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相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 156 毫秒
1.
朱耆祥 《光电工程》1994,21(3):9-15
文中叙述了以CCD为探测器的柔性喷管六自由度多路并行实时光电测量系统,说明了系统的用途、技术参数、测量原理、数学模型、系统组成及为达到技术指标要求在设计制造中采取的措施和系统最终的研制结果。  相似文献   

2.
光电摆角测量系统中CCD信号检测与处理电路设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文介绍了在光电摆角测量系统中,采用多片CCD同步采样实现物体空间摆角实时测量的方法。给出了CCD工作参数和输出信号处理电路的设计,讨论了工程中的有关问题。  相似文献   

3.
毛羽国 《光电工程》1999,26(2):9-13
采用3套7路CCD光电探测器,对被测物体的空间6维运动通过贴附在物体上的3个互相垂直的靶标,进行非接触多路并行动态实时测量,通过7个测量值的不同组合,解算出物体的6维运动参量(ax,ay,az,X,Y,Z)。  相似文献   

4.
本文介绍了一种利用自扫描光电二极管阵列(SSPDA)图象传感器作为光电转换器件,可用于大面积显示器件图象质量评价和测微领域的测量系统。该系统由光学成象、SSPDA图象传感器、数据采集、接口电路和微型计算机等部分组成,能对各种被测量参数进行处理,并打印出数据和曲线。通过对彩色显象管(CPT)的线宽、三束间距以及光学狭缝等的测试,该系统显示了足够的测量精度。  相似文献   

5.
6.
大视场光电测量系统实时   总被引:9,自引:1,他引:8  
给出了多相机系统大视场拼接成像的空间坐标关系,建立了数学模型,在此基础上,对引起大视场光电测量系统测量误差的因素进行了初步的分析,并给出了系统综合测量误差现场标校的方法与步骤。  相似文献   

7.
鞋楦三维面形光电自动测量系统   总被引:2,自引:0,他引:2  
  相似文献   

8.
CCD增维测量原理及其在二维光电准直仪中的应用   总被引:2,自引:0,他引:2  
详细讨论了CCD增维测量原理,并将此原理应用于光电自准直仪的设计中.分析了制约测量范围的因素,通过对分划板刻线形式的改进,将CCD的像面利用率提高了60%,文中详细描述了测量系统的机构布置,最后给出了实验结果  相似文献   

9.
CCD增维测量原理及其在二维光电直仪中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
详细讨论了CCD增维测量原理,并将此原理应用于光电自准直仪的设计中,分析了制约测量范围的因素,通过对分划板刻线形式的改进,将CCD的像面利用率提高60%,文中详细描述了测量系统的机械布置,最后给出了实验结果。  相似文献   

10.
在研究日蚀对地球元素光谱的影响时,需要对大量光谱线距进行精密测量本文根据光谱学和双管差动动态光电显微镜工作原理,推导出一套测量光谱线距的公式,并给出了实验验证和操作原则。  相似文献   

11.
动态光电自准直仪   总被引:1,自引:0,他引:1  
动态光电自准直仪是JC-1型精密测角仪中的关键部件。测角时作自准直仪,测玻璃折射率时作谱线接收光管用。本仪器既能动态自动对准,又能静态目视对准。经鉴定:动态光电自准直仪的动态重复定位精度σ=0.022″。本文将介绍动态光电自准直仪的工作原理、特点和精度分析。  相似文献   

12.
双光束法测速度时测量角产生的影响   总被引:1,自引:1,他引:0  
本文讲述了利用双光束法进行无接触流速的测量。并着重讨论和分析了不同测量角所带来的不同影响,以及最佳测量角的选定。  相似文献   

13.
本文给出了一种实验研究冲击压缩下靶板表面漫反射率的光电技术 ,该技术使用激光作为外光源照射随机粗糙的靶板表面 ,同时测量不同立体张角的漫反射激光功率 ,进而得到表面反射率。测量系统中 ,用偏振分束器将激光与热辐射进行偏振分离 ,再将两束振动方向相互垂直的偏振光相减 ,完全消除了热辐射对信号的影响。已用该技术实验研究了钨靶在冲击压缩下的表面反射率 ,获得了较好的实验结果。文中对实验结果进行了简单的分析  相似文献   

14.
用水准仪进行路形参数测量,或用机械式路形记录器获得路形参数的方法,已不能适应高速公路发展的需要。本文提出用激光、光电编码器以及微机组成的路面形状测试方法及系统,并进行了可行性研究,做了模拟路面参数测量试验,获得了较好的效果,可供高速公路部门参考。  相似文献   

15.
李志能 《光电工程》1996,23(5):50-56
研究了彩色显象曝光台光电检测系统中,采用多片线阵CCD实现显象管曝光台8个特征点水平微小位移实时同步测量的方法,给出了CCD工作参数和输出电路设计。  相似文献   

16.
本文介绍了一种用计算机控制的光辐射探测器光谱特性自动测试系统,主要阐述了它的基本工作原理,设计思想.测试信噪比问题的讨论和误差分析。  相似文献   

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