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由于半导体器件日趋复杂,介电层厚度和栅极长度继续缩小,在半导体生产过程的控制中,微电流测量更显得重要。以前认为无足轻重的电流测量和二级效应现已变为不可忽视。其中包括测量晶体管的关断电流,即栅极感应漏极漏电电流(GIDL)、漏极感应势垒下降(DIBL)和应力感应漏电电流(SILC)以及介质吸收效应等。 相似文献
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为了吸引用户,测试仪器厂家不断地提高其产品的精度、性能和使用的方便性。现在用户不仅可通过软件改变其单台仪器的功能,而且可使其在自动测试系统中,完成一系列测试任务。 由于现代通讯系统具有复杂的数字调制形式,所以要求信号发生器也能提供灵活的调制信号,现 相似文献
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Jens Medler 《安全与电磁兼容》2020,(6):35-38
判定待测设备是否符合发射限值时,必须考虑测量仪器的不确定度。基础标准CISPR 16-4-2中描述了EMI测量需要考虑的不确定度的影响。CISPR 16-4-2第2版修正案2于2018年发布,相对上一版本,新的要求随之生效。介绍了CISPR产品标准的实施情况以及重大的技术变化。 相似文献
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统计过程控制中的回归控制图技术 总被引:3,自引:0,他引:3
针对微电路生产中工艺条件的变化情况 ,首先采用最小二乘法建立回归方程 ,构成表征工艺参数变化规律的工艺模型 ,然后在此基础上建立了回归控制图 ,对工序的统计受控状态进行定量分析 相似文献
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在社会经济不断发展的背景下,长度计量仪器的应用也越发广泛,无论是在工业产业或正常生活中都起到了很重要的作用。但是长度计量仪器在使用过程中易于受到外界元素的影响,测量成果会与现实数值出现误差,这种情况的发生极大地限制了计量仪器的应用效果,也会影响测量准确度。 相似文献
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本文介绍了超声波液位计利用声呐原理,采用非接触测量方法,可测量高温,高压等密闭容器内液位高度利用“三传感器法”测量超声脉冲的往返时间,从而直接获取液位高度,而与超声波在液体介质中的传播速度无关。 相似文献
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制造市场的激烈竞争要求制造业开发一种保证产品质量的过程控制 ,而不是依靠常规检测来找出造成重大经济损失的废品。在产品生产过程的研究中 ,文中采用连续校准的方法 ,给出确定和控制测量误差的过程测试保证方法。这个方法的应用和产品统计过程控制 (SPC)共同确定了产品的结果 ,即当在过程控制的测量中确定了有关测量误差后 ,相应的产品测试结果误差也就确定了 ,从而极大地减少或免去进一步的检测 相似文献
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测控专业实践能力培养与训练体系建设 总被引:5,自引:0,他引:5
我院的测控专业在实践教学形式、内容和实践平台建设等方面进行了一系列探索和实践。本文介绍了体现实践内容一体化设置原则的多层次实践教学体系,给出了课程设计、实习、毕业设计的内容及其相互关系。笔者还介绍了可以服务于测控专业多种实践教学的实践平台的组成和结构。 相似文献
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本文介绍了虚拟仪器.分布式测试系统以及分布式虚拟仪器测试系统的概念,讨论了基于以太网的分布式虚拟仪器的设计思路,从网络基础、通信结构、软件系统等方面探讨其实现方法,并预测分布式虚拟仪器的发展方向。 相似文献