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阵列侧向测井具有较高的纵向分辨率,在径向上可以提供多种探测深度的测量曲线,为地层侵入剖面的描述提供更加详细的信息,但其测井结果不可避免地会受井眼的影响,特别是浅探测深度的测井结果受井眼影响尤为严重;因此,需要对其进行井眼校正。文中以斯伦贝谢公司推出的高分辨率阵列侧向测井仪HRLA为例,在分析阵列侧向测井井眼影响的基础上,对HRLA的井眼校正图版进行数字化,然后优选Akima插值算法实现了图版曲线高精度插值拟合,利用网络加权分析实现了井眼影响的自动校正,并编制程序对实际阵列侧向测井资料进行自动连续校正处理。应用结果验证了对井眼影响规律的分析。校正结果表明,该校正方法和处理程序提高了井眼校正的精度和效率,具有良好的实用性。 相似文献
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随钻电阻率测井同裸眼井电阻率测井一样,要受到井眼(井径大小、泥浆电阻率高低)影响。目前,对电缆测井资料的井眼影响校正主要有图版校正法和自动校正法,而对随钻电阻率测井资料的井眼影响校正国外三大测井公司多采用图版校正法。这种校正方法工作量大,较为繁琐且人为误差较大。本文采用的自动校正法是先对井眼影响校正图版进行离散采样读值,采用回归分析法拟合读值点数据得出校正公式,编程后挂接在EDA解释平台上形成随钻电阻率测井井眼校正模块。用此方法对哈里伯顿仪器实测的多口井随钻电阻率测井资料进行井眼影响自动校正,校正的结果与理论值和图版法非常接近,合理可靠,效果良好。 相似文献
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多年来,井眼影响一直被看作为不稳定试井分析中非常重要的影响因素。其它文献已经评价了井眼内流体及相态重新分布对压力瞬时响应的影响。描述这些影响的分析方法众所周知,然而,尽管人们知道其它井眼现象可能也会影响压力瞬时响应,但是几乎没有人提出评价不稳定试井中井眼现象的方法或其产生的原因。本文对所产生的井现象──包括质量影响和动量影响进行了分析,提出了将这些影响因素添加到传导方程通解中的方法,并提供了不稳定试井中确定这些影响的一般准则,此外,文中还提出,不稳定试井分析的相态重新分布实际上是井眼质量影响的特例,其应用范围比以往所认识到应用范围广得多。除了描述井眼影响的一般方法外,文中还提出了这种情况下,包括井眼流体受热或冷却、井眼中流体相态的改变以及由于井眼中流体突升、突降而产生的分析压力方程。 相似文献
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