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以乙二胺四乙酸二钠(ethylenediamjn tetraacetic acid disodium,EDTA)为鳌合剂,在水溶液络合体系中采用电沉积法制备了CuSCN半导体薄膜,应用电子隧穿成核和表面态热激发机理以及Mott-Schottky曲线分析了沉积电位和温度对薄膜结构和半导体性质的影响.结果表明:室温下,价带电子隧穿产生的电流与表面态空穴热激发电流在同一数量级,表面态空穴热激发电流不随电位改变,价带电子隧穿电流的变化趋势反映了整体电流的变化.随着阴极电位的升高,由于价带电子的隧穿几率变化,晶粒尺寸先减小后增大;半导体空穴浓度减小,p型性质减弱.由于沉积反应受活化能控制,在高温条件下主要表现为晶粒生长,导致晶粒尺寸增大,薄膜致密度降低;同时也使半导体空穴浓度减小,p型性质减弱. 相似文献
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采用阴极电沉积法在导电玻璃基体上制备了TiO2薄膜.运用扫描电子显微镜、X-射线能量散射分析仪和X-射线衍射仪对TiO2薄膜的形貌和结构进行了分析.以N719染料敏化的TiO2薄膜为阳极,0.5 mol/L KI和0.05 mol/L I2的乙氰和乙烯碳酸酯的混合溶液为电解液,碳电极为阴极,组成太阳能电池,通过电流-电压曲线研究了太阳能电池的性能.结果表明:TiO2薄膜的晶型为锐钛矿,其晶粒d平均为28.8 nm.太阳能电池的U开路为0.513 V,J短路为22.8 A/m2,填充因子为0.392,光电转换效率为0.466%. 相似文献
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用电沉积法制得Cu_(2x)In_(2-2x)Se_2(铜铟硒)(0<x<1)薄膜 ̄[1]并用EDAX对其组成进行分析.对薄膜电极的光电化学性能、光谱响应、能隙与x的依赖关系进行了研究.借助于现场微区扫描光电流谱观察了热处理、薄膜厚度、光极化对薄膜电极的光电性能影响.研究了Pb(NO_3)_2有效的浸渍对薄膜光电性能的影响. 相似文献
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电沉积Cu2xIn2—2xSe2薄膜的光电化学研究 总被引:1,自引:0,他引:1
用电沉积法制得Cu2xIn2-2xSe2(铜铟硒)(0<x<1)薄膜^[1]并用EDAX对其组成进行分析。对薄膜电极的光电化学性能、光谱响应、能隙与x的依赖关系进行了研究。借助于现场微区扫描光电流谱观察了热处理、薄膜厚度、光极化对薄膜电极的光电性能影响。研究了Pb(NO3)2有效的浸渍对簿膜光电性能的影响。 相似文献
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电化学沉积CdSe纳晶薄膜的性能及沉积机理 总被引:1,自引:0,他引:1
电化学沉积CdSe纳晶薄膜的性能及沉积机理王维波林瑞峰林原萧绪瑞(中国科学院感光化学研究所,光电化学中心,北京100101)陈旭光杨勇(厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室,厦门361005)关键词CdSe纳晶薄膜,电化学沉积,扫描隧道显微镜... 相似文献
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Ni-W纳米晶合金电沉积工艺条件的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
纳米晶材料与常规晶体材料相比有许多优良的性能 ,已受到广泛关注。本文采用电沉积方法获得了Ni W纳米晶合金镀层。研究了镀液中钨酸钠含量、温度、pH值及电流密度对沉积速度的影响。测定了镀层的显微硬度 ,并用X -射线衍射仪对其微观结构进行了观察。结果表明 ,影响沉积速度最大的因素为pH值 ,其次是电流密度 ;镀层显微硬度最高可达 6 70 .3HV。通过正交试验得出适宜工艺条件范围为 :Na2 WO4·2H2 O 1 0~ 30g/L ,电流密度 1 0~1 5A/dm2 ,温度 6 0~ 70℃ ,pH值 6~ 7。 相似文献
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采用常压化学气相沉积方法(atmospheric pressure chemical vapor deposition,APCVD)制备了氮氧化硅(Si—O—N)薄膜,研究了影响其沉积速率和生长模式的因素。在φ(NH_3):φ(SiH_4)=20:1,基板温度为650℃的条件下,当混合气体流量小于720ml/min时,薄膜的形成主要受气体扩散过程控制;当混合气体流量大于720 ml/min时,则主要受表面气相反应过程控制;混合气体流量为720 ml/min的条件下,氮氧化硅薄膜的沉积过程主要受基板表面的气相反应过程控制,薄膜沉积厚度与沉积时间成线性关系,反应速率为常数1640 nm/min,表面活化能为283 kJ/mol。通过SEM分析发现:氮氧化硅薄膜的形成方式符合三维成核模型,即反应初期Si,N,O等原子在基板表面相遇结合在一起形成原子团,一定数量的原子团构成临界核;反应中期临界核长大为岛状结构,岛不断长大,岛与岛之间相互接合形成通道网络结构;反应后期,原子不断填补网络空洞,最后成为连续薄膜。 相似文献
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低温APCVD法制备氮化硅薄膜 总被引:7,自引:0,他引:7
本实验用常压化学气相沉积法(APCVD)在平玻璃基板上沉积了氮化硅薄膜,研究了基板温度、反应气体比例,热处理等对氮化硅薄膜制备的影响,发现在700℃以下,NH3/SiH4流量比例为15/1时制得较纯的氮化硅薄膜,比常规APCVD法制备温度低大约150℃。 相似文献
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引 言钇稳定二氧化锆 (YSZ)是制备氧化物燃料电池和氧传感器的重要材料 .电解质薄膜化是开发高输出电流密度的固体氧化物燃料电池和高灵敏度的传感器的研究方向 .电化学气相沉积 (EVD) [1~ 3] 制得的薄膜致密 ,且厚度仅 2 0~ 4 0 μm ,薄膜性能优良 ,但设备复杂 ,制备成本高 ,反应生成的氯气腐蚀性大 .激光沉积法具有设备复杂、成本高等问题 .等离子喷涂 (VPS、APS) [4 ,5] 适于大规模制膜 ,但薄膜不够致密 ,裂缝较多 .溶胶 -凝胶法 (Sol -Gel) [4 ,6 ,7] 制得的YSZ薄膜致密且薄 ,设备简单 ,但对于基片要求很严 ,… 相似文献
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掺钕钛酸铋薄膜的金属有机溶液分解法制备和性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以无机盐为原料 ,采用金属有机溶液分解法在石英衬底上制备了不同钕含量的掺钕钛酸铋 (Bi4 -xNdxTiO1 2 ,BNT)薄膜。用X射线衍射和Raman光谱研究了薄膜的相组成和结构特征 ,用原子力显微镜对薄膜表面形貌和结晶颗粒度大小进行了分析。经过光学透射谱研究得到了薄膜的光学常数。结果表明 :不同钕含量的薄膜经 70 0℃退火处理后 ,都结晶为铋系层状钙钛矿结构 ,薄膜表面平整、无裂纹和空洞 ,颗粒大小为 80~ 10 0nm。Raman光谱分析发现 :当薄膜中钕含量 (x值 )小于 1时 ,钕离子只取代钙钛矿层中A位铋离子 ;而当钕含量超过 1以后 ,Bi2O2 层中的铋离子也被部分取代。透射谱分析得到了Bi3.2 5Nd0 .75Ti3O1 2 薄膜的线性折射率、线性吸收系数和光学带隙分别为 1.92 ,1.98× 10 2cm- 1 和 3 .5 6eV。 相似文献
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用等离子化学气相沉积工艺制备Al2O3薄膜 总被引:1,自引:0,他引:1
以乙酰丙酮铝Al(acac)3为前驱体用等离子化学气相沉积工艺在玻璃、石英、Si(100)和Ni等底材上沉积出了Al2O3薄膜。所获得的沉积膜或无碳、透明、致密(平均3.8g·cm^-3),或为透明致密的硬质(硬度Hk达2370)涂层。研究了各种实验参数对沉积速率、薄膜组成及膜层硬度的影响,认为偏压是具影响的参数。 相似文献
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采用纯ZrW2O8陶瓷靶材,以脉冲激光沉积法在石英基片上沉积并退火处理后制备了ZrW2O8薄膜.利用X射线衍射仪、X射线光电子能谱 仪和扫描电子显微镜观察和确定r薄膜结构、化学组分和表面形貌,用划痕仪、表面粗糙轮廓仪测量了薄膜与基片之间的结合力和薄膜厚度.结果表明:脉冲激光沉积的薄膜为非晶态,膜层物质各元素之间的化学计量比与靶材成分一致;衬底未加热沉积的薄膜表而粗糙度较大,衬底温度为650℃ 时,薄膜表面平滑致密,粗糙度明显降低:非晶膜在1200℃密闭退火热处理3 min后淬火得到立方相ZrW2O8薄膜,退火后的薄膜品粒较大,同时 还出现一些沿晶界和晶内的裂纹缺陷.随着退火温度升高,薄膜与基片的结合力降低. 相似文献
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ZnO thin films were prepared on quartz glass substrates by different sol-gel methods using a spin-coating technique. The structural and optical properties of ZnO thin films were studied by X-ray diffraction (XRD) and transmission spectra analysis. The results show that different factors such as Zn2+ concentration, solvent, sol stabilizer, pre-heat treatment temperature, and annealing temperature have a great impact on the structural and optical properties of ZnO thin films. 相似文献
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