边界扫描在带DSP芯片数字电路板测试中的应用

为了解决带DSP（数字信号处理器）芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试难题,采用了边界扫描测试技术与传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对一块带有DSP芯片数字电路板中的非边界扫描器件进行了功能测试。测试结果表明,该测试方法能够对这部分器件进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离到芯片。充分说明这种应用边界扫描技术与传统测试方法相结合的功能测试方法能够有效地解决带DSP芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试问题。     

边界扫描测试的原理及应用设计

文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态 ,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波形。利用JTAG接口可以方便地进行复杂IC芯片连接的故障定位 ,灵活控制IC芯片进入特定的功能模式等。     

基于JTAG标准的电流模A/D转换器可测试性设计

边界扫描技术是一种重要的可测试性设计（DFT）技术，该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障，还可以测试芯片的逻辑功能。JTAG标准是该技术的相关协议。以JTAG标准为基础，结合一款新型电流模A／D转换器的测试需求，提出了一种基于JTAG标准的扫描测试结构，完成对电流模A／D转换器的参数测试。     

一款百万门缀SOC芯片的可测性设到

本文介绍了一款基于65nm工艺的数字处理芯片的可测性设计,采用了边界扫描测试,存储器内建自测试和内部扫描测试技术。这些测试技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案,实验结果表明该设计的测试覆盖率符合工程应用要求。     

混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计（DFT）技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。     

边界扫描测试技术的原理及其应用

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149．1—1990标准以后，边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术，不仅能测试集成电路芯片输入／输出管脚的状态，而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100％的故障覆盖率，且能实现高精度的故障定位。同时，大大减少了产品的测试时间，缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点，而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构，讨论了边界扫描技术的具体应用。     

应用于FPGA芯片的边界扫描电路

针对在FPGA芯片中的应用特点，设计了一种边界扫描电路，应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现，兼顾芯片功能的测试；同时，加入了器件编程功能。在电路设计中采用单触发器链寄存器技术，节省芯片面积。版图设计采用0．6μm标准CMOS工艺，并实际嵌入FPGA芯片中进行流片。该电路可实现测试、编程功能，并符合IEEE1149．1边界扫描标准的规定，测试结果达到设计要求。     

基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

９０年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革，边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术，介绍一个基于边界扫描技术的ＶＬＳＩ芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。     

VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理.实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法.该故障诊断策略通过两块xc9572 pc84芯片互连PCB板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性.     

板上驱动封装LED的电源IC失效分析

通过基础电性测试确认了板上驱动（DOB）封装LED光源的失效现象,通过X射线无损探测内部的结构,得到了基本电路结构原理图。分别对LED光源电路上的各个分立部分做示波器测试,确认了失效部位为电源IC。通过物理开封并结合扫描电子显微镜（SEM）、聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）和能谱仪（EDS）测试,分析出该LED光源亮度下降的根本原因是电源IC异常。而该电源IC失效的原因为Fe元素残留与污染引发蚀刻异常,含Fe元素异物镶嵌在芯片内部,导致芯片内部蚀刻线路异常,造成内部功能单元失效,最终使IC功能偏离设计,局部或全部失效。     

虚拟仪器与传统ATE联合测试技术研究

虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用。传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要。文章介绍了一种利用虚拟仪器技术与传统IC测试系统结合的测试方案。该联合测试系统把传统测试系统、数据采集卡和分立仪器通过LabVIEW程序联合在一起。系统组成包括硬件和软件两部分,其中硬件部分由ATE系统、测试PC和示波器组成,软件使用LabVIEW程序编写,完成仪器控制、数据采集和报表生成等功能。该系统已完成了某型号数模混合电路的测试。     

一种无线局域网主动安全分析系统设计

无线局域网安全涉及因素众多,传统的基于入侵检测的被动安全分析系统,体系结构复杂、检测精度低。基于协议分析理论的主动安全分析方法,测试目标明确、可预测性强。脚本语言效率高,灵活性、可扩展性强,易于配置。本文有机地结合了两者的特点,设计出了一种基于Tcl脚本的WLAN主动安全分析系统,系统采用模块化设计,层次结构清晰,具备测试目的明确,可预测性强,系统配置灵活。针对安全实例,构造并执行了测试脚本,结果表明,系统能有效检测出无线局域网的安全问题。     

基于FPGA的实验室常用芯片测试仪

针对电子技术实验无法进行多芯片同时测试的问题,提出了一种基于FPGA和上下位机联动配置技术的智能式多芯片测试方案.该方案实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上多个芯片同时测试的功能.介绍了Verilog硬件描述语言编程下载和上位机控制方法与实现技术,有效解决了实验室常用芯片中不同类型芯片电源管脚上电的难题,利用FPGA器件实现了低功耗和系统可再编程升级,对于提高高校电子技术基础实验的水平和效率具有重要的实用价值.     

一种用perl编写FPGA内建测试向量的方法

随着IC技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,其相应的测试技术也成为了一个重要的研究方向。对资源丰富的FPGA芯片来说,编写合适的内建测试向量显得尤为重要。介绍了用perl语言编写基于XDL语言测试向量的方法。在对FPGA芯片进行测试设计时,由于软件本身的编辑和约束功能有局限性,其设计效率和便利性不足,并且在某些情况下不能达到设计者对芯片内部资源使用和连线通路的特殊设计要求,因此可使用该研究的XDL编辑方法对设计文件进行高效、高自由度的约束和编辑,从而达到较高的测试覆盖率和较好的测试效率。     

基于NS-2的卫星网络仿真方法的研究

网络仿真器NS-2在卫星网络研究中得到越来越多的应用,但NS-2中基本的卫星网络仿真模块难以满足实际复杂场景的仿真要求。在分析卫星网络仿真原理的基础上,提出了-种卫星网络仿真模块的扩展方法。该方法深入NS-2仿真器内核,用C＋＋语言设计了新型空间通信结点、链路以及空间几何特性仿真模块,用TcL／Tk语言设计了新型空间通信结点的仿真配置接口。仿真实验表明,对卫星网络结点和链路仿真模块的扩展方法是可行的和有效的。     

基于虚拟仪器数控四声道音频处理器测试系统

文章介绍了基于虚拟仪器技术的数控四声道音频处理器自动化测试系统。音频处理器电路是电子消费产品中常用的电路,以PC机、NI公司的动态信号采集卡PCI-4474、高速信号输出卡PCI-6371、分选机JS-200为硬件基础,以图形化编程语言LabVIEW8．2为软件开发环境,开发音频处理器的自动化测试系统,实现音频信号的发生、采集、处理与分析等功能,有效地降低了测试成本及提高了测试灵活性。     

用代码分析技术对ATE应用程序的自动分析

在不少过程化的IC ATE测试应用程序中,测试的数据条件往往与测试算法紧密耦合,使得程序平台转换的工作严重依赖人工的阅读理解.文中提出了一种新途径,将软件反向工程领域中基于概念的源代码分析技术引入到测试程序的转换工作中,对于某种过程化C语言测试程序,在一定程度上实现测试条件等信息的自动提取.     

VLSI老化筛选试验技术的挑战

通过对集成电路老化试验技术的研究,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段。但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术问题,从VLSI产品质量和可靠性保障的角度出发,急需制定可操作的VLSI老化试验技术规范。     

基于随机逻辑准数字化DAC的PLD实现

给出了一种基于随机逻辑的准数字化数模转换电路的PLD实现方法,即将绝大部分器件在PLD中实现,外部只有极少的模拟元件.介绍了设计原理,给出了仿真分析和硬件测试的结果.由于用硬件描述语言(HDL)来实现DAC功能,所实现的电路与集成电路制造工艺无关,可以方便地移植到其他设计中去,实现PLD系统设计单片化.