一种flash存储器的灵敏放大器设计

提出一种新型高速低工作电压的嵌入式flash灵敏放大器,该灵敏放大器由一个新型的位线稳压器和一个折叠共射-共基放大电路组成.基于0.13μm标准CMOS单元库的仿真结果表明,该灵敏放大器在-40℃～150℃的温度范围内有快速的读取速度,在最差工作环境下读取时间为17ns,最佳工作环境下为10ns,常温1.2V条件下的读取时间为12.5ns.     

一种用于OTP存储器的灵敏放大器设计

设计了一种应用于反熔丝OTP存储器的灵敏放大器电路,该电路采用电压型灵敏放大,通过严格的读控制时序,该灵敏放大器能够准确无误地读出并锁存反熔丝存储单元的存储状态。电路结构简单、功耗低、电阻识别精度高、抗干扰能力强。仿真验证表明,在典型条件下,整个灵敏放大阶段仅需要8 ns,且满足在不同工作电压及温度条件下的工作需求。     

相变存储器中灵敏放大器的设计

设计了一种用于相变存储器(PCRAM)的全对称差分灵敏放大器电路,该电路采用预充电技术、限幅电路和防抖动电阻,具有抗干扰能力强、灵活性好、系统性失配小等优点.基于0.13μm CMOS工艺,设计了一个8 Mb的PCRAM测试芯片,并进行了流片.测试结果表明,设计的电路在读周期为2μs时能达到很好的读出效果.     

一种高速CMOS SRAM读出灵敏放大器的设计

提出了一种ＣＭＯＳ ＳＲＡＭ读出灵敏放大器的新结构。该放大器同传统的ＰＭＯＳ电流镜放大器和ＰＭＯＳ交叉耦合放大器相比，具有速度快、增益大、功耗小等特点，可广泛应用于ＳＲＡＭ的设计中。最后，用ＨＳＰＩＣＥ的仿真结果证明了该设计的正确性及其优点。     

基于SRAM高速灵敏放大器的分析与设计

在SOC系统级芯片中,存储器占有很重要的地位。随着电路频率的提高,存储器的读写操作速度也要求相应的加快。SRAM中的灵敏放大器通过检测位线上的微小变化并放大到较大的信号摆幅以减少延时,降低功耗。本文提出了一种两级串联结构的SRAM高性能灵敏放大器的设计方法,降低了对信号的反应时间,提高了抗干扰能力,适应高频电路的读写操作。     

一种新型灵敏放大器的设计

文章分析了基本锁存器型灵敏放大器结构,总结了其优缺点,在此基础上设计出一种高速低功耗的SRAM灵敏放大器,在输入差分信号建立之后,读出放大时间在最坏情况下需0.5ns。利用两级敏感放大器的层次式结构,一方面使第一级放大的信号成为真正的数字信号,另一方面增加了电路的驱动能力。     

应用于STT-MRAM存储器的高可靠灵敏放大器设计

自旋转移矩磁性随机存储器（STT-MRAM）以其非易失性、速度快、数据保持时间长等优势被认为是最有潜力的新型存储技术之一。然而,由于磁性隧道结（MTJ）的温度相关性,其隧穿磁阻率（TMR）在高温下会变低,对高可靠灵敏放大器的设计提出了更高的要求。基于2T-2MTJ存储单元,设计了一款可以工作在宽温度范围内的高灵敏度放大器。在-40～125℃的温度范围内,该灵敏放大器在TMR为50%时仍具有较高的灵敏度,保证了STT-MRAM的读可靠性。     

一种高速自控预充电灵敏放大器的设计

提出了一种用于非挥发性存储器的新型电压灵敏放大器.该电路采用一种可以自动关断、电流可控的预充电路,可以有效消除由于存储容量变大带来的巨大位线寄生电容的影响,有效提高了灵敏放大器的读取速度.经验证,该结构具有较快的读取速度,在3.3 V工作电压下,电路读取时间为11 ns.     

一种快速、低压的电流灵敏放大器的设计

提出了一种快速和低工作电压的非挥发性存储器的电流灵敏放大器。该电路采用自控恒流预充电路提高灵敏放大器的放大速度。TSMC的0．18μm模型库的HSPICE仿真结果表明，电路在-40℃～125℃范围内有快速的读取速度，在1V工作电压和室温下，电路的读取时间是33ns。     

一种新型深亚微米电流灵敏放大器的设计

快速读取的灵敏放大器对于现代便携式电子设备极其重要.对此,设计出一种具有较快读取速度的新型电流灵敏放大器.这种灵敏放大器采用改进了的预充电电路,可以在预充电期间维持较大的预充电电流,并且采用两级放大电路对信号进行放大,使放大器的读取速度得到显著提高.采用上海宏力0.18 μm工艺在HSpice下进行仿真,结果表明:在1.8 V工作电压和室温条件下,放大器的读取时间仅为13 ns.     

一种高可靠电流灵敏放大器设计

提出了一种带反馈放大器的电流灵敏放大器 ,将用于放大的 NMOS管同时作为位线多路选择器( MU X) ,与一般的电流灵敏放大器相比 ,延迟时间更短 ,而且更适于低电源电压工作。同时分析了阈值电压失配对电流灵敏放大器的影响 ,结果表明 ,失配不仅可能增大灵敏放大器时延 ,甚至造成误放大 ;带反馈放大器的电流灵敏放大器能够有效地抑制阈值失配的影响 ,其性能和可靠性良好。     

容量可变的嵌入式同步SRAM电路的设计与实现

提出了一种容量可变的嵌入式同步ＳＲＡＭ。通过采用存储阵列的分块,敏感放大器的分级等技术,对电路的结构进行了优化。着重讨论了存储阵列的分块原则,分析了分块的字长,字数对电路的面积,速度,功耗等因素的影响。     

具有低失调电压的新型灵敏放大器设计

由于器件尺寸越来越小,器件之间的失配越来越严重,由器件失配引起的失调电压对灵敏放大器性能的影响越来越大。针对此情况,根据灵敏放大器的工作原理,提出了一种具有失调电压自调整的灵敏放大器,通过增加校准支路来平衡灵敏放大器两边的放电速度,从而降低失调电压,减小其对灵敏放大器性能的影响。基于SMIC 65 nm CMOS工艺的后仿真结果显示,在电源电压1.2 V、TT工艺角、室温条件下,相比于传统的灵敏放大器,该新型灵敏放大器的失调电压的标准偏差降低了61.9%,SRAM的读关键路径延迟降低了25%。     

一种4 kb铁电存储器的设计

以清华大学微电子所的铁电存储器工艺为基础,设计了一个规模为4kb(512×8位)的铁电存储器,包括存储阵列、灵敏放大器、字线位线译码、驱动脉冲产生等模块。设计中,采用新开发的铁电电容模型,文中重点介绍了与传统DRAM、SRAM等存储单元完全不同的铁电存储单元的设计方法。仿真结果表明,铁电存储器在5V工作电压下工作周期为120ns。     

SOI SRAM灵敏放大器中动态体放电技术研究

在SOI SRAM锁存器型灵敏放大器中,设计了一对小的下拉管,用来动态地释放交叉耦合反相器中N管上的体电荷。这种动态体放电的方法有效地解决了部分耗尽SOI CMOS器件体电位不匹配的问题,得到了可重复性低阈值电压,提高了SRAM的读取速度。     

基于DSP的高速外扩存储器的设计

介绍一种能与DSP速度相匹配的外扩高速存储器的设计,外扩存储器按地址分为2个模块:一个是SRAM模块,另外一个是FLASH模块,一个作为数据存储器,另一个作为地址存储器。采用IS61LV25616作为SRAM,这种存储芯片的存取时间快且功耗低,非常适合与高速的DSP配合使用;FLASH采用的是三星公司生产的存储器K9F1G08。各个模块从元器件的选择、硬件实现方面介绍了存储器的实现过程。在FLASH模块中还介绍了K9F1G08写操作流程,并简单描述了DSP的在线编程方法。该系统在现场实时采集系统中发挥了重要的作用,给后续数据的分析提供了宝贵的数据材料。     

高性能SRAM的低功耗设计

采用0.13 μm标准CMOS工艺,全定制设计实现了一款8 kB(8 k*8 bit)的高速低功耗静态随机存取存储器(SRAM).分析了影响存储器性能和功耗的原因,并在电路布局上做了改进,将两个3-8译码器进行拆分与重组,降低了互连线的延迟和耦合作用;同时,对灵敏放大器也做了改进.版图后仿真表明,在电源电压为1.2 V、温度为25 ℃的典型条件下,读1延时为766.37 ps,最大功耗为11.29 mW,功耗延时积PDP为8.65 pJ,实现了很好的性能.