X射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法

本文在简单综述测定材料热膨胀的各种方法与技术的基础上着重谈本文作者建立的Ｘ射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法并导出了新方法的测量误差极限的表示式。     

粉末多晶X射线衍射积分强度公式的研究

分析了粉末多晶X衍射积分强度公式常见推导方式中存在的问题 ,即近似条件不明确 ,物理图象欠清楚。采用本文总结的正空间———倒空间———正空间分段分析方法 ,提出了一个物理图象清晰的新的推导方式 ,最后同样得到粉末多晶X射线衍射积分强度公式     

粉末多晶X射线衍射积分强度公式的研究

分析了粉末多晶X衍射积分强度公式常见方式中存在的问题，即近似条件不明确，物理图象欠清楚。采用本总结的正空间－－倒空间－－正空间分段分析方法，提出了一个物理图象清晰的新的方式，最后同样得到粉末多晶X射线衍射积分强度公式。     

HoNiSn的X射线粉末衍射数据

给出指标化的ＨｏＮｉＳｎ相的Ｘ射线粉末衍射数据。该化事物属正交晶系，ａ＝７．０６５８（６）Ａ，ｂ＝７．６４５５（２）Ａ，ｃ＝４．４３９６（１）Ａ。每个晶胞有４个化合式量，空间群为Ｐｎａ２１。     

用x射线粉末衍射仪测定晶体热膨胀新技术的鉴测结果

我们用飞利浦ＰＷ１５３０ＱＳ型标准ＬｉＦ单晶来检测鉴定刘奉朝所述的用ｘ射线粉末衍射仪温室晶体材料热膨胀的新技术，获得ＬｉＦ在不同温区的线性热膨胀系数。这些结果跟有关文献用传统技术所得的结果相符，跟刘奉朝先前的报道一致。这些结果表明新技术比传统技术先进。     

人体胆结石的X射线衍射分析

本文用 X 射线衍射法对人体胆结石的成分进行了分析研究,并结合电感耦合等离子体(ICP)光谱分析数据及红外光谱进行了分类鉴定,为确定胆结石的成分及类型提供了快速、简便的方法.     

粉末X射线衍射技术在实验教学中的应用

粉末X射线衍射（powder X—ray diffraction,XRD）是一种应用广泛的无损分析测试技术。在实验教学中,通过XRD对样品进行物相分析,使学生了解粉末X射线衍射仪的基本构造和原理,掌握物相分析的方法,有益于激发学生对科研的兴趣和培养他们的科学思维能力。     

GaN外延膜厚度的X射线双晶衍射测量

提出了一种利用X射线双晶衍射测量GaN厚度的新方法. 该方法采用GaN积分强度和衬底积分强度的比值与样品厚度的关系来测量GaN外延膜厚度, 此比值与GaN样品厚度在t <2 μm为线性关系. 该方法消除了因GaN吸收造成的影响, 比单纯用GaN积分强度与样品厚度的关系推算GaN外延膜厚度精度更高, 更方便可靠.     

生物膜样品X射线小角衍射狭缝畸变效应的消除

小角衍射仪的狭缝效应造成衍射图象的强度畸变，从而使后续的结构计算更加困难。 为此，对小角衍射仪的狭缝系统作了改进，并采用位置灵敏探测技术，使得用一般功率的Ｘ光 机，即可对部分有序的生物膜长周期样品获得基本无狭缝效应的衍射图象。同时可比一般点状 聚焦照相技术的测量时间缩短。用这一技术获得了蟾蜍坐骨神经髓鞘膜、鼠肌腱等的衍射图。     

新稀土金属间化合物晶体结构及高温晶格热膨胀性能研究

[目的]研究稀土-过渡族金属合金体系中的新稀土金属间化合物,挖掘稀土合金与化合物的新应用。[方法]利用扫描电子显微镜和能谱仪分析合金样品及其组成物相的成分,采用X射线粉末衍射技术研究和测定新金属间化合物的晶体结构及高温晶格热膨胀性能,并对所研究的新金属间化合物的高温热膨胀性能进行总结分析。[结果]不同的合金元素可以形成结构类型相同的晶体结构,得到了部分新金属间化合物的晶格热膨胀系数,这些新稀土金属间化合物的平均晶格热膨胀系数在10~(-6)到10~(-5)数量级之间,它们的平均单胞体积热膨胀系数也在同一数量级。[结论]化学性质相近的合金元素可以相互替代形成同构型金属间化合物。利用X射线粉末衍射同构法可测定新化合物的晶体结构,该法适用于解析二元、三元乃至多元新化合物的晶体结构。所研究的新稀土金属间化合物的热膨胀系数分别满足其各自所属晶系的热膨胀关系。     

一种负热膨胀性材料的物相结构分析

用高温固相反应法制备了一种负热膨胀性材料 ,经X射线衍射分析证明为单一物相ZrW2 O8,进而确定了ZrW2 O8为简单立方晶系 .精化的晶胞参数a =0 .92 2 0 0nm ,计算了单位晶胞中含有的ZrW2 O8分子数目Z =4以及平均晶粒尺寸D =79nm、单位晶胞体积V =0 .78378nm3和比表面积S =1.4 9× 10 5cm2 / g等结构参数     

多晶体X射线分析实验中的误差分析与外推法

分析多晶体的X射线分析实验中的主要误差来源与消除误差的办法,讨论外推法在该实验中的局限性.     

新金属间化合物YAl0.27Ge2热膨胀特征的研究

用高温X射线粉末衍射技术在298K~773K的温度范围内研究了新金属间化合物YAl0.27Ge2的热膨胀特征,测定了化合物的相关平均热膨胀系数.数据表明,该化合物的热膨胀特征是各向异性的.     

负热膨胀材料研究进展

概述负热膨胀材料的发展历程及近年的主要研究成果,介绍负热膨胀的微观机理,分析几种典型负热膨胀材料的特点,展望新型锰氮化物负热膨胀材料的应用前景,探讨负热膨胀材料研究所面临的问题。     

几何形体参量与材料二者的热膨胀系数关系

针对影响机械精度的材料形体因素，对典型件的几何形体参数热膨胀系数同零件体膨胀系数之间的关系进行了理论探讨，推导了一般零几何形体参数热膨胀系数同零件体膨胀系数之间的关系式。试验表明，典型零件的热膨胀值同零件形体参数有着综合相关性。     

铝合金阳极氧化薄膜热膨胀性能测试分析

介绍两种利用Ｘ射线测试铝合金阳极氧化薄膜热膨胀系数的原理和方法（阳极氧化薄膜通常由非晶态的Ａｌ２Ｏ３及部分晶态Ａｌ２Ｏ３组成）．一种方法为将氧化膜制成粉末,利用晶态Ａｌ２Ｏ３中衍射晶面的面间距和温度之间的线性关系导出Ａｌ２Ｏ３的热膨胀系数;另一种方法为测出一定厚度的整体样品（氧化膜和基体完整结合）中氧化膜中存在的热应力,利用相应的公式导出氧化膜的热膨胀系数．对两种方法得到的数值差异进行了分析．     

层状半导体MoSe2/WSe2热学性能参数定量分析

利用键弛豫理论与局域键平均近似方法对过渡金属MoSe₂和WSe2的热学参数进行了定量分析,建立了热膨胀系数、晶格常数、热应变分别与温度的函数关系式,揭示了层状半导体材料热学参量的温度效应物理机制,并获得了块体MoSe2和WSe2的德拜温度分别为276,260 K.实验结果表明,热膨胀系数与德拜比热成正比,与原子结合能成反比;温度高于材料的德拜温度的1/3时,晶格常数、热应变与温度呈线性关系.     

负热膨胀材料的研究与应用进展

总结近年来国内外文献,介绍了负热膨胀材料的定义、分类标准,归纳了具有代表性的负热膨胀材料的几大系列,以ZrW2O8为例介绍了负热膨胀材料的几种常用的合成方法以及影响热膨胀系数的因素, 指出了负热膨胀材料潜在的应用领域,并对负热膨胀材料的发展趋势和应用前景进行了预测.     

CsNiCl_3的热膨胀分析

本文使用哈密顿矩阵，计算出ＣｓＮｉＣｌ３的能级和ｇ因子随温度的变化，分析出Ｎｉ２＋－Ｃｌ－键长从５Ｋ～３００Ｋ的热膨胀，得到线性热膨胀为：δＲ＝Ｒ（３００Ｋ）－Ｒ（５Ｋ）＝２×１０－２和线性热膨胀系数：α＝１ＲｄＲｄＴ＝２．７３×１０－５Ｋ－１．