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研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。 相似文献
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宋跃 《现代仪器使用与维修》1997,(4):37-41
本文论述了用MCS-51系列单片微机控制的数字集成电路,ADC器件、DAC器件,集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计,研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比,具有体积小,重量轻,扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能/价格比高的便携式测试仪。 相似文献
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基于数字温度传感器DS1620的储粮温度自动测试系统 总被引:3,自引:0,他引:3
文中介绍了数字式温度传感器DS1620的特点与工作原理,研制了一种基于DS1620的储粮温度自动测试系统,给出了系统结构和软件流程。实际应用表明,该系统具有结构简单、数据传输可靠等特点。 相似文献
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针对机械轴承早期故障诊断提出了多稳随机共振检测方法。分析了系统参数对多稳系统结构的影响,研究了高斯噪声背景下基于多稳随机共振的微弱信号检测方法。采用平均输出信噪比作为衡量指标,以多频微弱信号为待测信号进行数值仿真,并将其应用于滚动轴承故障信号检测中,实验结果均表明,该方法对早期故障振动信号具备准确的诊断能力,为其应用于工程实践奠定了基础。 相似文献
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