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通过介绍由运算放大器组成的比较器电路和差分放大电路,分析了这两款电路的工作机理,对其外围参数的配置给出了具体的计算公式,并结合这两款电路在所设计开关电源中的具体应用,详细探讨由这两款电路组成的过/欠压保护电路、浪涌电流抑制电路以及过流保护电路. 相似文献
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赵德峰 《电子材料与电子技术》2000,27(4):12-16
运算放大器实质上是一个深度负反馈的高增益直流放大器。“运算放大器”首先应用于模拟计算机领域,可以完成微分、积分、加减乘除等数学运算,所以有运算放大器之称。目前运算放大器,在测量、控制、通信、信号变换等方面获得广泛应用,尤其是仪器仪表中日益见多。 相似文献
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运算放大器在电视技术中的应用 总被引:8,自引:5,他引:3
近年来,随着集成芯片IC制造工艺的发展和电路结构的更新,高性能运算放大器得到迅速发展(例如:美国模拟器件公司ADI先后采用BIFET,CB和XFCB制造工艺,极大地提高厂高速运放的性能;电流反馈运算放大器输人级采用时极跟随电路代替了传统的电压反馈运算放大器中的长尾对管电路,大大提高了输入级的转换速率),使得运放在电视技术。通信技术、多媒体技术、精密测量、精密控制以及一般的电子电路设计等领域得到了非常广泛的应用。不同类型运算放大器的性能差别较大,例如:电路结构。封装形式、电路技术、输入特性、输出特性、工作… 相似文献
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引言
当今汽车行业,法规对安全性、动力性、舒适性、排放等提出了日益严格的要求,而这些性能又很大程度受ECU性能和质量的影响。因此在汽车中,ECU不仅数量持续上升,其功能也不断增强。在汽车中,分为单个ECU系统和多个ECU互联系统,前者如安全气囊ECU,后者如发动机管理系统(EMS)ECU。EMS涉及数千个参数和多个电子设备,而且这些参数之间存在数据共享和传递,需要通过不同的汽车总线将各个电子设备互联,以形成车载网络,并完成复杂的智能控制和故障诊断。由于ECU复杂性和功能性的不断增加,为确保最终产品质量,需要通过自动化测试手段来减少从定义、分析、设计到实现不同产品周期环节的人为失误。此外,还面临着如何在最短的开发周期内以最经济的成本将产品推向市场的挑战。 相似文献
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针对汽车侧滑量的测量,采用计量光栅位移传感器,根据莫尔条纹原理测量侧滑试验台滑板的机械位移,进而通过对光栅传感器的两相位置信号进行鉴相及四倍频,由单片机进行数据处理,锁定并显示测量过程中的侧滑量峰值,同时通过串行端口将侧滑量数据传送至上位PC机中。大大提高了测量速度、精度和重复性。 相似文献
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目前采用仿真软件来分析电路时,一般在已知电路参数的情况下求数值解,或者得到电路仿真后的动态响应波形。而在电路的分析计算中,有时往往希望得到电路中待求量的解析解,方便进一步数学推导和理论分析计算。本文利用Matlab强大的符号处理能力进行电路的符号运算,并得到电路的解析表达式,为电路分析提供了一个有效的辅助手段。 相似文献
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本文提出了一种刊用微型计算机来调试数字运算模块的方案.并就一个具体的调试实例说明整个调试和测试过程的软件及硬件设计. 相似文献
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《电子技术与软件工程》2020,(1)
本文经过理论推导,证明平衡电阻在运算放大电路的实际应用中可以消除由输入偏置电流引入的失调电压。并在Multisim仿真平台上验证这一结论,最后给出了平衡电阻在不同电路中的具体求解方法,可供电路设计人员参考。 相似文献
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本文以反相比例运算电路和单限比较器为例,分析了理想运算放大器线性区和非线性区的工作特点和分析方法,借助于仿真软件Multisim,把理想运算放大器工作在两种区域时的特点形象生动地展现给学生,有助于学生对理想运算放大器基本原理和基本概念的学习和理解. 相似文献
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黄苏平 《电子技术与软件工程》2020,(1):80-81
本文经过理论推导,证明平衡电阻在运算放大电路的实际应用中可以消除由输入偏置电流引入的失调电压。并在Multisim仿真平台上验证这一结论,最后给出了平衡电阻在不同电路中的具体求解方法,可供电路设计人员参考。 相似文献
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虚拟测试技术在继电器测试中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
文章主要介绍了以LabVIEW作为软件开发环境的虚拟测试技术 ,分别在继电器动态特性测试的应用、在数据记录与保存中的应用和在继电器寿命试验和可靠性试验中的应用。 相似文献
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针对Web应用程序防火墙(WAF)测试中的测试指标、测试流程不科学的问题,提出了一种基于iMPERVA WAF测试框架的WAF测试方法.首先根据测试框架,建立由用户机、标准靶机和测试机组成的测试环境,然后对WAF的规则经配置并通过在用户机使用OWASP标准攻击脚本对靶机进行攻击,最后对测试结果进行分析.结果表明:本方法... 相似文献
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随着半导体行业的发展,芯片的设计和功能变得越来越复杂,这样也就需要更多的测试项来筛选器件和检测功能.目前有许多方案致力于解决这一问题.本文讨论介绍了一种半导体测试行业中的快速测试方法,阐述了其概念、方案的设置、实现和操作,指出了快速测试方案的优势以及半导体测试行业对其的需求. 相似文献