基于板级电路加速退化数据的可靠性分析

基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验．监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。     

基于加速退化试验数据的可靠性分析

本文研究了基于加速退化试验数据的可靠性评估技术,给出了加速退化方程和加速退化因子的定义并结合实例研究了加速退化失效模型的可靠性统计推断方法.在工程问题中使用加速退化试验将更能节省时间和费用.     

基于加速性能退化试验的板级可靠性评估

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。     

基于加速退化数据的BS分布的统计推断

BS分布是可靠性分析中的一个重要的失效分布模型,它可以用于很多产品的退化失效分析中。对基于加速退化试验数据的BS分布的统计推断方法进行了研究,给出了BS模型的加速退化方程及其适用性。     

基于加速因子不变原则的加速退化数据分析方法

加速退化试验技术已经成为评估退化失效型产品可靠性的高效手段,然而,目前对加速退化数据分析时过多依据主观经验,容易造成可靠性评估结果不准.本文提出了基于加速因子不变原则较为客观分析加速退化数据的一种方法.首先,根据加速因子不变原则推导退化模型各参数在加速退化试验中应该满足的变化规律;然后,利用与加速应力无关的参数等式辨识各加应力水平下的加速退化数据是否有效,核心是构建t统计量检验参数估值是否满足等式关系;接下来,确定与加速应力相关的参数从而实现加速退化建模;最后,利用有效的加速退化数据估计出模型参数值,外推出产品在常规应力下的可靠度.以逆高斯退化模型为例对所提方法进行了具体阐述.仿真试验和实例应用表明,本文研究为基于加速退化数据的可靠性评估提供一种更客观、合理的技术途径.     

基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究

为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。     

基于加速退化的电子设备可靠性分析

提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题。在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题。最后,给出了计算实例。     

基于加速退化试验的航天液体摆可靠性研究

随着国防装备的快速发展,对型号的可靠性和寿命提出了更高的要求。为满足型号的高可靠、长寿命要求,可靠性试验成为目前研究的重点。以火箭发射平台所用的液体摆水平传感器为研究对象,分析液体摆在环境温度应力作用下的失效原因;选择适用的加速退化模型,建立一种基于加速性能退化的可靠性模型,并通过试验评估进行论证。     

温度应力下基于步进加速退化试验的电子器件寿命预测

为实现高可靠性长寿命电子器件的寿命预测,根据Arrhenius模型,结合产品的线性退化轨迹模型,对于温度应力下性能退化性步进加速寿命试验,提出一种不同温度应力下时间折算方法,并且推导了它们之间的变化计算公式。在四种不同的温度下,对某型号集成运放进行步进加速试验,并利用此方法处理数据。结果表明,样品的伪寿命符合对数正态分布,其加速模型符合Arrhenius加速方程,据此可以求出样品中位寿命,实现寿命预测。     

基于最小分类错误准则的判别学习方法

介绍了一种近年来正被广泛重视的模式识别方法——基于最小分类错误准则的判别学习方法，讨论了该方法的基本原理及其可能的应用领域。     

最小误码率准则盲源分离算法

针对通信混合信号的盲分离问题,结合通信系统中的误码率性能指标,本文提出一种基于最小误码率准则的盲源分离算法。本算法基本原理是,将推导的最小误码率准则结合最大似然原则建立盲源分离代价函数,形成一种最小误码率约束的代价函数,接着借助于自然梯度下降搜索,最小化代价函数实现盲源分离。仿真实验分析表明提出的最小误码率约束代价函数得到的盲源分离算法,比原有的最大似然原则代价函数得到的盲源分离算法,具有更好的收敛性能和分离精度。      

基于Matlab的序加试验数据的改进处理方法

利用Matlab编程工具,提出温度作为加速应力的序加试验数据的改进处理方法.改进后的方法采用序进温度应力加速样品老化,基于参数退化数据提取失效激活能和寿命外推所需要的参数,无需待样品完全丧失功能即可停止试验,从而提高试验效率.试验数据处理结果表明,新方法得到的样品平均寿命与多年来统计的现场数据一致,验证了该方法的正确性.通过与原方法进行比较,验证了新方法具有简便、高效的特点.     

基于平均寿命MSE的步进应力加速退化试验优化设计

步进应力加速退化试验常应用于高可靠性、长寿命产品的可靠性评估。为了更加准确的评估产品的可靠性,论文针对退化过程服从Wiener过程的退化型产品,提出了步进应力加速退化试验优化设计建模与分析方法。该方法在试验总费用约束下,利用蒙特卡洛仿真估计产品平均寿命的均方误差(MSE),并通过最小化MSE,确定最优的步进应力加速退化试验应力水平、样品数、参数测量间隔及测量次数等。最后,以某磁性产品为例,对该方法的有效性进行实例验证。     

基于LSM的红外LED加速寿命试验数据的统计分析

利用最小二乘法(LSM)完成了红外发光二极管(LED)恒定与步进应力加速寿命试验数据的统计分析,并自行开发了可视界面和通用性强的寿命预测软件.数值结果证实了红外LED的寿命服从对数正态分布以及加速寿命方程完全符合逆幂定律,并精确地计算出预测该器件寿命所用到的关键性参数,从而使其在很短的时间(1000h)内估算寿命成为可能.     

一种基于振动应力变换的加速试验方法研究

随着电子元器件寿命的延长,电子设备的寿命也越来越长.为了适应高可靠产品的要求,评估、鉴定验收电子设备的可靠性水平时.越来越多地应用加速试验.介绍一种应用改变振动应力的方法来加速整个试验过程.数据的统计和分析方法参照了GJB 150A.16A-2009的规定.在此标准中,不同振动环境的疲劳等价关系可以通过公式进行等价转换,可以确定所累计的各种振动环境产生的振动疲劳损伤和振动耐久试验的加速试验量值.在实验室条件下,该方法可以方便地、可操作地评价出电子产品的可靠性水平.