基于图像识别的液晶盒厚在线测量系统

从光干涉条纹图像的CCD获取出发,进行Canny算法优化处理,并以FPGA为核心芯片设计了液晶盒厚测量系统。实验结果表明,本系统具有误差小、设备简单、操作快捷等特点,在满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,可以满足液晶显示器件生产厂家盒厚实时监控的需要。     

傅里叶分析法求Stokes矢量测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角

本文提出了一种测量扭曲向列相液晶盒盒厚与扭曲角的新方法,在液晶盒和检偏器之间放置四分之一波片,通过旋转此四分之一波片,测量各个调制点的光强,用傅里叶分析法计算线偏振光穿过液晶盒后的 stokes 矢量,从而求出液晶盒盒厚以及扭曲角.实验证明,用此方法测量盒厚比较小的液晶盒厚有较高测量精度.另外,此方法也可以应用到单偏振片反射式液晶盒盒厚和扭曲角的测量.     

彩色液晶显示器件色差补偿优化

为了改善彩色液晶显示器件的色差,提升画面品质,针对(128,192,192)灰阶图形下色差的问题,对色差产生的机理进行了分析。模拟了RGB三色像素透过率对该图形下色差的影响。通过分别调整RGB彩膜膜厚,不仅相对调整了三色像素下的液晶盒层厚,而且还调整了三色像素的透过率,改善了RGB的Gamma曲线,对色差进行了补偿优化。实验结果表明,增加G像素和减小B像素的液晶盒层厚,对色差有明显补偿改善效果;同时,当RGB膜厚保持不变时,色差与液晶层厚呈正比关系,液晶层厚每减小1%时,色差约降低0.2。当RGB三色液晶盒层厚从(3.47,3.38,3.4)μm分别调整到(3.5,3.45,3.36)μm和(3.5,3.44,3.28)μm时,(128,192,192)灰阶图形下样品色差平均值从13.8分别降低到12.8和12。通过分别调整RGB彩膜膜厚,相对调整了三色像素下的液晶层盒厚和液晶量调节,可以一定程度优化补偿色差。     

基于迈克尔逊干涉液晶双折射率的测量方法设计

为了通过实验得到向列相液晶材料的双折射率,利用迈克尔逊干涉原理设计了一种新的测量方法。在迈克尔逊干涉仪中放入楔形液晶盒,通过调节入射光的偏振方向分别实现了对寻常光和非寻常光折射率的精确测定。结果表明,该测量方法将折射率测量转换为长度的测量和干涉条纹的计数,简单易行、测量精度较高,对理论研究和实际开发液晶显示器件是非常重要的,在液晶材料和液晶器件生产中具有一定的推广价值。     

一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法

提出了一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法。根据Jones矩阵推导出了Stokes矢量与液晶盒参数的关系,其原理是通过确定经过液晶盒之后偏振光的偏振特性来求解液晶盒盒厚和扭曲角。该方法在测量一个Stokes矢量时,在液晶盒后依次放两种波片,目的是改变经过液晶盒后的光的偏振态,再置一偏振分光棱镜分开水平Ip和垂直Is线偏振分量,测得两组光强,根据公式算得该Stokes矢量,从而求解液晶盒盒厚以及扭曲角。实验中我们用该方法测量了不同盒厚、扭曲角度的TN液晶盒。实验结果证明该方法可行,结果准确,并且可以测量盒厚较小的液晶盒。最后,我们理论分析了实验误差。     

手性掺杂聚合物稳定VA液晶的光学性能

聚合物稳定VA(PSVA)液晶显示模式具有优异的光电性能。为进一步提升PSVA显示模式的透过率,在液晶中加入手性剂,形成手性掺杂聚合物稳定VA(C-PSVA)液晶显示模式。本文对C-PSVA显示模式的最优参数及实际显示效果进行研究。首先,建立模型对C-PSVA显示模式的光电特性及液晶分布进行模拟,分析了手性剂的加入对液晶排列产生的影响,对C-PSVA的显示原理进行分析。其次,研究了C-PSVA显示模式的延迟量、偏光片角度、手性剂比例对透过率提升的影响。最后,按照模拟结果配制液晶,制作C-PSVA样品,进行实际效果验证。结果表明,C-PSVA显示模拟的透过率较PSVA显示模式有明显提升,C-PSVA显示模式最佳延迟量约为460 nm,最优手性剂含量对应螺距值为4倍的盒厚。实测结果显示,与PSVA显示模式相比,C-PSVA显示模式透过率约有13%的提升。     

膜补偿超扭曲液晶显示器件参数的最佳化

本文提出了一个用于庞加莱球(Poincare (?)phere)方法最佳化超扭曲液晶显示器件参数的线性条件,我们应用这个线性条件用庞加莱球方法对膜补偿超扭曲液晶盒的参数进行了最佳化,获得了极好的补偿效果。分别对△nd=0.7,0.8,0.9,1.0μm的液晶盒进行了最佳化,得到了最佳化液晶盒参数,讨论了液晶盒厚度对显示特性的影响,将最佳化参效应用到实际液晶盒中去得列了很好的显示特性。     

新一代液晶显示--硅片上的液晶LCOS

什么是LCOS液晶显示 LCOS是硅片上的液晶（Liquid　crystal on Silicon） 的缩写。这是一种直接将液晶显示器件做到单晶硅基片上　的液晶显示器件。单晶硅基片上可以将液晶显示器件的有 源矩阵TFT及外围驱动电路和控制电路等全部制作在上 面,以此为液晶显示器件的一个基板,与另一块作为公共 极的具有透明导电层的玻璃基板共同封接成一个薄盒,灌 入液晶,如图1所示,即可制成一个硅片上的液晶显示器 件（LCOS）。 我们知道,液晶显示已经经过了TN型,STN型,TFT 型几代更新。他们都是在LCD本身上作文章。而现在的LCOS则是将LCD与集成电路结合在一起,因而对LCD来     

基于液晶光电特性的静电测量

传统静电测量仪器存在成本高、精度低及使用复杂等难题,本文提出了一种利用液晶材料的光电特性进行静电测量的简易方法。测量所使用的液晶器件采用多层基板叠加分压结构,多层叠加基板的分压作用实现了对高压的测量和连续性测量。该静电测量装置可以实现高低压测量范围在器件的不同区域上同时测量。首先介绍了实现这种方法的器件和系统,然后基于外部输入已知变化电压模拟不同带电人体,通过理论分析和实验测试实现了液晶器件的标定,最后利用人体实际测量以及施加另一组已知变化电压计算测量误差。实验数据结果表明,液晶器件的测量误差不超过9%。基本满足静电测量的便捷、稳定可靠、精度高等要求。     

一种新的优化LCD的方法

本文提出了一种改进的优化扭曲向列液晶及超扭曲向列液晶显示器件的方法.应用这种方法而制作的液晶器件优化设计系统可用来优化液晶材料及器件参数,为制作高品质液晶显示器提供帮助.这种方法提高了设计效率,降低了设计周期.