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可靠性预计及其发展趋向 总被引:1,自引:0,他引:1
可靠性预计方法作为设计手段 ,为设计提供决策依据。但是 ,随着科技的进步和电子元器件设计制造工艺水平的提高 ,电子元器件的种类和可靠性水平迅速提高。分析了传统可靠性预计方法所面临的问题 ,指出了可靠性预计的发展趋向。 相似文献
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电子设备的可靠性及其预计 总被引:1,自引:0,他引:1
从可靠性问题的起源着手,论述了国内外可靠性现状,以及可靠性设计,预计的概念和方法,并举例说明可靠性预计在不同工作阶段采用不同预计方法所预计的可靠性指标的差异,旨在引起工程设计师们提高可靠性意识,正确进行了可靠性设计和预计,从而实现对电子设备可靠性的定量控制,提高产品质量,为我国的政治、军事,经济及人民生命财产安全做更大贡献。 相似文献
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本文提出一种评估电子系统可靠性的新方法,该方法可以减少传统器件失效率预计方法中所存在的过分依赖现场失效数据的缺点,将失效物理可靠性评估方法和原有经验失效数据相结合进行可靠性评估,既提高了对新产品或新技术产品的设计和试验的支持,又能够保证预计结果的准确性和可信性。该方法主要适用于改进型电子设备的可靠性评估,具有使用简单,准确性高等特点,也便于在同步工程中使用。 相似文献
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行波管可靠性失效率模型的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础,根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法,参照美国军标MIL-HDBK-217E,F,结合我国具体实际,对行波管失效率的数学模型,采用数理统计回归分析后,定一得出我国行波管可靠性的水平,并用现场数据对失效模型进行验证,提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。 相似文献
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莫郁薇 《电子产品可靠性与环境试验》1995,(2):22-28
非电组件是电子设备不可缺少的组成部分,其可靠性直接影响到整机的性能、完好性及寿命,所以对电子设备进行可靠性预计时必须考虑非电组件的影响,本文介绍了三种非电阻件的可靠性预计模型,有关的现场使用数据及失效模式分布情况,为开展机电组件的可靠性预计研究提供参考。 相似文献
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本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作期失效率预计模型,经验证,预计失效率与现场失效率相吻合.通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作期失效率,尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期. 相似文献
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可靠性预计中的热电应力分析是电路可靠性设计的关键环节 总被引:3,自引:2,他引:1
丁定浩 《电子产品可靠性与环境试验》2004,(2):38-42
阐述了应力分析可靠性预计的作用与意义。说明这一方法对元器件的正确选择,电路设计中热电应力的控制和降额等可靠性设计起主导的作用。 相似文献
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应力分析法可靠性预计实践中的几点认识 总被引:1,自引:0,他引:1
李培基 《电子产品可靠性与环境试验》2001,(5):19-21
从实践的角度 ,叙述了在元器件应力分析法可靠性预计过程中所体验的一些认识。 相似文献
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介绍《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的主要内容、用途、评价及贡献,以二极管为例阐述电子元器件非工作可靠性详细预计法,并简单介绍电子元器件非工作可靠性简化预计法。 相似文献
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行波管可靠性失效率模型的研究 总被引:2,自引:1,他引:2
本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础,根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法,参照美国军标MIL-HDBK-217E,F,结合我国具体实际,对行波管失效率的数学模型,采用数理统计回归分析后,定量得出我国行波管可靠性的水平,并用现场数据对失效率模型进行验证,提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。 相似文献
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王进才 《电子产品可靠性与环境试验》2010,28(2):1-4
一种电子产品的成功研发制造,除了要考虑产品的功能性以外,产品的可靠度高低也被视为决定产品质量好坏的主要因素之一。为了探讨电子产品的可靠度水平,采用军用标准,配合可靠性软件Relex来估计其MTBF与失效率。研究结果给研制单位提供了一份有效的可靠度预计的参考报告,有助于缩短产品的研发周期。 相似文献