BIT智能设计技术在某导弹通用检测系统中的应用

针对某导弹通用检测系统故障检测和故障隔离困难等问题,通过对BIT智能设计技术在检测系统中的应用分析,提出了综合采用分布式BIT与集中式BIT的系统BIT智能设计实现方法;根据专家系统技术在测试领域发展趋势,将专家系统应用到智能BIT诊断中,并给出了系统故障结果分析决策方法;系统经实际使用证明,采用BIT智能设计技术满足了系统的性能监测要求,提高了系统故障检测和故障隔离智能化程度,并最终提高了系统故障检测率和故障隔离率,取得了良好的应用效果,带来巨大经济效益.     

某电子装备的机内测试系统设计

为了提高某航空电子装备的测试速度和测试的可靠性,设计了一种针对该电子装备的机内测试（BIT）系统。在系统中采用了上位机和下位机的多控制器形式,提出了基于无线通讯的数据传递方法,提出了机内测试与分布式测试的结合。该系统提高了电子装备的测试水平和测试诊断速度．也可用于大型工厂的生产监测。     

基于Modbus/TCP的配电网自动化远方终端设计

为了提高对现代雷达系统的故障诊断能力,开发了一种融合在雷达系统内部的嵌入式测试系统;系统通过在雷达内部布设测试设备,设置故障监测点和加入测试信号,对雷达各部分的工作状态、性能进行监测,用于雷达系统的性能检测和故障诊断,缩短平均维修时间（MTTR）; 硬件选用精密的测量仪器和先进的总线通讯技术保证测试精度,软件采用先进的算法,融合了加电BIT、周期BIT和维护BIT等测试手段,保证故障隔离的准确,该系统已在多种雷达系统中得到成功的应用。     

基于B/S的双CCD相机精度靶测控系统软件架构设计

上位机软件是双CCD相机精度靶测控系统中非常重要的一部分;针对精度靶测控系统软件存在后期功能拓展难、维护效率低、使用升级复杂等问题;先进行了对该类软件的调查研究,然后分析上位机测控软件功能需求,根据软件的需求分析,设计了一种基于B/S架构的精度靶测控系统上位机软件实现方案;软件架构采用了浏览器和服务器方式专有的三层结构,在中间层设计了TCP服务器,提高软件的功能拓展性,降低了实现代码的耦合性;采用了Netty通信技术框架及其非阻塞技术实现了TCP服务器底层,设计了专有的解码方法接收下位机数据及发送控制指令;通过模拟测试,能够满足下位机频繁发送数据,上位机稳定接收和可靠运行的功能需求,软件的结构设计合理,扩展性和维护性良好。     

BIT技术在运载火箭测试系统中的研究与应用

对BIT技术在运载火箭测试发射控制系统测试领域中的应用进行了研究。从BIT技术的设计原则、设计原理和工作模式等方面进行分析,设计了BIT测试流程并将其应用在运载火箭测试系统中,利用大数据降低了BIT系统虚警率,对于运载火箭测试领域提高测试可靠性,提高故障检测、故障隔离及排除效率对于火箭测发过程具有重要意义。     

基于PXI的机载面板I/O模块通用测试系统研制

针对我国机载面板I/O模块根据不同型号需设计不同测试系统这一工程实际问题,设计并开发了一种适用于多型号的机载面板I/O模块测试的通用测试系统;该系统基于PXI总线,采用89C52控制器件以完成各I/O信号测试;软件部分主要采用"自顶而下"的设计方法,按模块化、层次化、综合化的思想进行程序设计,上位机采用Visual C++,下位机采用C51编程;应用表明此系统能完成多种机载面板I/O模块的测试任务,运行稳定可靠,检测精度高,且具有一定的可扩展性.     

8G机车保护装置全模拟测试系统的研究与开发

研究了8G机车过流保护装置的动作电流值和动作时间的测试方法,并开发出了保护装置全模拟测试系统;系统采用模块化设计,利用先进的智能检测技术和微机控制技术实现了机车保护装置电流信号的模拟和动作参数测试;利用组态软件Kingview6.51编写的上位机程序实现了系统监控和数据分析等功能;基于虚拟仪器思想的设计方法有效提高了系统的灵活性,PLC的使用提高了恶劣环境中系统的可靠性,手动和自动运行模式和数据处理功能提高了工作效率;现场的实际应用表明,系统具有操作简单、测试精度高和稳定性强的优点。     

卷烟厂产品质量微机检测管理系统

利用多台单片机与上位机通讯技术,设计了卷烟厂产品质量微机检测管理系统。着重介绍了采用８０３１单片机构成的质检数据采集系统的硬件结构及多台单片机与上位机通讯软件的设计方法。     

基于BIT的PXI总线导弹测试系统设计

BIT和ATE已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径;PXI总线被广泛地应用于自动化测试领域;在资源配置、模块设计、系统设计、兼容性设计、容差设计等方面的分析基础上,该论文提出了一般性BIT和ATE设计的原则;对导弹测试发射控制系统基于BIT和ATE的PXI总线一体化设计进行了研究,给出了系统级测试结构图和电路板级测试结构图,以及软件的总体设计;该技术的应用将进一步推动导弹测试发射控制系统的智能化、通用化和小型化,从而提高导弹的整体性能.     

某型瞄准线稳定测试系统RS232串行通信的研究

某型瞄准线稳定测试系统是用于测试和检验班组武器系统、轻型低空反导转管机枪等武器系统中的光电跟踪子系统瞄准线独立性能的专用设备;介绍利用LabWindows/CVI实现上位机与下位机之间的通信,设计了瞄准线稳定测试系统,分析了下位机需要实时检测的物理量信息;为了提高系统的可视性和实现对下位机的控制,通过RS232串行通信技术向上位机传输数据;对上位机利用LabWindows/CVI的控件实现数据采集,数据显示和存储进行了研究;实验结果表明,基于LabWindows/CVI的RS232串行通信的上位机数据采集与显示系统具有可视性强、操作简单等特性。     

导弹机内测试技术的国内外发展现状

导弹武器系统的综合测试是产品研发和使用中的重要保障技术,在武器系统的全寿命周期中扮演着越来越重要的角色；机内测试技术是提高系统测试性的关键方法之一,作为一种能够在设备或系统等测试单元内部自检的技术,机内测试在导弹测试领域中被广泛使用；介绍了国内外对机内测试的基本定义、特点、作用、虚警及抑制等发展的现状,并主要聚焦于导弹武器系统中的机内测试案例；针对机内测试在导弹领域应用中存在的问题,讨论了满足未来新一代导弹测试性需求的可能途径,并对机内测试技术未来的发展趋势进行了探讨和展望。     

基于环绕BIT的通用ATS自检设计与实现

为了保证通用ATS中测试资源到通用测试接口间信号传输的可靠性以及通用测试接口上测试资源的可用性,提出了基于环绕BIT技术的ATS自检方案;该自检方案通过分析通用ATS内部各种测试资源的特性,并按照信号的特性以及自检的实际需求进行了分类,充分利用集成芯片设计了各类测试资源相应的自检电路,采用LabWindows/CVI开发了完整的自检软件,并以电源自检为例介绍软件设计;实际证明该方案可以满足通用ATS自检的需求,具有极大的实用价值.     

机载飞控计算机机内自检测方法的研究

针对国内大型民用飞机主飞行控制计算机系统复杂,计算机故障种类繁多以及故障检测困难等诸多问题,通过分析主飞行控制计算机各部件的功能及故障模式,研究飞机在执行飞行任务过程中主飞行控制系统BIT在不同阶段检测内容,对主飞行控制计算机的核心部件给出了具体BIT自检测方法以及实现自检测的相关电路;研究表明文章中给出的自检测方法能高效并准确地检测出主飞控计算机核心部件在飞控系统运行过程中出现的故障情况,进而提高了主飞控计算机的可靠性。     

On built-in test techniques in reliable computer systems

Reliability is a primary criterion in the design of computer systems both from the points of view of fault tolerance and of repair, but the major difference lies in the relative cost constraints. Built-in test (BIT) techniques exploit hardware redundancy to provide continuous on-line monitoring of computer performance. Hardware's declining cost makes these techniques attractive, especially for modular computers. For both users and designers, it is important to understand the potential effectiveness of BIT approaches in terms of cost and performance. To assure BIT effectiveness, a computer BIT approach that supports the applicable system maintenance concepts must be selected, and required integral testing resources must be identified. This paper summarises present BIT approaches, discusses systematic ways to incorporate BIT into new computer designs and describes techniques for assessing BIT effectiveness in modular digital computers.     

Application of fault modeling to continuous built-in test (c-BIT) for microwave and MMIC circuits

A simulation-before-test method has been applied to the linear and nonlinear microwave built-in test (BIT) problem. Fault simulation via a harmonic balance simulator is used to analyze and optimize BIT hardware placement based on figures of merit such as fault coverage, ambiguity size, and part isolation. Fault models for a prototype microwave mini-system were developed along with models for the BIT hardware itself. The search method developed to automate the placement of BIT hardware is an essential design-for-test tool. The techniques developed were applied to an example system and results are given.     

基于信息融合技术的装备BIT故障诊断系统应用研究

BIT就是系统、设备内部提供的检测、隔离故障的自动测试能力;传统BIT主要面向单一功能设计,不具有同时应对多信息的处理功能,面对复杂电子装备的多信息处理问题,传统BIT故障诊断能力不足,导致系统虚警率过高,测试性与故障诊断能力下降,在BIT系统中运用信息融合技术对多信息进行整合,对于提高BIT综合效能,实现快速高效的故障诊断具有重要意义;文章首先对信息融合基本原理进行了介绍,构建了基于信息融合的装备BIT故障诊断系统结构,接着对信息融合诊断系统进行了建模,并对模型中基于神经网络的BIT诊断技术、基于D—S理论的BIT决策技术的关键技术进行了研究,最后给出了故障诊断程序流程;该技术研究通用性强,适用于多种不同型号的复杂电子装备的BIT快速故障诊断。     

机械产品BIT系统的结构设计研究

研究了机械产品BIT结构设计的方法.借鉴电子产品BIT与机械设备状态监测与故障诊断系统结构设计技术,以典型传动系统为对象,在故障分析、模块划分、确定方案的基础上,分别对信息获取、信号处理、诊断决策3方面的结构设计中应考虑的问题和设计内容进行了分析,给出了机械产品BIT系统的一般结构.     

Principles of Built-In-Test for Run-Time-Testability in Component-Based Software Systems

This paper examines the motivations and expectations of Built-In-Test (BIT) techniques for Run-Time-Testability (RTT) in component-based software systems. The difficulties associated with testing and integrating fully encapsulated components lead to a requirement for testing interfaces. The format of these interfaces is explored at a high level of abstraction, and some possibilities for Built-In-Test (BIT) are described. BIT is concerned with the detection of error conditions arising internally to a component, or arising from erroneous component interactions, and the propagation of these error conditions to a system component having responsibility for error handling and/or recovery. The implications for testability, reliability and maintainability are discussed, and it is concluded that BIT offers potential for improved product quality. Whilst the proposed approach is considered appropriate for a wide range of software systems, issues related to real-time systems, such as deadlock and timing constraints are of particular interest.     

Built-In Self-Test Structures

A system that includes self-test features must have facilities for generating test patterns and analyzing the resultant circuit response. This article surveys the structures that are used to implement these self-test functions. The various techniques used to convert the system bistables into test scan paths are discussed. The addition of bistables associated with the I/O bonding pads so that the pads can be accessed via a scan path (external or boundary scan path) is described. Most designs use linear-feedback shift registers for both test pattern generation and response analysis. The various linear-feedback shift register designs for pseudorandom or pseudoexhaustive input test pattern generation and for output response signature analysis are presented.