这种高尔基体内含物是由集中于扁囊及囊泡中部的高电子密度物质和其周围的微纤丝样结构组成。在扁囊中,微纤丝样结构以S形结构为中轴呈放射状分布,并与扁囊膜相连。在囊泡中,这些微纤丝样结构结成网状。明暗场互换观察法所得的浮雕象具立体感,能将细胞的膜性结构和纤维状结构显示得更加清晰,但它不能反应出细胞超微结构本身的三维图形,而运用样品倾斜法可以达到这一目的。 相似文献