X波段雷达频率综合器

论述Ｘ波段雷达频率综合器的方案、用直接合成与间接合成相结合的方法实现直接锁定Ｘ波段ＶＣＯ的设计方法及关键技术措施。并给出达到的主要技术指标、测试结果和测量方法。     

锁相环频率合成器相位噪声分析

频率合成器的相位噪声直接影响动目标雷达的改善因子。本文着重对锁相环频率合成器的相位噪声进行了较全面的分析，并对其中各组成部件的相位噪声也做了分析，分析的结果与实际测量结果基本吻合。文中最后提出了改善ＰＬＬ频率合成器相位噪声的办法。     

K波段低相位噪声频率综合器的设计与实现

采用双锁相环混频设计方案,设计了一种低相位噪声频率综合器,实现了单锁相环难以实现的低相位噪声指标。在系统理论分析的基础上,优化了电路布局,实际的电路尺寸为45.0 mm×30.0 mm×12.0 mm,实现了小型化K波段低相位噪声频率综合器。对频率综合器电路进行了测试,输出信号相位噪声为 -95 dBc/Hz @1 kHz和 -99 dBc/Hz @≥40 kHz,杂散为-72 dBc,完全满足设计指标的要求。     

基于锁相环技术的X 波段频率源的研制

介绍了一种X 波段频率源的设计方案及相关理论。采用数字锁相环内混频技术实现的该X 波段频率源具有频带宽,相位噪声低,杂散低等特点。其主要技术指标如下：输出频率范围为9.8GHz～10.8GHz,频率步进为5MHz,在偏离1KHz 处相位噪声优于-85dBc/Hz,在偏离10KHz 处相位噪声优于-88dBc/Hz,杂散抑制优于60dBc。由最后的测试结果可 知,采用该方法设计的频率源既能保证低杂散又能显著改善相位噪声水平,可广泛用于通信设备和测试系统中。     

数字锁相环频率源相位噪声分析

首先对频率源相位噪声的原理及其表征进行了简要的阐述,然后从数字锁相环频率源的分析模型出发,对其相位噪声谱密度进行了推导,同时分析了影响相位噪声的各项主要因素．最后提出了提高数字锁相环频率源相位噪声性能的一些方法。     

数字化频率综合器的相位噪声分析与估算

利用随机过程理论计算了数字化频率综合器中各个量化噪声，并在假设各等效量化噪声相互独立前提下得出了输出相位噪声值，同时给出在不同采样率和不同数字电路精度情况下输出相位噪声变化，并得出了一般性结论。     

X 波段捷变频频率综合器

在无线通信领域中, 高性能频率综合器是通信设备、雷达、电子侦察和对抗设备、精密测量仪器的核心部件。 现代通信系统对频率综合器的精度、分辨率、转换时间及频谱纯度等提出了越来越高的要求, 性能卓越的频率综合器均 通过频率合成技术来实现。以往通过锁相环来实现的频率综合器具有高精度、高稳定度、低相位噪声、低杂散等性能。 但是在跳频时间上只能做到几十甚至上百μS。这与某些雷达需要的频率综合器的捷变速度有差距。本文提出一种直接 合成方法,很好的解决了这个问题。     

一种超宽带超低相位噪声频率综合器

为了解决直接频率合成方法频带拓展困难和锁相频率合成方法相位噪声附加恶化严重的问题,设计了一种联合直接模拟频率合成和锁相频率合成的混频锁相频率综合器.该频率综合器采用梳谱发生器激励超低相位噪声的偏移信号后,再将该信号插入锁相环进行环内混频,降低鉴相器的倍频次数进而优化输出信号的相位噪声,同时解决了超宽带混频锁相环的错锁问...     

S波段频率综合技术研究

本文论述的Ｓ波段频率综合器，频率范围是２．６１￣３．９６ＧＨｚ，频率步进为２．５ＭＨｚ，相位噪声指标〈－（８８￣９３）ｄＢｃ／Ｈｚ，长期频率稳定度为１×１０＾－９／日，杂散抑制优于５５ｄＢ，谐波抑制优于５０ｄＢ，输出功率大于１４ｄＢｍ。     

数字锁相环相位噪声影响因素分析

数字锁相环作为广泛应用的一种频率合成技术,相位噪声是其关键的技术指标。介绍数字锁相环的关键组成部分,从数字锁相环的相位噪声分析模型出发,阐述各组成部分对相位噪声产生的影响,并分析各部分关键指标的选型依据,然后利用仿真软件搭建仿真模型验证分析结果。为数字锁相环的设计,提高相位噪声性能提供了参考依据。     

高抗振X波段低相噪频率合成器

介绍了一个X波段频率合成器的设计,该频率合成器通过采用混频锁相环的方式实现,本振锁相环输出8 GHz的信号,作为混频器的本振信号,混频环最终输出信号为8.5~9.0 GHz,输出静态相位噪声为-93 dBc/Hz@1 kHz offset。此外,还研制了一种小型化的隔振器来降低振动对晶振的影响,对环路也采取了相应的减振措施,提高了该合成器在振动下的相位噪声,振动环境下相位噪声为-90 dBc/Hz@1 kHz offset。     

2.30GHz—2.70GHz锁相环式频率综合技术研究

本文阐述了一个基本的Ｓ波段锁相式频率综合器，频率范围是２．３０ＧＨｚ－２．７０ＧＨｚ，频率步进为５ＭＨｚ，相位噪声指标为￡（１０ｋＨｚ）〈－９５ｄＢｃ／Ｈｚ，杂散抑制优于５０ｄ，输出功率大于１０ｄＢｍ。     

C波段小型化低相噪全相参频率综合器

提出了一种小型低相噪、低杂散的C波段全相参频率综合器设计方案。基带信号由DDS芯片产生,通过对环路滤波器和电路印制板的优化设计改善相噪和杂散性能,并与PLL输出的C波段点频信号进行上变频,得到所需信号。介绍了实现原理、相位噪声模型及设计方法。测试结果表明,在7.8GHz处,频综相位噪声≤-103dBc/Hz@100kHz,杂波抑制≤-61dBc。     

L波段全电调式频率综合器

介绍一种新型的L波段频率综合器。该综合器在电路设计,使用器件和外围设备等方面有许多的改进和更新。这些措施对提高综合器的MTBF值非常有效,并在多项工程中得到验证。结果表明其稳定可靠性已完全能满足工程需要。     

脉冲取样锁相环的相位噪声传递特性

本文阐述的是把振荡器的频率稳定问题,区分为:决定振频参量变化引起的频率变化,振荡系统中电噪声对已产生振荡信号的调制。讨论了受到电噪声调制的信号经取样保持后的变化,得到了包含这一变化的取样锁相环的闭环传递函数,揭示了取样锁相环具有对参考信号相位噪声全不通、对VCO相位噪声全通的特性。     

2.4GHz频率综合器中低杂散锁相环的设计

在带电荷泵的锁相环频率综合器中,设计低杂散锁相环的关键是减少鉴频鉴相器和电荷泵的非理想特性以及提高压控振荡器的性能.采用TSMC 0.18 μm CMOS工艺,设计了一种改进型锁相环电路.仿真结果显示,在1.8V基准电压供电时,电荷泵电流在0.3～1.6V电压范围内匹配度小于1μA,电流失配率小于0.2％,压控振荡器在中心频率2.4 GHz频偏1 MHz时的相位噪声为-124.3 dBc/Hz@1 MHz,环路参考杂散降为-60 dBm.     

锁相式频率合成器相位噪声分析与仿真

相位噪声是影响频率合成器性能的重要指标,首先分析了锁相式频率合成器各个组成部分的相位噪声,然后根据相位噪声传输函数,建立了频率合成器相位噪声的精确仿真预测模型.为了验证仿真方法的可靠性,设计了一个输出频率为2GHz的频率源,实验测得的相位噪声曲线和仿真结果非常吻合.     

基于YIG振荡器实现的X波段频率合成器

本文介绍了一种YIG(Yttrium Iron Garnet)振荡器的X波段频率合成器的设计方案，实验结果表明，该合成器性能稳定可靠。