雷达装备测试性验证及应用研究

针对目前雷达装备测试性论证、设计和验收中缺乏系统、有效的测试性验证方法的问题,提出了适合于雷达装备测试性验证程序和实施方案,重点对测试性定量指标验证样本量的确定方法、故障注入模式的选取原则、故障样本分配以及系统测试性评价进行了研究;该验证方法充分考虑了装备承制方和订购方风险,可用于雷达装备故障检测率、故障隔离率和虚警率的验证与评估;最后进行了实例分析,结果表明该方法能够达到测试性验证的效果,具有一定的实用性和参考价值。     

基于蛙跳算法的装备测试设计优化方法

装备测试性设计方案的选取是一个测试设计的优化问题。在评析现有测试设计优化模型的基础上,综合考虑技术风险、进度风险、人力耗时和"性价比"因素,建立装备测试性设计优化的数学模型。采用蛙跳算法进行模型的优化求解,并针对该算法在收敛速度慢和早熟方面的不足,设计改良方法。通过仿真实验说明了该方法具有较好的收敛速度和求解精度。     

基于雷达的测试性设计优化方法应用研究

基于雷达等电子产品测试性要求的不断提高,对产品进行测试性设计迭代并进行测试性验证,成为对电子产品的普遍要求。由于初始设计有缺陷、覆盖故障模式不全等引起测试性设计不能满足要求,开展闭环测试、脉冲检测、隔离策略优化等测试性改进,最终选择软、硬件改进相平衡的方案,通过回归试验,获得满足指标要求的检测率和隔离率结果,优化方法促进了产品的测试性设计改进和增长。     

测试性技术在VXI总线雷达自动测试中的应用

本文重点论测试性自动测试系统的影响，叙述测试性技术在ＶＸＩ总线雷达自动测试中的应用，最后阐述ＶＸＩ总线雷达自动测试系统的主要特点。     

雷达对抗装备软件测试系统的设计

专业化的软件测试评估平台是该类装备软件测试的重要支撑。为了对雷达对抗装备的显控、信号处理软件等进行全面、系统、准确的测试考核,在复杂电磁环境下雷达对抗装备及其配属软件试验/测试方法的基础上,研究建立雷达对抗装备软件测试系统,来提信号逼真、供可调可控的测试环境以及专业化、精确化的信号输入。通过复杂环境、软硬约束、特定方法等的分析研究,提出雷达对抗装备软件测试系统的主要设计思想,进行功能、性能设计,并给出该系统的主要组成和初步设计方案。利用提出的设计思想和方案,开展相应系统的研制,该系统提供包括测试环境模拟生成方法、被测件运行驱动方法、测试执行与数据采集方法和测评过程管理方法的测试应用,为全面地考核复杂电磁环境下雷达对抗装备软件提供更为有效的测试方法和更加丰富的技术手段。     

机载装备测试性模型设计与优化

现代机载武器高度集成化、层次化的特点使得多数外部设备无法对其添加足够的测试点以获取全部的故障诊断信息,导致自动检测效率低下。提出一种层次化测试性建模方法,通过对复杂系统层次划分,建立起包含全部测试属性的多层次测试性有向图模型。基于该有向图模型,分析模型中各单元模块与测试间的关系,建立故障-测试相关性矩阵并得到模型的测试性属性。利用模型测试点和测试项的优化反馈结果,更新测试设备中的测试程序集。在测试执行期间不断积累维修经验,修正故障概率,更准确地将故障定位到满足当前机载设备维修精度的层级。最后以某温控系统为例进行分析,对本文所提方法的有效性进行验证。结果表明,该建模方法将优化模型的可测试性,提高外部测试设备对机载装备的检测效率及维修深度。     

基于虚拟仪器的雷达装备ATS使用测试性验证系统设计

针对现有雷达自动测试系统(ATS)测试性验证困难的问题,设计了一种基于PXI总线的通用ATS使用测试性验证系统,并详细说明了系统的软/硬件设计及相应关键技术;该系统以PXI嵌入式主控计算机为核心,以NI LabWindows/CVI标准开发环境构成虚拟仪器测试系统,综合运用计算机测控技术,PSPICE层次化建模及其与CVI的混合编程技术,标准接口及总线技术等,有效地提高了系统的可信性、通用型和灵活性;验证示例表明,该系统自动化、智能化程度高、适应性强,通过相应适配器的开发可以完成基于仿真的半实物通用装备ATS使用测试性验证,对现有装备的测试性提高具有重要意义,可以促进测试性的不断增长.     

SOC可测试性设计与测试技术

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.     

电子装备测试性融合评估方法

测试性是装备通用质量特性之一，其设计水平直接影响了装备保障效能的发挥，如何更加真实的评估装备的测试性水平是当前研究的热点。在研制阶段装备实物测试性试验数据数量少、获取难、费用高，可认为是“小子样”数据，为了更加全面客观地评价装备的测试性水平，需要充分利用测试性仿真试验获取仿真数据进行融合评估。进行测试性仿真试验时，研究电子装备的仿真模型、故障模型、仿真故障注入方法，获取测试性仿真数据；在此基础上，将仿真试验数据作为验前信息并进行的处理，结合“小子样”装备实物试验数据，采用贝叶斯方法进行测试性试验数据的融合来评估装备的测试性水平，提高评估结果的客观性和可信度。通过案例分析，验证了测试性融合评估方法的有效性。     

装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究

随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高,电路和系统的可测试性急剧下降,传统测试技术已经不能满足需要。针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求,通过对IEEE1149系列边界扫描测试标准进行了研究分析,分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系,可以分析梳理IEEE1149标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性,探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路。将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计,能有效地解决传统测试性设计的问题,能够提升诊断能力,缩减产品生产周期及研制费用。     

基于数字孪生的测试性验证技术

针对型号测试性验证工作中存在的验证周期长、验证时机滞后、验证环境受限等问题,开展了基于数字孪生技术的测试性验证技术研究,重点关注数字孪生技术框架和关键技术研究,包括基于数字孪生驱动的故障模式分析、基于数字孪生驱动的故障模式空间模拟、基于数字孪生驱动的故障模式分配与注入、基于数字孪生驱动的数据融合技术,以期实现装备全生命周期的测试性验证与增长。形成一套基于数字孪生驱动的测试性验证流程及方法,用于指导新研产品的测试性验证工作。     

The Methodology of Testability Prediction for Sequential Circuits

Increasingly,test generation algorithms are being developed with the continuous creations of incredibly sophisticated computing systems.Of all the developments of testable as well as reliable designs for computing systems,the test generation for sequential circuits is usually viewed as one of the hard nuts to be solved for its complexity and time-consuming issue.Although dozens of algorithms have been proposed to cope with this issue,it still remains much to be desired in solving such problems as to determin 1) which of the existing test generation algorithms could be the most efficient for some particular circuits(by efficiency,we mean the Fault Coverage the algorithm offers,CPU time when executing,the number of test patterns to be applied,ectc.)since different algorithms would be preferable for different circuits;2)which parameters(such as the number of gates,flip-flops and loops,etc., in the circuit)will have the most or least influences on test generation so that the designers of circuits can have a global understanding during the stage of designing for testability.Testability forecastin methodology for the sequential circuits using regression models is presented which a user usually needs for analyzing his own circuits and selecting the most suitable test generation algorithm from all possible algorithms available.Some examples and experiment results are also provided in order to show how helpful and practical the method is.     

Defining testability metrics axiomatically

Testability measures have been defined on flowgraphs modelling the control flow through a program. These measures attempt to quantify aspects of the structural complexity of code that might give useful information about the testing stage of software production. This paper shows how two such metrics, the Number of Trails metric and the Mask [k = 2] metric, can be calculated axiomatically.     

深亚微米SoC芯片的可测试性设计

深亚微米工艺使SoC芯片集成越来越复杂的功能,测试开发的难度也不断提高。由各种电路结构以及设计风格组成的异构系统使测试复杂度大大提高,增加了测试时间以及测试成本。描述了一款通讯基带SoC芯片的DFT实现,这款混合信号基带芯片包含模拟和数字子系统,IP核以及片上嵌入式存储器,为了满足测试需求,通过片上测试控制单元,控制SoC各种测试模式,支持传统的扫描测试以及专门针对深亚微米工艺的,操作在不同时钟频率和时钟域的基于扫描的延迟测试模式,可配置的片上存储器的BIST操作以及其它一些特定测试模式。     

Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis

A fault diagnosis procedure for analog linear circuits is presented. It uses an off-line trained neural network as a classifier. The innovative aspect of the proposed approach is the way the information provided by testability and ambiguity group determination is exploited when choosing the neural network architecture. The effectiveness of the proposed approach is shown by comparing with similar work that has already appeared in the literature.     

软件测试性设计综述

软件测试性设计分为四类：设计时应当遵循的测试性设计原则,通过改变设计或代码提高软件测试性的专用测试性设计技术,为软件增加专门测试结构的结构化测试性设计技术和在软件开发全周期考虑软件测试的测试性设计综合技术。软件测试性设计方法借用了很多硬件测试性设计思想,但在许多方面还能进一步发展。     

Communications software design for testability: specification transformations and testability measures

To deal with the increased complexity related to the testing of communications software, we propose the integration and application of finite state machine based specification transformations and testability measures early in the communications software development process. Based on this integration, the testability of a given design is estimated and appropriate specification transformations are defined and applied iteratively to enhance the testability of the product implementation.     

Optimizing modular product design for reconfigurable manufacturing

The problem of optimizing modular products in a reconfigurable manufacturing system is addressed. The problem is first posed as a generalized subset selection problem where the best subsets of module instances of unknown sizes are determined by minimizing an objective function that represents a trade-off between the quality loss due to modularization and the cost of reconfiguration while satisfying the problem constraints. The problem is then formulated and solved as an integer nonlinear programming problem with binary variables. The proposed method is applied to the production of a modular drive system composed of a DC motor and a ball screw. The study is a first attempt toward developing a systematic methodology for manufacturing modular products in a reconfigurable manufacturing system.     

GLOBAL: A Design for Random Testability Algorithm

1MotivationsIncreasingdensityofVLSIchipsmakesthecostoftestingveryexpensive.Designfortestabilitycantemperthisproblemdrastically.Therearetwokindsofsolutions:(i)localsolutionl3'2]withlowcomputingcomplexity,whichcannotalwaysgetsatisfactoryresults;(ii)globa.lsolutionwithprohibitivecomputingcomplekityl1'5].T.H.Chen'andM.A.Breuer[1lpresentedanILPmodeltoplacetestpointsglobally.Becauseofitscomputingcomplealty,[1lcanonlydealwithsmallormediumscalecircuits.SCOAPisusedin[1],whichisnotaveryaccuratet…