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许平平 《电子产品可靠性与环境试验》1995,(4):14-20
随着集成电路制造技术的日益更新,对失效分析技术也提出了日益严峻的挑战,本文结合国外公司失效分析技术水平和华晶公司的实际情况介绍了集成电路的失效分析步骤,技术和方法,并列举了在“七五”引进工程国家验收产品10K2μmCMOS门阵电路和3μmAl栅产品CD9302LN研制过程中的应用实例。 相似文献
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本文首先讲述了何谓专用集成电路及其所包含的电路类别,然后介绍了专用集成电路的特点、发展现状及发展趋势,最后分类介绍了门阵、标准单元及可编逻辑器件的情况。 相似文献