实时全息干涉计量中时问序列条纹位相的测量方法

针对实时全息干涉计量的特点，结合相移位相测量技术，提出一种利用物体本身变化产生的位相变化来实现实时全息干涉计量中时间序列条纹位相的测量方法，通过分析得到不同时刻位相变化及整个变化过程中位相累计变化的计算公式。     

实时全息干涉计量用于研究岩石材料正向受压形变

采用实时全息干涉计量摄影系统，记录岩石试件正向受压下干涉条纹的形变规律。配合声发射定位测量，可以测定岩石试件微裂纹扩展时间、位置和强度。初步的实验已经观察到干涉条纹是在空间定域的，微裂纹的扩展与局部应力的集中有关，且其延伸方向是应力场高梯度变化的方向等，这种方法的成功将为脆性材料的损伤研究提供一种可视化的研究手段。     

用投影全息干涉条纹测量物体三维面形

在以往投影测量三维面形的装置中,其产生激光干涉投影条纹的装置较大,且干涉条纹较容易受外界的影响而漂移和抖动,影响测量结果精度的提高,本文提出用离轴全息干涉条纹替代投影法的激光干涉仪投影条纹,并将其用于实际测量中,实验结果表明：该方法产生干涉条纹的装置简单,且不受外界振动的影响,光能利用率高,易于移相和解调,这使得三维形貌检测精度高、速度快、实用性更强。     

一种校正全息干涉计量中非线性相移的新方法

相移技术对实现全息干涉计量中条纹的自动分析有非常重要的作用.在理论分析的基础上,提出用非线性方差法替代傅里叶峰值探测法,即用最小方差替代寻找最小值匹配函数的方法来校正全息干涉计量中PZT装置的非线性相移.实验研究结果表明,采用上述非线性方法校正相移比线性方法校正相移的误差大大降低.     

实时全息干涉计量术的发展近况和趋势

本文综述了实时全息干涉计量术的发展近况。介绍了实时全息干涉计量术的某些新方法,新装置及其所依据的原理并论述其发展趋势。     

激光全息干涉条纹的计算机数字图像处理

本文就激光全息干涉条纹的背景噪音的消除、图像对比度增强的技术与方法 ,进行了研究与探讨 ,从而实现对全息干涉条纹进行细化 ,获得清晰的易于计算机辨读的细化条纹     

红宝石激光单脉冲全息照像出现干涉条纹的讨论

本文指出调Q红宝石激光器的单纵模选择是非常困难的。若激光器的两个相距较远的纵横同时振荡,纵虽用单脉冲一次照全息像,在其再现像上也会有干涉条纹出现。这种全息干涉条纹的出现实际上是相干长度呈现周期性的表现。只要采取相应措施保证单纵模运转,就可以消除这种现象。本文还指出提高相干度的办法。     

实时全息及其应用近况

实时全息是一种全场、无损、高精度的实时检测方法。介绍了应用这种方法应注意的若干关键技术,包括获得高衬比的干涉条纹、获得高亮度检测光场、获得无畸变的衍射图像等新技术,还介绍了实时全息在科学技术、工业、医学等方面的一些应用近况。     

一种在反射体积全息图片的拍摄中稳定干涉条纹的方法

介绍一种在反向体积全息图片的拍摄中采用单片机控制稳定干涉条纹的方法。外界扰动常造成干涉条纹的随机漂移，从而使拍摄到的反射体积全息图片质量下降。在组成迈克尔逊光路中，利用带有数字PID调节器的反馈控制系统去控制压电陶瓷PZT产生位移，补偿干涉条纹的漂移，获得了比光学双稳态调节更为稳定的干涉条纹，所拍摄全息图片的质量得到提高。     

全息位相差放大技术研究进展

位相差放大技术是提高位相分辨率和测量精度的一种手段,在干涉计量领域,可用来检测光学元件的微弱畸变和由于物场变化引起的系统位相的变化等.本文介绍了位相差放大基本原理和研究进展.     

动态全息图快速引入背景条纹技术

音叉振动镜快速引入背景条纹的动态全息图两次曝光法，适用于一次泵浦的双脉冲全息干涉计量术．其背景条纹的密度和方向具有可调性和重复性．     

计算机绘图应用于全息双光束雕刻技术

本文着重介绍计算机图象处理技术在全息双光束干涉法制备彩虹母版技术中的应用。     

一种微波相位测试的新方法

本文提出了一种微波相位测试的新方法,这种方法只需一只魔T,一只可变移相器和一只功率检测器.它具有简单、准确等优点.文章对这种测试方法与其它方法进行了比较,并且对测试精度进行了分析.实验结果与理论分析相符合.     

基于一维空间数字相关的实时相移标定方法

摘要提出一种空间相关实时相移标定方法，用于解决存在振动和空气扰动等干扰因素情况下，相移条纹图难以准确采集和相移器的非线性对相移精度的影响问题。分析了该方法的原理和使用条件，比较了与傅里叶标定方法间的异同。实验中通过对相移器不间断驱动，使存在干扰的干涉条纹相位呈单调变化，利用两幅条纹图采集存储的时间间隔插入一维空间相关计算，实时计算出所采集条纹图与参考图之间的相关系数及其与指定的相移量余弦值之差，差值最小时得到与指定相移量最接近的相移条纹图。实验结果表明，该方法适合在稀疏等间距干涉条纹下使用，实现方法简单，运算量小，实时性强，相移器的非线性对标定结果不会产生影响，即使存在一定干扰，也能准确实时标定出相移量。     

微表面形貌大视场检测相移显微干涉仪研制

基于相移干涉术,研制了立式大视场Mirau相移显微干涉仪,它包括干涉成像和照明系统、竖直方向上的压电陶瓷传感器(PZT)微位移系统、被测面的两维扫描系统、图像采集和处理系统,是无限筒长显微镜结构和Mirau干涉结构的叠加。大视场表面形貌通过多孔径扫描拼接实现。单片机串口控制电路控制电控平移台的精确位移,实现了被测面的两维扫描,最小的横向位移为0.039μm,扩展后的视场达到12.5mm×12.5mm。测量了光纤连接器端面的表面形貌,重复测量精度小于2nm。     

应用三步相移法的三维面形测量

提出一种基于三步非定步相移的三维面形测量方法。首先将投影仪投出的光栅进行预校正,保证投到参考面的条纹为标准的正弦条纹。测量时,由投影仪投影三幅等相移量的光栅到待测物体表面,CCD相机对应采集三帧变形条纹图,由相位计算模型提取相位。最后通过高度映射公式恢复待测物体的三维面形。该方法有较好的抗噪性能,在噪声较大情况下,仍能进行测量,为动态在线测量奠定了基础。模拟及初步实验均验证了该方法的可行性。     

移相器类进动现象对干涉测量的影响

压电晶体(PZT)光学移相器作为移相干涉仪(PSI)的关键部件，其移相误差直接影响被测波面的相位复原精度。分析了压电晶体移相器在移相过程中导致干涉图旋转的原因——类进动，其本质是移相器在伸长的同时其参考镜端面法线方向绕着伸长方向产生旋转。利用典型的Hariharan五步移相算法。得出了类进动现象所导致的波面相位复原误差计算公式，给出了在测试孔径上的误差分布图。对影响误差大小的主要因素如干涉条纹的宽度、旋转的角度和测试口径等进行了具体分析，由此推导出在移相干涉仪光学调整过程中控制干涉图旋转误差的准则。