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本文简要介绍大规模集成电路测试系统的构成、功能以及如何使用这些功能测试器件。对于测试图形的生成以及各种波形方式作了粗略叙述。文章最后对该系统的选件功能和使用方法作了概括性说明。 相似文献
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ZB-792系统是在ZB-781、ZB-791系统基础上,为适应VLSI制版需要而发展起来的版图图形编辑软件系统。它运行了操作系统RDOS支持下的DJS-130或NOVA机。 相似文献
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图形发生器控制程序MSKGR是高效制版软件CM24—Ⅰ的一个部分,它用扩展汇编书写,在RDOS管理下运行。根据需要,该程序可装配在前台使用,也可装配在后台使用。占用内存约5K字。本文仅对实时控制程序MSKGR作一首介。 相似文献
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本文首先介绍了用DJS—061—1(或MEK6800D_2)微型计算机测试各种LSI电路的原理和方法。进而介绍了运用DJS—061—1机的并行接口PIA—B组成通用测试接口,直接对DJS—061机的MPU分片电路、PIA接口、EPROM、ROM、RAM等多种LSI进行测试的有关技术。本文的后一部分介绍了用DJS—061—1型(或MEK6800D_2型)微型计算机为控制机组成一个小的LSI芯片测试系统的有关技术,包括LSI芯片测试的保护与隔离、探针不良的计算机辅助诊断和LSI常见工艺缺陷的计算机辅助分析。此外还介绍了运用DJS—061—1(或MEK6800D_2)组成全自动LSI芯片测试系统的设计技术。 相似文献
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日本电气公司开发出将以前需几小时到一天的存储器LS故障诊断缩短到30秒左右的新型专家系统,用它可使原先依靠技术工人手工操作的查找故障迅速完成,能大幅度提高质量管理工越的效正。该系统于1993年中期面向国内外L厂销售。所开发的“MEMOFANAX”系统是基于涉及360种专家的秘 相似文献
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已设计一种随机存取读/写存贮器系统,以满足高速存贮应用的多种需要。包括存贮器体系中的暂存存贮、控制存贮器和缓冲存贮器。基本产品是一种1024字×9位的存贮器卡片式扦件,取数时间为40nS,周期时间为80nS。它合并所有地址缓冲和译码、输出读放和输出互锁电路构成一个完整的功能存贮部件。特点包含每位6mW的低功耗,每平方英时200位 相似文献
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激光图形发生器是一种用于图形转化的硬件接口设备,直接影响着掩膜版的加工质量。激光图形发生器曝光过程中出现的曝光偏移、曝光遗漏问题,严重影响了掩膜版加工的质量和成品率。通过实验和分析,总结了产生曝光偏移、曝光遗漏的一些原因。 相似文献
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引言在设计计算机图形显示系统时遇到的主要问题之一是:为了描述一幅图象需要大量数据。显示高质量图形的光栅扫描系统需要500,000信息位来描述一幅画面。能够画直线和圆的普通“笔划”系统,如果图象简单,则所需要的数据较少,但提高图象的复杂程度,同样也要求有大量的数据。在设计远距离终瑞用的图形显示系统时,上述问题由于受到中央数据源和终端之间的数据传送率的限制而变得更加复杂。虽然高速数 相似文献
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曹之江 《计算机研究与发展》1977,(3)
本文的目的是说明对存储器和 MSI/LSI 器件时间测试的要求。这些器件即使通过了功能和参数二种测试,如果不满足某些适当的时间要求,那么它们实际上仍然得不到应用。在存储器中,包括芯片选择、读出访问和写入访问在内的访问时间的测量和数据、芯片选择、地址建立以及保持的时间关系一样部是非常重要的。MOS 器件也必须在最大的时间范围内满足给定的功能。为了提供某些有关的和基本的资料。先调查一下普通半导体存储器器件(RAM)以及它们的时间 相似文献
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介绍一个在Windows环境下,用BorlandC^++3.1开发的通用函数图形发生器的结构和功能,讨论了实现中的表达式求值算法和图形生成算法。FGG的主要特点是,对输入的任意一元、二元函数表达式可直接生成对应的二维和三维图形。FGG作为CAI开发工具的支撑软件,可用于CAI课件的开发。 相似文献
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本文在Bresenham算法的基础上,提出一种圆生成算法,这种算法应用于电子束曝光机基于DSP芯片的新型图形发生器中。它通过实时计数,可以快速、准确的得到圆上各象素点的坐标。简化了数据处理过程,提高了处理速度,并大大提高了圆生成的精确度。 相似文献
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《电子制作.电脑维护与应用》2020,(13)
分析了浪涌发生器的校准原理,针对实验室的检测需求基于LabVIEW虚拟仪器技术自主研发了一套简易有效的自动测试系统。系统能够实时采集发生器的输出波形,并自动计算出波形的峰值、波前时间以及持续时间,最终把波形和数据以报告的形式输出。 相似文献