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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 468 毫秒
1.
本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上,提出了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略,将所有块分为数据块区和好块保留区,通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT(bad block table)和块保留映射表RTT(reserved translate table)实现坏块的识别和替换,同时将两表保存于NAND Flash中,保证了坏块信息的非易失存储和坏块查询的高速性能。本方案全面考虑了坏块产生、坏块识别、坏块信息存储、坏块高速替换,是坏块管理的完整解决方案。经实验表明该方案具有坏块信息容量小、替换速度快、实现可靠等优点。  相似文献   

2.
基于NAND Flash数据采集存储系统缺乏有效的存储管理方法,对数据的存取灵活性较差.针对该缺点,设计了一款基于Zynq的大容量存储系统.该存储系统一方面采用Zynq内的PL实现对NAND Flash芯片时序控制及坏块管理;另一方面采用Zynq的PS将FAST算法和FAT文件系统有机结合,实现了对NAND Flash存储数据的灵活管理.此外,实现了AXI DMA高速传输通道,解决了PL和PS间高速数据传输的瓶颈问题.系统测试结果表明,设计的NAND Flash储存系统速度较高,性能稳定,能实现对NAND Flash存储的高效管理.  相似文献   

3.
数据采集存储系统具有广泛的应用,在进行高速采集等需要将数据进行先存储后传输的场合中,系统数据的高速可靠存储能力是制约系统速度与可靠性的主要因素之一.它要求系统在短时间内能够可靠存储大容量的采集结果.针对一些特殊研究和生产场合的高速数据流无丢失大容量存储的要求,设计了基于FPGA的多通道多速率混合测试存储系统.为了保证多通道数据的高速可靠存储,系统综合采用编码多通道数据、高速数据流乒乓传输、带快速坏块检测的Flash存储等手段.仿真表明采用该存储方案可以保证高速数据流无丢失大容量存储.  相似文献   

4.
本文针对SAMSUNG公司的NAND型Flash提出了一种通用的Flash检测系统的设计方案,此方案同时用于数据采集系统的数据读出.采用FPGA作为主控制器对FLASH进行操作,系统与主机之间采用USB2.0接口芯片CY7C68013实现通信.针对Flash中的无效块问题,本文提出一种Flash坏块的检测处理方案,这种方法也适用于大容量数据采集系统中.  相似文献   

5.
李菲  张会新 《电测与仪表》2020,57(14):124-128
针对战斗部舱内相关参数的高速存储任务,设计了一种基于eMMC的高速固态存储系统。该系统以FPGA为控制芯片,实现接收和存储一体化数据综合器输出的PCM数据和图像数据的功能,提高系统的兼容性。与传统的存储系统相比,该系统的存储单元使用了eMMC器件,此器件集中了单块芯片上坏块检测和复杂的系统管理问题,与传统的Flash相比,使用更加方便。实验证明,基于eMMC的高速固态存储系统能够确保数据无误码可靠接收和存储,同时自身具备防护能力,能够适应落地冲击等恶劣环境。  相似文献   

6.
嵌入式WinCE系统由于某些源码没有公开,该系统下NAND Flash的移植比较困难。为了研究NANDFlash在该系统下的移植方法,以基于WinCE5.0内核在脉冲发生器嵌入式平台上移植NAND Flash为实例,通过详细分析WinCE操作系统对存储器的管理体系和NAND Flash底层驱动的实现原理来重点说明了NAND Flash在WinCE嵌入式系统中的移植方法,最后通过具体的驱动移植实例验证了移植方法的可行性。  相似文献   

7.
本文介绍一种以FPGA为控制器,FLASH作为主存储器的大容量高速阵列存储系统。针对单片闪速存储器NAND FLASH容量相对较小、存储速度相对较低且存在随机无效块等问题,提出一种由单片NAND FLASH构建大容量高速存储阵列,并根据阵列的结构特点管理无效块的方法。实验结果证明,该系统稳定可靠且达到预期的存储容量和存储速度。  相似文献   

8.
本文介绍一种以FPGA为控制器,FLASH作为主存储器的大容量高速阵列存储系统。针对单片闪速存储器NAND FLASH容量相对较小、存储速度相对较低且存在随机无效块等问题,提出一种由单片NAND FLASH构建大容量高速存储阵列,并根据阵列的结构特点管理无效块的方法。实验结果证明,该系统稳定可靠且达到预期的存储容量和存储速度。  相似文献   

9.
U-Boot是一款非常优秀的嵌入式Bootloader,能够支持TFTP协议从网口下载内核镜像,但不支持从NAND Flash启动.本设计的目的是实现U-boot从NAND Flash的启动.本文详述了基于S3C2410开发板的移植过程,分析U-boot的启动流程的两个阶段,结合NAND Flash自身特殊的物理组织结构,增加U-boot对NAND Flash读写操作的支持,使其能够完成将NAND Flash上存储的U-boot代码段拷贝到sdram中执行.依此方法移植U-boot成功实现了从NAND Flash启动,再通过修改U-boot的其他部分最终实现了引导Linux操作系统内核启动的功能.  相似文献   

10.
NAND存储器在嵌入式系统中的应用   总被引:2,自引:0,他引:2  
高文青  沈维聪 《电测与仪表》2008,45(2):45-48,57
NAND Flash 以其存储容量大,体积小,读写执行速率高,接口电路简单而成为当今低成本存储器市场的首选产品.YAFFS 作为 NAND Flash 的专用文件系统一直无法直接,使用 U-Boot 烧写.本文介绍了 NAND Flash 的结构和 YAFFS 文件系统数据在 NAND 上的存储方式.结合 U-Boot 烧写数据的方法给出实现 YAFFS 文件系统烧写的具体步骤.  相似文献   

11.
小功率金卤灯再启动特性机理的探讨   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用专门设计的金卤灯再启动特性测试仪记录了金卤灯再启动特性的若干典型曲线,对某些异常特性的发生机理进行了分析,找到了它们与金卤灯内在质量的联系,研究表明通过测量金卤灯的再启动特性可以方便地诊断金卤灯的内在质量。  相似文献   

12.
电网运行中GW4、GW5、GW7等型隔离闸刀触头容易发热,影响变电设备的操作和安全运行;通过分析闸刀触头发热的原因,找出处理发热的办法,以解决触头发热的问题,促进电网安全生产和稳定运行。  相似文献   

13.
发电机定子绝缘剩余寿命评估参量的选择   总被引:3,自引:2,他引:1  
为选择发电机定子绝缘剩余寿命评估的特征量,测量了运行23年的发电机定子线棒局部放电、tanδ和击穿电压等参量,分析了非破坏性参量与击穿电压的关系,并根据绝缘老化机理和过程,得出了tanδ、Δtanδ、S+k,S-k, Asy等5个特征参量。分析发现第一主成分中上述参量的比重较大,证明它们能较好预测绝缘的老化状态。  相似文献   

14.
论述发电机转子动态不稳定接地故障的分析处理方法.  相似文献   

15.
介绍了用直接测量法评价动态信号分析仪的频谱幅值和频率指标时,测量结果的不确定度分析和评定过程.讨论了影响频谱幅值示值误差和频率示值误差的测量不确定度的几个主要来源.通过实例,给出了频谱幅值示值误差和频率示值误差的不确定度分析和评定结果.  相似文献   

16.
根据规划在黄河北干流上布置万家寨、龙口、天桥、碛口、古贤、甘泽坡6座水利枢纽工程。北干梯级开发可有效控制和管理黄河的水沙关系、洪水;改善生态环境,使水资源得到合理利用;向华北电网提供大量电力,对秦晋2省工农业、通航和旅游等具有促进作用,并带动地方经济的发展。  相似文献   

17.
刘丽珍  王碧 《电力学报》2008,23(2):91-93
大型企业电网的负荷特性主要表现为感应电动机群特性,为了改进现在常用的电力系统潮流算法中用恒功率模型来表征节点负荷,不能满足工程精度要求的问题,提出了在对企业电网负荷节点电动机群进行等效变换后,引入负荷特性的潮流计算的思路,在此基础上进行了理论推导,并经过现场实测数据,进行了仿真。仿真结果表明,负荷特性的潮流计算方法符合企业工程精度要求,可以达到提升业电网潮流计算结果在精确度、实用度等方面的要求,具有一定的理论和工程意义。  相似文献   

18.
给出了凝汽器热水井冲击振动发生的部位及具体原因。结合机组的实际情况,实施了优化运行、设备治理及系统改造等综合治理措施。  相似文献   

19.
绝缘子憎水性图像水珠/水迹形状提取算法   总被引:1,自引:0,他引:1  
绝缘子表面憎水性检测是判别绝缘子性能优劣的主要手段.传统的检测方法具有其主观性,图像处理技术的引入为憎水性检测提供了更为客观的方法.考虑到绝缘子所处环境的复杂性(污秽、光照等)以及憎水性图像本身的特殊性(水的透明性),本文首先对绝缘子憎水性图像进行自适应直方图均衡和基于模糊逻辑的滤波,以达到增强图像的效果;然后通过基于模糊熵的自动阈值分割方法来获取水珠(水迹)的形状信息,最后用数学形态学的二值重构开运算来去除由于分割引入的噪声.实验统计结果表明,该方法能够对各级憎水性图像进行有效地分割.  相似文献   

20.
压实度标准制定的合理性   总被引:5,自引:0,他引:5  
通过土料干湿法对比试验和环刀取土尺寸效应对比试验, 探讨了影响分层碾压土基垫层 压实度的主要因素, 指出通过击实试验制定土基压实度标准和施工质量检验时应注意的问题, 以及如何确保压实度标准制定的合理性和现场检验的客观性。  相似文献   

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